[发明专利]一种在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法无效
申请号: | 200710029783.6 | 申请日: | 2007-08-20 |
公开(公告)号: | CN101104509A | 公开(公告)日: | 2008-01-16 |
发明(设计)人: | 许宁生;佘峻聪;刘俊;邓少芝;陈军 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | B82B3/00 | 分类号: | B82B3/00 |
代理公司: | 广州新诺专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 华辉 |
地址: | 510275广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 孔洞 结构 制作 单个 纳米 材料 方法 | ||
1.一种在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于以下顺序步骤:
(a)在基底上刻蚀出孔洞结构;
(b)在基底的孔洞底部定位沉积金属或氧化物薄膜;
(c)采用纳米材料生长技术,在孔洞结构中制作单个的纳米材料。
2.如权利要求1所述的一种在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于:所述步骤a中,首先在基底上沉积一层掩蔽层,然后旋涂一层光刻胶,并采用光刻技术在光刻胶上开孔;使用刻蚀工艺去除未被光刻胶保护的开孔中的掩蔽层,露出基底表面,接着去除光刻胶;对掩蔽层开孔中的基底材料进行刻蚀,在基底上形成孔洞结构,然后去除表层的掩蔽层。
3.如权利要求1所述的在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于:所述步骤b中,首先在样品表层沉积一层金属或者氧化物薄膜,然后在表面沉积上一层薄膜作为牺牲层,该牺牲层薄膜可以是光刻胶,磷硅玻璃(PSG)或者其它材料;采用刻蚀的方法对牺牲层薄膜进行减薄,直到孔洞底部留有小于100nm厚度的牺牲层薄膜,接着去除未被牺牲层薄膜保护的金属或氧化物薄膜,最后去掉牺牲层薄膜,在孔洞底部获得了金属或氧化物薄膜。
4.如权利要求1、2或3所述的在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于:所述的基底是金属、半导体或绝缘体,或者是上述两种或两种以上材料组合构成的多层结构材料。
5.如权利要求1或2所述的在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于:所述的刻蚀是等离子体刻蚀或者化学溶液刻蚀。
6.如权利要求1、2或3所述的在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于:所述的金属或者氧化物薄膜是铁、钴、镍、金、铜、铝或锌金属,或上述金属的氧化物,或者是上述金属的合金薄膜。
7.如权利要求3所述的在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于:所述的牺牲层薄膜减薄采用等离子体反应刻蚀工艺或化学溶液刻蚀,通过刻蚀参数控制牺牲层薄膜的厚度。
8.如权利要求1所述的在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于:所述的步骤c中,纳米材料生长技术采用气相法或液相法,或者在高温退火下形成单个纳米颗粒。
9.如权利要求1所述的在孔洞结构中制作单个纳米材料的方法,其特征在于:所述的步骤c中,在孔洞结构中制备单根纳米线、单根纳米棒或单颗纳米颗粒。
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