[发明专利]薄膜电晶体阵列及其修补方法有效
| 申请号: | 200410090395.5 | 申请日: | 2004-11-12 |
| 公开(公告)号: | CN1603926A | 公开(公告)日: | 2005-04-06 |
| 发明(设计)人: | 来汉中 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/136 | 分类号: | G02F1/136;H01L29/786 |
| 代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
| 地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 薄膜 电晶体 阵列 及其 修补 方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电股份有限公司,未经友达光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200410090395.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高分辨率窄线宽长时效探测装置
- 下一篇:实现射频压控振荡器频率粗调的装置





