[发明专利]移动通信系统小区抗干扰能力测试系统配置方法有效

专利信息
申请号: 200610138373.0 申请日: 2006-11-09
公开(公告)号: CN101179807A 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: 王敏;马欣;杨峰义;孙震强 申请(专利权)人: 中国电信股份有限公司
主分类号: H04Q7/34 分类号: H04Q7/34;H04B17/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李德山
地址: 100032*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 移动 通信 系统 小区 抗干扰 能力 测试 系统配置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及移动通信领域,尤其涉及一种外场测试中配置小区抗干扰能力测试系统的方法。

背景技术

在移动通信系统(例如TD-CDMA)的中,一个小区中终端与基站的通信会受到相邻小区中终端与基站的通信的干扰。被干扰小区通常采取有干扰抑制措施来消除这种干扰的不利影响。然而当这种干扰超出这种措施的消除能力时,与干扰的增幅相比,被干扰小区中终端和基站的发射功率增幅会不成比例地增加。而后一种功率的增幅越小,则表明小区抗干扰能力越强。

在外场测试环境下,测试小区干扰抑制能力的系统包括被测小区和与其相邻的若干干扰小区,被测小区包含测量其发射功率增幅的被测终端和基站,干扰小区包括对被测小区产生干扰的干扰终端和基站。在验证例如TD-SCDMA系统的小区间干扰抑制能力时,需要在被测小区周围进行干扰加载,例如在测试小区的周围小区中,控制多个终端拨打电话来进行干扰加载。然而由于干扰小区内和干扰小区间存在干扰,并且被测小区对干扰小区也存在干扰,干扰小区可能无法实现满负荷加载,因此影响了测试小区干扰抑制能力的验证。

为克服上述缺陷,需要对测试系统进行配置,以提高测试系统参小区干扰抑制能力的验证能力。

发明内容

本发明提供了一种配置小区干扰抑制能力测试系统的方法,该系统包括测试小区和至少两个干扰小区,该方法包括:当进行上行干扰加载时,如果是模拟加扰,设置测试小区和干扰小区的时隙,使得测试小区的上行时隙与干扰小区的下行时隙相同,如果是真实加扰,设置测试小区与干扰小区的下行时隙错开;当进行下行干扰加载时,如果是真实加扰,设置测试小区和干扰小区的上行时隙错开。

本发明主要是针对无法实现满加载的情况,通过简便易行的方式实现最大可能的干扰加载。

附图说明

通过下面结合附图所进行的对本发明的描述,能够明白本发明的上述及其它目的,特征和优点,其中:

图1的示意图基于本发明的一个实施例示出了涉及上行干扰加载的干扰抑制能力测试系统的配置方法;

图2的示意图基于本发明的一个优选实施例示出了涉及上行干扰真实加载的干扰抑制能力测试系统的配置方法;

图3的示意图基于本发明的一个优选实施例示出了涉及上行干扰模拟加载的干扰抑制能力测试系统的配置方法;

图4的示意图基于本发明的一个实施例示出了涉及下行干扰加载方法的干扰抑制能力测试系统的配置方法;

图5的示意图基于本发明的一个优选实施例示出了涉及下行干扰真实加载的干扰抑制能力测试系统的配置方法。

具体实施方式

下面结合附图来说明本发明的具体实施例。

图1示出了小区干扰抑制能力测试系统的例子。如图1所示,该系统包括由实线圆表示的测试小区D,优选为空旷环境下的测试小区,包含由长三角表示的测试基站和测试系统。测试系统由测试车携带,包括测试终端和路测系统,测试终端与路测系统直接相连。小区干扰抑制能力测试系统还包括虚线圆表示的干扰小区A~C,它们是以测试小区D为中心的多个比邻小区。

所述小区干扰抑制能力测试系统用于考察不同干扰条件下,测试小区的抗干扰能力。在测试过程中,干扰小区中多个终端(图1中由三角形表示)进行通话,其中通过对通话终端的数量、位置等进行配置,以克服干扰小区内和干扰小区间干扰的影响,为测试创造理想的干扰环境与条件。

在具体测试中,在测试小区内,测试终端(连接路测系统)进行通话,通过路测系统记录终端侧测试数据;基站侧记录网络侧测试数据。

图1还示出了基于上行干扰加载方案来配置小区干扰抑制能力测试系统的方法的例子。如图1所示,为使干扰加载实现最大化,对于例如TD-SCDMA系统测试,图1所示的配置方法包括部署干扰终端(干扰源),使得其保持在其所属小区的范围内,并且尽可能靠近测试小区基站。如图1所示,各干扰终端被部署在其所属小区与测试小区的边界上,但距离其它干扰小区的基站尽量远。可以将干扰终端配置成以尽可能大的功率发射上行信号。

干扰终端可以是实际使用的终端(这种情况下的加载为真实加载),也可以是由系统模拟的终端(这种情况下的加载为模拟加载)。

实际测试中,影响上行干扰加载量的因素主要如下:

1)相邻干扰小区之间的小区间干扰:包括上行干扰和下行干扰。

2)干扰小区内干扰:包括上行干扰和下行干扰。

发明人认识到,当进行上行干扰抑制能力测试时,下行干扰会不必要地降低干扰小区的上行干扰加载量,反之亦然。基于这样的认识,发明人进一步改进了图1所示的方法。

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