[发明专利]用于扫描装置检测透光式底片上缺陷的方法

权利要求书

1.一种用于扫描装置来检测一透光式底片上缺陷的方法，该扫描装置包含有一光源，用来对该透光式底片曝光，该方法包含有：

使用该光源对该透光式底片曝光一第一预定时间以产生一第一图像；

使用该光源对该透光式底片曝光一第二预定时间以产生一第二图像；

依据该第一及第二预定时间的时间比，比较该第一及第二图像的差异以检测该透光式底片上的缺陷。

2.如权利要求1所述的方法，其中若该第一及第二图像中相对应的多个像素的亮度并非依据该第一及第二预定时间的时间比成一预定比例，则判定产生该多个像素的底片位置为缺陷位置。

3.如权利要求2所述的方法，其中若该第一预定时间大于该第二预定时间，且该多个像素在该第二图像的亮度并非比该多个像素在该第一图像的亮度呈相对应比率的减少，则判定产生该多个像素的底片上的位置为完全透光的缺陷位置。

4.如权利要求2所述的方法，其中若该第一预定时间小于该第二预定时间，且该多个像素在该第二图像的亮度并非比该多个像素在该第一图像的亮度呈相对应比率的增加，则判定产生该多个像素的底片上的位置为完全不透光的缺陷位置。

5.如权利要求1所述的方法，其中该扫描装置包含有一光源，用来产生光线，以及一单色光传感器，用来检测该光源经由该透光式底片传来的单色光线，而该第一及第二图像是依据该单色光传感器的饱和程度来产生。

6.如权利要求5所述的方法，其中该单色光传感器是为绿色光传感器。

7.如权利要求5所述的方法，其中该单色光传感器是为用来检测单色光的电荷耦合元件。