专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]控制系统和控制方法-CN202180022414.2在审
  • 中川朋美;岩川幹生 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2021-03-11 - 2022-11-04 - F04D27/00
  • 控制系统(500)具备:多个送风部(例如第一送风部(240a)、第二送风部(240b)以及第三送风部(240c)),多个送风部朝向沿水平方向排列的多个部位中的对应的各个部位吹送空气;探测部(30),其探测存在于吹送空气的方向上的用户(1);导出部(122),其基于来自探测部(30)的探测结果,来导出用户(1)的相对于多个送风部(第一送风部(240a)、第二送风部(240b)以及第三送风部(240c))而言的水平方向上的横向宽度;决定部(124),其基于所导出的用户(1)的横向宽度,来决定在横向宽度的水平方向上的两端及中央的各处的送风方式;以及控制部(126),其基于决定出的送风方式,来控制多个送风部(第一送风部(240a)、第二送风部(240b)以及第三送风部(240c))各自的动作。
  • 控制系统控制方法
  • [发明专利]X射线分析装置和峰搜索方法-CN202110381100.3在审
  • 坂前浩 - 株式会社岛津制作所
  • 2021-04-09 - 2021-11-16 - G01N23/2252
  • 本发明提供一种X射线分析装置和峰搜索方法,能够不使处理时间大幅增加地实现高精度的峰搜索。峰搜索处理包括以下步骤:步骤(S220),获取光谱的轮廓;步骤(S240),考虑测定值的统计上的变动来限定峰波长(峰强度)的真值能存在的波长范围;步骤(S250),在限定后的波长范围的长波长端、短波长端、以及这两端之间的中间波长处测定X射线的强度;步骤(S255),计算经过上述三个波长的各测定值的二次函数;以及步骤(S260),计算所计算出的二次函数的顶点的波长来作为峰波长。
  • 射线分析装置搜索方法
  • [发明专利]用于确定检查对象的位置的系统以及相关方法-CN201480005713.5在审
  • S·弗朗茨 - 全欧光学有限公司
  • 2014-01-21 - 2016-02-10 - G01B11/00
  • 本发明涉及一种用于确定检查对象(400)的位置的系统(100),所述系统包括如下特征:自准直望远镜(200),具有用于发射光束的光束源(210),分束器(220),检测器单元(230)和物镜(240),以及设计为聚焦设备(110)的光学元件,其中检查对象(400)、光束源(210)和聚焦设备(110)沿着共同的光学轴(z)布置,用于控制聚焦设备的控制设备(300),所述聚焦设备如此成使得光束可以聚焦在具有坐标(x1、y1)的检查对象(400)的第一检查面(401)的曲率中心上以及至少可以聚焦在具有坐标(x2、y2)的检查对象(400)的第二检查面(402)的曲率中心上。
  • 用于确定检查对象位置系统以及相关方法

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