[发明专利]测试装置、测试方法、电子元件的生产方法、测试模拟器以及测试模拟方法

权利要求书

1.一种测试装置，为一种在供给电子元件测试讯号的同时，将该电子元件对应于该测试讯号而输出的多个输出讯号，各个与期待值比较，以测试该电子元件是否进行所期待的动作的测试装置，其特征在于：该测试装置包括：

基准时序检测部，检测出一个输出讯号已发生变化；

设定部，预先设定：由该一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；

取入部，在该基准时序检测部检测出一个输出讯号发生变化起，在经过该最小时间的时序，取得上述的另一个输出讯号的值；以及

识别部，在该取入部取得的上述的另一输出讯号的值，与在经过最小时间之后，上述的另一个输出讯号应取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述的取入部包括：

选通讯号发生部，由该基准时序检测部检测出一个输出讯号发生变化起，在经过该最小时间的时序，发生选通讯号；以及

比较器，依据该选通讯号，取得上述的另一个输出讯号之值。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，其中更包括：

期待值保持部，由一个输出讯号之值发生变化起，在经过该最小时间的时序，预先保持上述另一个输出讯号应取得的值，以作为期待值。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于所述的最小时间，对于接受该电子元件的输出讯号而发生动作的另一电子元件，可以是该输出讯号的建立时间，或上述另一个输出讯号的保持时间的任一项。

5.一种测试方法，为一种在供给电子元件测试讯号的同时，将该电子元件对应于该测试讯号而输出的多个输出讯号，各个与期待值比较，以测试该电子元件是否进行所期待的动作的测试方法，该测试方法包括：

基准时序检测步骤，检测出一个前述输出讯号已发生变化；

设定步骤，预先设定：由该输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；

取入步骤，由该基准时序检测步骤中检测出一个输出讯号发生变化起，在经过该最小时间的时序，取得上述另一个输出讯号的值；以及

识别步骤，在该取入步骤中取得上述另一个输出讯号的值，与在该最小时间经过之后，上述另一个输出讯号应取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。

6.一种电子元件的生产方法，为一种在供给电子元件测试讯号的同时，将该电子元件对应于该测试讯号而输出的多个输出讯号，各个与期待值比较，以筛选且生产该执行所期待的动作的电子元件的电子元件生产方法，该电子元件的生产方法包括：

基准时序检测步骤，检测出一个输出讯号已发生变化；

设定步骤，预先设定：由该输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；

取入步骤，由该基准时序检测步骤中检测出一个输出讯号发生变化起，在经过该最小时间的时序，取得上述另一个输出讯号的值；以及

识别步骤，在取入步骤所取得的上述另一个输出讯号的值，与在该最小时间经过之后，上述另一个输出讯号应取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。

7.一种测试模拟器，为一种对模拟电子元件的动作的元件模拟器供给测试讯号，同时将该元件模拟器对应于该测试讯号而输出的多个输出讯号，各个与期待值比较，以测试该电子元件是否执行所期待的动作的测试模拟器，该测试模拟器包括：

基准时序检测部，检测出一个输出讯号已发生变化；

设定部，预先设定：由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；

取入部，在该基准时序检测部检测出一个输出讯号发生变化起，在经过该最小时间的时序，取得上述另一个输出讯号的值；以及

识别部，在取入部已取得的另一输出讯号的值，与在经过该最小时间之后，该另一个输出讯号应取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。