[发明专利]反射型光学传感器以及测量面的表面粗糙度检测方法无效
| 申请号： | 200710001399.5 | 申请日： | 2007-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN101000236A | 公开（公告）日： | 2007-07-18 |
| 发明（设计）人： | 新野和久;小川文雄 | 申请（专利权）人： | 斯坦雷电气株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01N21/57 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 反射 光学 传感器 以及 测量 表面 粗糙 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
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