[发明专利]动态侦测静电保护电路结构有效

专利信息
申请号: 200710094271.8 申请日: 2007-11-23
公开(公告)号: CN101442046A 公开(公告)日: 2009-05-27
发明(设计)人: 田光春 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/60;H02H9/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁
地址: 201206上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 动态 侦测 静电 保护 电路 结构
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种静电保护电路结构,特别是涉及一种动态侦测静电保护电路结构。

背景技术

在静电泄放电路中,在金属-氧化物-半导体场效应管(MOSFET)的栅极耦合适当的偏置电压,有利于降低MOSFET管寄生三极管的触发电压;而且在多叉指型MOSFET结构中,还有利于各叉指导通的均匀性。图1、2所示电路是目前广泛使用的电阻、电容组成的动态侦测静电泄放电路。在图1所示的电路中,静电可以直接通过电阻、电容(RC)耦合一定的偏置电压到静电泄放MOSFET管的栅极。然而,静电泄放MOSFET管的栅极电容往往可能影响电阻、电容组成的侦测电路中电容值大小的设置。图2所示的电路在图1电路中插入了一级反相器,从而将电阻、电容与静电泄放MOSFET管隔离开来。而反相器的尺寸大小比静电泄放MOSFET管小很多,因此反相器的栅电容对电阻、电容组成的侦测电路中电容值大小的设置影响小得多。图2所示的电路结构,利用PMOS和NMOS的阈值电压控制对静电泄放器件ESDNMOS的栅极电容的充电或放电,从而控制静电泄放器件ESDNMOS的栅极电压,改善各叉指导通均匀性。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种动态侦测静电保护电路结构,不仅可以灵活设置静电泄放器件ESDNMOS的栅极电容的充电或放电控制电压Vref,而且对于侦测电路中电阻和电容的位置设置也可以更灵活。

为解决上述技术问题,本发明的动态侦测静电保护电路结构采用的第一种技术方案是,其包括:并联接在静电端和接地端之间的动态侦测电路、中间隔离电路、静电泄放电路;所述动态侦测电路由电阻和电容串接组成;所述中间隔离电路用于隔离动态侦测电路和静电泄放电路,并驱动静电泄放电路;所述静电泄放电路由ESD NMOS管构成;中间隔离电路的输入端与动态侦测电路电连接,其输出端与静电泄放电路的输入端电连接;其中:所述中间隔离电路由误差放大器构成,利用误差放大器的参考电压Vref来控制对静电泄放电路的栅极电容进行充电或放电;

所述误差放大器的反相输入端与动态侦测电路的电阻R和电容C的节点连接,误差放大器的正相输入端接参考电压Vref;

所述误差放大器的参考电压Vref由串接在静电端与接地端的电阻R1、齐纳二极管Zener或普通二极管Diode形成,误差放大器的正相输入端与电阻R1、齐纳二极管Zener或普通二极管Diode的节点电连接。

所述动态侦测静电保护电路结构采用的第二种技术方案,其与第一种技术方案的不同点在于:所述误差放大器的参考电压Vref由串接在静电端与接地端的电阻R1、PNP三极管或NPN三极管形成,误差放大器的正相输入端与电阻R1、PNP三极管或NPN三极管的节点电连接。

所述动态侦测静电保护电路结构采用的第三种技术方案是,其包括:并接在静电端和接地端之间的动态侦测电路、中间隔离电路、静电泄放电路;所述动态侦测电路由电阻和电容串接组成;所述中间隔离电路用于隔离动态侦测电路和静电泄放电路,并驱动静电泄放电路;所述静电泄放电路由ESD NMOS管构成;中间隔离电路的输入端与动态侦测电路电连接,其输出端与静电泄放电路的输入端电连接;其特征在于:所述中间隔离电路由误差放大器构成,利用误差放大器的参考电压Vref来控制对静电泄放电路的栅极电容进行充电或放电;

所述误差放大器的正相输入端与动态侦测电路的电阻R和电容C的节点连接,误差放大器的反相输入端接参考电压Vref;

所述误差放大器的参考电压Vref由串接在静电端与接地端的电阻R1、齐纳二极管Zener或普通二极管Diode形成,误差放大器的反相输入端与电阻R1、齐纳二极管Zener或普通二极管Diode的节点电连接。

所述动态侦测静电保护电路结构采用的第四种技术方案,其与第三种技术方案的不同点在于:所述误差放大器的参考电压Vref由串接在静电端与接地端的电阻R1、PNP三极管或NPN三极管形成,误差放大器的反相输入端与电阻R1、PNP三极管或NPN三极管的节点电连接。

由于采用上述结构,所述误差放大器不仅可以将静电泄放器件ESDNMOS与动态侦测电路隔离开,减小尺寸较大的静电泄放器件ESDNMOS的栅电容对动态侦测电路中电容值选取的影响,还利用误差放大器的参考电压Vref来控制对静电泄放器件ESDNMOS的栅极电容的充电或放电,从而控制静电泄放器件ESDNMOS的栅极电压,改善各叉指导通均匀性。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹NEC电子有限公司,未经上海华虹NEC电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710094271.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top