[发明专利]视频显示芯片的测试方法和装置

说明书

本发明技术领域

本发明总体涉及视频显示芯片，具体来说，涉及一种视频显示芯片的测试方法和装置。

背景技术

视频芯片通常包括一由存储电容器和导通晶体管组成的像素矩阵。各个电容器中存储的数据共同组成一视频图像。通过光照芯片和视觉扫描图像来读出所存储的图像。

输出所存储内容这种方式，引起这种芯片制造方面的问题。直到芯片封装后才能对视频芯片进行测试，因而其作为一成像器件起作用。这允许将测试图像加载到该器件中，接着就缺陷通过视觉来加以检查。随后可识别有缺陷的器件，从该批量当中取出舍弃。这样，直到该芯片得到全面封装才检测出缺陷。这样该工艺成本很高，因为制造成本已投资于生产现在才确定为有缺陷的经封装部分。

所以希望其按最后形式封装之前具有将有缺陷的视频芯片显现出来的能力。需要一种提供一整套芯片测试在对该器件进行最后封装之前全面校验该器件可操作性的方案。

发明概述

本发明对包括矩阵配置的多个信号线的视频芯片的测试方法，包括下列步骤：将一电压电位加到信号线的一端，用该信号线的另一端驱动串联连接的系列晶体管电路的控制极，在系列晶体管电路一端加上一电压，以及在系列晶体管电路另一端检测一电位。该方法还包括下列步骤：在信号线一端加载一输入位图案，以及在信号线另一端检测所形成的图案。可通过将所输入图案与所检测图案相比较来检测信号线的各种缺陷。

本发明的视频芯片，包括：视频存储单元的矩阵；用于将一行视频图像加载到矩阵中所选定行的列选择器；以及用于选择矩阵中一行的行选择器。视频芯片还包括：与列选择器相对设置一列测试寄存器，以便该列线在两者之间连接。同样，与行选择器相对设置一行测试寄存器，以便该行线在两者之间连接。

列选择器包括用于接收一输入测试图案的寄存器和用于使该测试图案在列线上驱动的装置。列测试寄存器在列线另一端接收图案，由此通过将所输入测试图案与列测试寄存器中存储的图案相比较来确定列线的缺陷。

行选择器包括用于接收一输入测试图案的寄存器和用于使该测试图案在行线上驱动的装置。行测试寄存器在行线另一端接收图案，由此通过将所输入测试图案与行测试寄存器中存储的图案相比较来确定行线的缺陷。

附图简要说明

图1是本发明视频芯片的框图。

图2是图1所示的测试寄存器的框图。

图3是图2所示的移位寄存器的框图。

图4和图5是图1所示列寄存器和行寄存器的框图。

图6示出一典型存储单元。

图7示出本发明的故障检测。

实施发明的最佳方式

参照图1，视频芯片100包括一按行列方式配置的存储单元12的矩阵10。图6所示的典型存储单元，包括包括一与电容器16连接提供电荷的传递晶体管14。各存储单元12具有相关联的列(数据)线114和行(字)选择线112。通常，视频信号的扫描线由列寄存器104接收，接着使该信号在各个列线114上驱动。主行选择寄存器102使控制信号在行线112中选定的某一行线上驱动，以便列线114所载的视频信号经传递晶体管14传送进入所选定行包括存储单元的电容器16。

本发明列寄存器104包括一用于接收列测试信号YTST的测试输入端136。列测试信号YTST包括通过时钟信号CCLK串行移入的位图案。同样，行寄存器102包括一用于接收按时钟信号RCLK进入的行测试信号XTST(也是位图案)的测试输入端138。

暂参照一下图4和图5所示的列寄存器及行寄存器104和102的框图。如图4所示，列寄存器104包括一其各输出构成列线114的寄存器排402。信号CCLK使数据按串行方式根据时钟从一复用器404移入寄存器排402。所连接的复用器404作为输入端接收视频扫描线VIDEO和测试数据YTST。根据列起动信号CEN，将使视频信号和测试信号其中之一按串行方式移入寄存器排402。如图4所示，使列起动信号CEN得到肯定会使列寄存器104处于视频输出模式，而通过使CEN否定来确认测试模式。