[发明专利]用于探测具有突起的接触元件的晶片的探测卡无效
申请号: | 200510055106.2 | 申请日: | 1999-12-02 |
公开(公告)号: | CN1702470A | 公开(公告)日: | 2005-11-30 |
发明(设计)人: | B·N·埃尔德里奇;G·W·格鲁伯;G·L·马蒂厄 | 申请(专利权)人: | 佛姆法克特股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316;G01R31/28;G01R31/02;G01R1/073 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 马洪 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 探测 具有 突起 接触 元件 晶片 | ||
【说明书】:
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