[发明专利]双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪及方法无效

专利信息
申请号: 200710028438.0 申请日: 2007-06-05
公开(公告)号: CN101067603A 公开(公告)日: 2007-11-07
发明(设计)人: 李润华;黎洪坤;陈志江;刘明;何道航 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 代理人: 李卫东
地址: 510640广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 双通道 共振 增强 激光 诱导 击穿 光谱 痕量 元素 分析 方法
【权利要求书】:

1、双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,包括激光器、单色仪、光电探测器、示波器和计算机,其特征在于:所述激光器通过分束片(BS)与样品通道、光源通道光信号连接;在所述光源通道上依次设置有第一透镜(L1)、共振光源、耦合透镜组,耦合透镜组包括第三透镜(L3)和第四透镜(L4);在所述样品通道上依次设置有第一反射镜(RM1)、第二透镜(L2);所述样品通道、所述光源通道与样品光信号连接,样品通过光收集系统与单色仪光信号连接,单色仪和光电探测器连接,光电探测器和示波器连接,示波器和计算机连接。

2、根据权利要求1所述的双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,其特征在于:所述光收集系统包括第五透镜(L5)、第二反射镜(RM2)和第六透镜(L6);光收集系统与单色仪的入射狭缝光信号连接。

3、根据权利要求1所述的双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,其特征在于:所述示波器通过GPIB接口和计算机连接。

4、根据权利要求1所述的双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,其特征在于:所述激光器为电光调Q脉冲Nd:YAG激光器。

5、根据权利要求1所述的双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,其特征在于:所述共振光源为激光诱导的等离子体光源。

6、根据权利要求1所述的双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,其特征在于:所述单色仪为光栅单色仪。

7、根据权利要求1所述的双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,其特征在于:所述示波器为数字存储示波器。

8、根据权利要求1所述的双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪,其特征在于:所述光电探测器为光电倍增管。

9、采用权利要求1所述的双通道共振增强激光诱导击穿光谱痕量元素分析仪的分析方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)所述激光器发出的激光,经分束片(BS)分成两路光线分别进入样品通道和光源通道;

(2)在所述光源通道上光线被第一透镜(L1)聚焦于共振光源,产生强激光诱导等离子体共振光辐射,经耦合透镜组,聚焦于样品;

(3)在所述样品通道上光线由第一反射镜(RM1)反射并经第二透镜(L2)聚焦于样品;

(4)在样品通道的光线的作用下,所述样品中的待分析的痕量元素被解离出来,然后所述痕量元素被所述共振光辐射共振激发,所述痕量元素发出共振增强光辐射;

(5)所述共振增强光辐射通过光收集系统成像在单色仪上;

(6)所述单色仪的光信号经光电探测器探测,转换为电信号;

(7)所述电信号被送至示波器显示;

(8)所述示波器将数据信息传送给计算机作记录和数据处理。

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