专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种车规级芯片DPAT检测方法及装置-CN202310101574.7有效
  • 徐祖峰;赵伟 - 江苏泰治科技股份有限公司
  • 2023-02-13 - 2023-05-05 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种车规级芯片DPAT检测方法及装置。所述方法包括:在一个批次测试完成后,获取该批次的测试数据,确保测试数据符合设定的DPAT计算条件;根据测试项确定生产影响因子,每个生产影响因子X在测试过程中有多个生产对象,每个生产对象对应一组测试数据,确定各生产对象的测试数据的数据分布;判断数据分布是否符合去漂移调整条件,若符合,则对生产影响因子X下的各个生产对象的数据集进行去漂移调整;基于去漂移调整后的数据集计算DPAT的规格阈值,加载该批次所有芯片的测试项值并与规格阈值进行比较本发明考虑芯片生产过程中工艺参数漂移对测试项值的影响,通过去漂移处理提高DPAT检测的准确性。
  • 一种车规级芯片dpat检测方法装置

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