[发明专利]用于扫描装置检测透光式底片上缺陷的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于扫描装置上检测透光式底片上缺陷的方法，特别涉及一种用于扫描装置上藉由延长或缩短透光式底片的曝光时间来检测透光式底片上缺陷的方法。

背景技术

随着计算机科技的日益发达，各种计算机周边设备也日新月益，扫描装置即为一适例。扫描装置是用来扫描一透光式底片，以得到相对应的数字图像信号。一般而言，底片常易沾惹灰尘、毛发，或因磨损而产生刮痕，而导致扫描所得的图像品质不良，因此，较高阶的扫描装置常具有去除图像刮痕的技术。

参照图1，图1为公知扫描装置10的功能方块图。扫描装置10用来扫描一透光式底片14。扫描装置10包含有一白光光源12a、一红外线光源12b以及一光传感器16。白光光源12a是用来产生一白光，而红外线光源12b是用来产生一红外线，其中，白光具有红光、绿光、以及蓝光的成份。光传感器16包含有多个依序排列的红光电荷耦合元件16a、多个依序排列的绿光电荷耦合元件16b以及多个依序排列的蓝光电荷耦合元件16c，用来于白光穿透透光式底片14时，于电荷耦合元件16a、16b、16c内产生相对应的电荷。此外，光传感器16还包含有多个依序排列的红外线电荷耦合元件16d，用来于红外线穿透透光式底片14时，在电荷耦合元件16d内产生相对应的电荷。之后，再利用一电连接在光传感器16的计算机系统18，来将光传感器16的输出做图像的处理。

参照图2，图2为公知扫描装置10用来检测透光式底片14上缺陷的方法流程图。如图2所示，当扫描装置10用来检测透光式底片14上的缺陷时，公知方法的流程如下：步骤22：开启白光光源12a扫描透光式底片14以获得白光图像信号；步骤24：开启红外线光源12b扫描透光式底片14以获得红外线图像信号；步骤26：根据白光图像信号与红外线图像信号以找出缺陷位置；步骤28：利用计算机系统18进行一修补程序。

在步骤22与24中，白光光源12a及红外线光源12b分别会被开启以产生一白光及红外线来扫描透光式底片14，并分别获得白光图像信号与红外线图像信号。由于红外线仅可穿透底片14但无法穿透脏污及刮痕等缺陷，且红外线电荷耦合元件16d对红外线的反应速度远比红光电荷耦合元件16a、绿光电荷耦合元件16b与蓝光电荷耦合元件16c对红光、绿光及蓝光的反应速度来的快，即多个依序排列的红外线电荷耦合元件16d在接收到红外线时会很快地达到饱和程度。所以，在执行步骤24后，未饱和的红外线电荷耦合元件16d所产生的数字图像信号即代表脏污及刮痕等缺陷所产生的图像信号。因此，计算机系统18即可依据红外线电荷耦合元件16a的输出来判定刮痕或脏污等缺陷的位置，并以软件运算的方式将扫描产生的图像信号对应缺陷的位置进行一修补、处理程序而得到一没有刮痕或脏污图像等缺陷的图像信号，以达到去除图像中刮痕或脏污的效果。

然而，由于公知扫描装置10在扫描透光式底片14时需加装红外线光源12b与多个红外线电荷耦合元件16d，故导致扫描装置10的机构设计为较复杂，连带提高组装困难度，并增加成本。

发明内容

因此，本发明的主要目的在于提供一种用于扫描装置上检测透光式底片的缺陷的方法，以解决上述问题。

为实现上述目的，本发明提供一种用于扫描装置来检测一透光式底片上缺陷的方法，该扫描装置包含有一光源，用来对该透光式底片曝光，该方法包含有：使用该光源对该透光式底片曝光一第一预定时间以产生一第一图像；使用该光源对该透光式底片曝光一第二预定时间以产生一第二图像；依据该第一及第二预定时间的时间比，比较该第一及第二图像的差异以检测该透光式底片上的缺陷。

为进一步理解本发明的特征，优点，现结合附图说明。

附图说明

图1为公知扫描装置的功能方块图。

图2为公知扫描装置用来检测透光式底片上缺陷的方法流程图。

图3为本发明扫描装置的功能方块图。

图4A与图4B为本发明扫描装置用来扫描透光式底片的流程图。

具体实施方法