[发明专利]视频显示芯片的测试方法和装置无效

专利信息
申请号: 00808761.X 申请日: 2000-05-23
公开(公告)号: CN1355889A 公开(公告)日: 2002-06-26
发明(设计)人: S·帕塔克;J·E·佩恩;G·A·罗森戴尔;N·汉佐 申请(专利权)人: 爱特梅尔股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 赵国华
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 视频 显示 芯片 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种测试方法,对具有多个信号线的电路测试所述信号线的电气完整性,其特征在于,该方法包括下列步骤:

将第一电压电位加到各信号线的第一端;

串联连接的系列晶体管电路中,以各信号线第二端电位使其中各晶体管偏置,所述系列晶体管电路具有第一端终端和第二端终端,所述第二端终端能够处于高阻抗状态或导通状态;

将第二电压电位加到所述系列晶体管电路的所述第一端终端;以及

对所述系列晶体管电路的所述第二端终端电位进行检测,

由此以所述第二端终端处于高阻抗状态来显示所述信号线其中之一开路,而以所述第二端终端其电位位于接地电位和所述第二电压电位之间来显示所述信号线未开路。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

将测试图案加到所述信号线的所述第一端,所述测试图案包括逻辑1和逻辑0的组合;

将所述测试图案传送进入寄存器,所述寄存器设置在所述信号线的第二端;

读出所述寄存器的内容;以及

将所述寄存器内容与所述测试图案相比较,

由此以所述寄存器内容和所述测试图案之间的差异来显示所述信号线中的电气短路和电气开路。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测试图案包括交替的1和0,由此以所读出图案的2个连续的1来显示2个直接相邻信号线间的电气短路。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一电位大于所述晶体管多个阈值电压其中任意一个。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电路是视频存储器器件,所述信号线是字选择线,所述加上第一电压的步骤包括同时将全部字选择线激活以便将所述第一电压传送到所述系列晶体管电路的所述控制端。

6.一种测试方法,对具有数据线及字线的矩阵的存储器电路测试所述数据线和所述字线的电气完整性,其特征在于,包括下列步骤:

使第一测试图案在其中第一端的各个所述数据线上驱动;

将所述数据线的第二端出现的数据信号存储到第一寄存器中;

将所述第一测试图案与锁存到所述第一寄存器的数据相比较;

使第二测试图案在其中第一端的各个所述字线上驱动;

将所述字线的第二端出现的数据信号存储到第二寄存器中;以及

将所述第二测试图案与锁存到所述第二寄存器的数据相比较。

7.一种存储器电路,其特征在于,包括:

按行列方式配置的多个存储单元;

列数据寄存器,具有与数据线连接的多个输出,各数据线与所述存储单元列连接;

字选择器,具有多个字选择线,各字选择线与一行所述存储单元连接,各字线具有一至所述字选择器的远端,所述字选择器运作来激活所述字选择线其中任意一个,还运作来激活全部所述字选择线;以及

串联连接的系列晶体管电路,每一晶体管分别具有一控制端与其中一个所述字线的远端连接,所述系列晶体管电路具有与电力干线连接的第一端。

8.如权利要求7所述的存储器电路,其特征在于,所述晶体管为N沟道器件。

9.如权利要求7所述的存储器电路,其特征在于,所述字选择器包括第一电路来激活一选定的字线,所述字选择器还包括一用于接收位图案的行数据寄存器和用于有选择地用所述寄存器输出来驱动所述字线的第二电路。

10.如权利要求9所述的存储器电路,其特征在于,还包括一所具有的输入与所述字选择线的所述远端连接的行测试寄存器。

11.如权利要求7所述的存储器电路,其特征在于,各数据线具有一至所述列数据寄存器的远端,存储器电路还包括第二串联连接的系列晶体管电路,每一晶体管具有一控制端与其中一个所述数据线的远端连接,所述系列晶体管电路的第一端与第一电位连接。

12.如权利要求11所述的存储器电路,其特征在于,还包括一所具有的输入端与所述数据线的所述远端连接的列测试寄存器。

13.如权利要求11所述的存储器电路,其特征在于,所述第二晶体管序列的所述晶体管为N沟道器件。

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