[发明专利]基于切片轮廓重投影的锥束CT射束硬化校正方法有效

专利信息
申请号: 200710018780.2 申请日: 2007-09-30
公开(公告)号: CN101126723A 公开(公告)日: 2008-02-20
发明(设计)人: 张定华;黄魁东;卜昆;王凯 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G06T5/00;G06T1/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 代理人: 顾潮琪
地址: 710072陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 切片 轮廓 投影 ct 硬化 校正 方法
【权利要求书】:

1.基于切片轮廓重投影的锥束CT射束硬化校正方法,其特征在于包括下述步骤:

(a)对被检测零件进行圆轨迹锥束CT扫描,从平板探测器获取一组连续的多色投影图像数据,这些图像在获取过程中已经过必要的暗场校正、坏像素校正和增益校正;

(b)对多色投影进行锥束CT重建得到一个中心切片图像;若中心切片没有包含射线穿越物体的最大长度,即所有投影图像的最大灰度值像素不位于中心切片位置,则在所有投影图像的最大灰度值像素位置附近重建若干连续的切片图像,并利用这些切片图像根据剖切体数据的公知方法生成一个过最大灰度位置的斜截面图像;

(c)对中心切片图像采用数字图像处理中的相关算法进行轮廓提取,获得若干封闭的中心切片零件截面轮廓;若有斜截面图像,则进行相同处理,获取若干封闭的零件斜截面轮廓;

(d)对中心切片零件截面轮廓按实际锥束CT扫描成像几何关系进行重投影,得到射线穿越长度-多色投影灰度间对应的数据;若有零件斜截面轮廓,则进行相同处理,并将得到射线穿越长度一多色投影灰度间对应的数据与由中心切片轮廓得到的数据合并成一组数据;

(e)采用指数函数L=A·exp(B·GC)-A来拟合射线穿越长度-多色投影灰度间对应的数据,其中L是射线穿越物体长度,G是多色投影灰度值,A、B、C是拟合系数;

(f)将射线穿越长度-多色投影灰度间对应的数据靠近原点的一部分进行线性拟合,得到一个过原点的校正直线函数;

(g)根据指数函数和校正直线函数进行锥束CT射束硬化校正计算:对各幅多色投影图像的每个像素,先将其灰度代入指数函数计算得到对应长度,然后将该长度代入校正直线函数得到校正后的近似单色投影灰度值。

2.根据权利要求1的基于切片轮廓重投影的锥束CT射束硬化校正方法,其特征在于:

发明还可应用于扇束CT。

3.根据权利要求1的基于切片轮廓重投影的锥束CT射束硬化校正方法,其特征在于所述的中心切片轮廓重投影包括下述步骤:首先选取一个投影方位,建立坐标系,其中X1O1Y1为CT成像坐标系,X2O2Y2切片图像坐标系,T为两坐标系间的平移量,DSO为射线源焦点到旋转中心距离,DOD为旋转中心到探测器距离;然后计算射线SPn(n=1,2,···,M)]]>与轮廓线段的交点,将所得交点按离射线源焦点远近排序,通过简单的奇偶识别就可计算出射线穿越物体的长度,其中Pn为探测器中心切片投影行上第n个像素,M为探测器行分辨率。

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