[发明专利]一种目标跟踪方法及装置有效
申请号: | 200710303908.X | 申请日: | 2007-12-21 |
公开(公告)号: | CN101212658A | 公开(公告)日: | 2008-07-02 |
发明(设计)人: | 邓亚峰;黄英 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | H04N7/18 | 分类号: | H04N7/18;G06T7/20 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人: | 宋志强;麻海明 |
地址: | 100083北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 目标 跟踪 方法 装置 | ||
1.一种目标跟踪方法,其特征在于,该方法包括:
从当前帧采集图像中检测出各目标对象;
用各跟踪对象与检测出的各目标对象一一匹配,将与跟踪对象匹配的目标对象作为该跟踪对象的跟踪结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标对象为融合前的目标队列中的检测框,所述跟踪对象为跟踪队列中的基准框,所述用各跟踪对象与检测出的各目标对象一一匹配包括:
计算跟踪队列中各基准框与目标队列中各检测框的匹配度;
在目标队列中为每个基准框选择出匹配框组,所述匹配框组为:与该基准框的匹配度高于预先设定的第一阈值、同属于一个目标且与该基准框匹配度之和最大的一组检测框;
在目标队列中,将每个基准框的匹配框组融合为该基准框的匹配框,将所述匹配框作为该基准框的跟踪结果,删除所有与匹配框相交叠的检测框,将所述目标队列中除匹配框以外的检测框融合为非匹配框。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述为基准框选择出匹配框组包括:
为基准框选择出与该基准框匹配度大于预先设定的第一阈值的检测框;
在选择出的检测框中,将同属于一个目标的检测框分为一组;
在分组后的检测框中,选择与所述基准框匹配度之和最大的一组检测框作为所述基准框的匹配框组。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将基准框的匹配框组融合为该基准框的匹配框包括:
在基准框的匹配框组中,对所有检测框的位置进行加权平均,每个检测框的权值为该检测框与所述基准框的匹配度,将加权平均后的位置作为所述基准框的匹配框;
用所述匹配框替换所述匹配框组。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标对象为融合后的目标队列中的检测框,所述跟踪对象为跟踪队列中的基准框,所述用检测出的目标队列匹配跟踪队列包括:
计算跟踪队列中各基准框与目标队列中各检测框的匹配度;
在目标队列中为每个基准框选择出匹配框,将所述匹配框作为该基准框的跟踪结果,所述匹配框为目标队列中与该基准框的匹配度最大,且所述匹配度高于预先设定的第二阈值的检测框,将目标队列中除匹配框以外的检测框作为非匹配框。
6.根据权利要求2~5任一所述的方法,其特征在于,所述计算基准框与检测框的匹配度包括:
计算基准框与检测框的直方图匹配度和尺度位置匹配度;
将所述直方图匹配度乘以所述尺度位置匹配度作为所述基准框与所述检测框的匹配度。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述计算基准框与检测框的尺度位置匹配度包括:
计算基准框与检测框的中心距离,将所述中心距离除以两框宽度和之后作平方运算,将平方运算后结果的相反数加权,将加权后得到的数值作为第一指数;
在所述基准框与所述检测框的宽度中,取小值作为被除数取大值作为除数作相除运算,将得到的商减一后作平方运算,将平方运算后结果的相反数加权,将加权后得到的数值作为第二指数;
以欧拉常数e为底数,分别以第一指数和第二指数为指数求幂,将得到的两个幂值的乘积作为所述基准框与所述检测框的尺度位置匹配度。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述计算基准框与检测框的直方图匹配度包括:
将检测框的直方图按照与所述检测框中心的距离成反比加权;
计算所述基准框直方图与所述检测框加权后直方图的匹配度,将所述匹配度作为所述基准框与所述检测框的直方图匹配度。
9.根据权利要求2~5任一所述的方法,其特征在于,在所述用各跟踪对象与检测出的各目标对象一一匹配之后,进一步包括:根据匹配结果更新跟踪队列。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据匹配结果更新跟踪队列包括:
用目标队列中的匹配框替换跟踪队列中对应的基准框;
将所述目标队列中的非匹配框添加到跟踪队列中。
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