[发明专利]三轴移动传感器有效
申请号: | 02122165.0 | 申请日: | 2002-05-31 |
公开(公告)号: | CN1389704A | 公开(公告)日: | 2003-01-08 |
发明(设计)人: | P·G·哈特维尔;D·J·法森 | 申请(专利权)人: | 惠普公司 |
主分类号: | G01B7/004 | 分类号: | G01B7/004 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳,王忠忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 移动 传感器 | ||
1.一种微机电系统(MEMS)器件(10),包括:
第一层(30),它包括一相反电极(80,82);
第二层(40),安置在该第一层(30)的邻近,该第二层(40)包括:
中间晶片(40),它与该第一层(30)相连接;
动子(50),它附连在该中间层(40)上,而且能够相对于该中间层(40)和第一层(30)进行三维移动,该动子(50)包括一动子电极(70,72),动子电极安置邻近于该相反电极(80,82),并能在该相反电极(80,82)和该动子电极(70,72)之间产生一电容,其中,动子(50)的移动引起该动子电极(70,72)相对于该相反电极(80,82)的移动,其中该电容依赖于该动子的位置而变化;
电容检测器(90),用来检测所述电容。
2.按照权利要求1所述的器件,其中,该第一层(30)包括一X-Y相反电极(82),而该动子(50)包括一X-Y动子电极(70),其中X-Y相反电极(82)和该X-Y动子电极(70)被用来检测沿平行于该中间晶片(40)的方向的移动。
3.按照权利要求1或2所述的器件,其中,第一层(30)包括一Z相反电极(82),而该动子(50)包括一Z动子电极(72),该Z相反电极(82)和Z动子电极(72)被用来检测沿与该中间层(40)垂直的方向的移动。
4.按照权利要求1,2或3所述的器件,其中:当动子(50)只在该X-Y平面内移动时,Z相反电极(82)所检测的电容基本上不发生变化。
5.按照权利要求1,2,3或4所述的器件,其中,该第一层(30)包括X-Y相反电极(80)和Z相反电极(82),而该动子(50)包括一X-Y动子电极(70)和一Z动子电极(72);而且动子(50)能够进行三维移动,该移动由X和Y以及Z方向所限定,所述X和Y方向限定一基本与中间层(40)平行的X-Y平面,所述Z方向则与该X-Y平面正交;以及其中在X或Y方向上的移动使该X-Y动子电极(70)和X-Y相反电极(80)之间的电容发生变化;并且其中在Z方向的移动则使该Z动子电极(72)和Z相反电极(82)之间的电容发生变化。
6.按照权利要求5所述的器件,其中:在X或Y方向的移动使该X-Y动子电极(70)和X-Y相反电极(80)之间的重叠面积发生变化;在Z方向的移动则使该Z动子电极(72)和Z相反电极(82)之间的距离发生变化。
7.按照权利要求1,2,3,4,5或6所述的器件,还包括一第三层(20),将它这样与该第一层(30)和第二层(40)平行安置,以便使该第二层(40)处于第一和第三层之间。
8.一种电子装置(100),包括:
处理器(120);
微机电系统(MEMS)器件(10),与该处理器(120)相连,用来检测该电子装置(100)的移动,该MEMS器件(10)包括:
第一层(30);
第二层(40),与该第一层(30)相邻;
动子(50),与该第二层(40)相连,当在该MEMS器件(10)上施加一力时,这动子(50)就相对于该第一层(30)进行三维移动;
多个X-Y电容器,用来检测该动子(50)在X或Y方向的移动,这多个电容器中的每一个都包括:
与该动子(50)相连的X-Y动子电极(70);
与该第一层(30)相连的X-Y相反电极(80);
其中动子(50)在X或Y方向的移动会引起该X-Y动子电极(70)相对于该X-Y相反电极(80)的移动;
用来检测Z向移动的Z电容器,包括:
与动子(50)相连的Z动子电极(72);
与第一层(30)相连的Z相反电极(82);
其中,该动子(50)的Z向移动会引起Z动子电极(72)相对于Z相反电极(82)的移动。
9.按照权利要求8所述的器件,还包括与多个X-Y电容器和与Z电容器相连的电容检测器。
10.按照权利要求8所述的器件,其中:动子(50)的Z向移动使该Z动子电极(72)和Z相反电极(82)之间的距离发生变化,并且其中在X或Y方向的移动则使至少一对动子电极和相反电极(70,80)之间的重叠面积发生变化。
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