[发明专利]基于终端短路法的介质材料高温复介电常数测量方法无效
申请号: | 200710050351.3 | 申请日: | 2007-10-30 |
公开(公告)号: | CN101158702A | 公开(公告)日: | 2008-04-09 |
发明(设计)人: | 李恩;李仲平;聂在平;何凤梅;郭高凤;张大海;张其劭;王金明 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G01R31/00;H01P7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610054四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 终端 短路 介质 材料 高温 介电常数 测量方法 | ||
1.基于终端短路法的介质材料高温复介电常数测量方法,包括以下步骤:
步骤一、搭建测量波导尺寸及其微波损耗的系统,该测量波导尺寸及其微波损耗的系统由矢量网络分析仪(1)、耦合装置(4)、矩形测试波导(2)构成;矩形测试波导(2)由散热波导(22)、隔热波导(23)、高温波导(24)和短路板(25)顺序连接而成;矩形测试波导(2)内壁做金属化处理,所用金属的电导率为σ,磁导率为μ;耦合装置(4)与矩形测试波导(2)固定连接后形成反应式谐振腔;矢量网络分析仪(1)通过波导-同轴转换接头与耦合装置(4)相连;
步骤二、测量高温下耦合装置(4)与矩形测试波导(2)形成的反应式谐振腔尺寸,即矩形测试波导(2)的长度L、宽边长度α和窄边长度b,以及矩形测试波导(2)的微波损耗Lc,测量过程中,采用具有温控装置的加热设备对测试波导(2)的加热端口,即高温波导(24)和短路板(25)部分进行加热并控温,采用相应的冷却装置对散热波导(22)进行降温,具体步骤如下:
步骤2-1.设置测试波导(2)的加热端口温度;
步骤2-2.测量步骤2-1.所述温度下反应式谐振腔在TE10n模式下的谐振频率f0和相邻模式TE10(n+1)下的谐振频率f01以及无载品质因数Q0;
步骤2-3.由步骤2-2.所测的反应式谐振腔在TE10n模式下的谐振频率f0和相邻模式TE10(n+1)下的谐振频率f01,计算步骤2-1.所述温度下反应式谐振腔长度L、宽边长度a和窄边长度b,计算方法如下:
对于矩形谐振腔工作在TE10n模式,其谐振频率f0为:
由求出的反应式谐振腔宽边长度a按比例求出窄边长度b;
步骤2-4.由步骤2-2.所测的反应式谐振腔在TE10n模式下的无载品质因数Q0,计算计算步骤2-1.所述温度下矩形测试波导(2)的微波损耗Lc,具体计算过程如下:
由
将δ和RS代入式
最后,将衰减常数αc和步骤2-3.所得的谐振腔长度L代入式
步骤三、搭建介质材料高温复介电常数测量系统,该介质材料高温复介电常数测量系统由矢量网络分析仪(1)和矩形测试波导(2)构成;矩形测试波导(2)由散热波导(22)、隔热波导(23)、高温波导(24)和短路板(25)顺序连接而成;矩形测试波导(2)内壁做金属化处理,所用金属的电导率为σ,磁导率为μ;矢量网络分析仪(1)通过波导-同轴转换接头与耦合装置(4)相连;系统搭建好后,在波导-同轴转换接头处对矢量网络分析仪(1)进行反射校准;
步骤四、测量步骤2-1.所述温度下介质材料的复介电常数,测量过程中,采用具有温控装置的加热设备对测试波导(2)的加热端口,即高温波导(24)和短路板(25)部分进行加热并控温,采用相应的冷却装置对散热波导(22)进行降温,具体步骤如下:
步骤4-1.加载被测介质样品,所加载的被测介质样品厚度为d,其大小与矩形测试波导(2)的截面相适应,保证被测介质样品与矩形测试波导(2)的内壁之间无缝隙且紧靠短路板(25);
步骤4-2.在步骤2-1.所述温度下,采用矢量网络分析仪测量加载被测介质样品后的反射系数S11M,且S11M=|S11M|·exp(j·θS11),计算扣除步骤2-4.所得的矩形测试波导(2)的微波损耗Lc后的反射系数S11:
步骤4-3.计算被测介质样品波导段中的传输系数γ,具体计算过程如下:
根据
其中:
而λ0′=c/f0′,f0′为矢量网络分析仪(1)输入矩形测试波导(2)的测试信号频率;且对于矩形波导,有λc=2a,由此计算出被测介质样品波导段中的传输系数γ=α+jβ;
步骤4-4.计算被测介质样品复介电常数,具体计算方法为:
其中,εr′为介质材料的相对介电常数,tanδε为损耗角正切;
步骤五、重新设置矩形测试波导(2)的加热端口温度,并重复步骤一至步骤四,即可得到不同温度下被测介质样品复介电常数。
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