[发明专利]利用气流系统测量未封装的IC器件的装置/测试处理机及其测试方法无效
| 申请号： | 200510135885.7 | 申请日： | 2005-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN1797003A | 公开（公告）日： | 2006-07-05 |
| 发明（设计）人： | 梅惠贤 | 申请（专利权）人： | 马来西亚腾达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人： | 曾旻辉 |
| 地址： | 马来西亚槟*** | 国省代码： | 马来西亚;MY |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 利用 气流 系统 测量 封装 ic 器件 装置 测试 处理机 及其 方法 | ||
【权利要求书】：
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