专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体处理用的成膜方法和装置-CN200710167674.0有效
  • 长谷部一秀;石田义弘;藤田武彦;小川淳;中岛滋 - 东京毅力科创株式会社
  • 2007-09-06 - 2008-03-12 - H01L21/316
  • 本发明提供一种半导体处理用的成膜方法,在能够选择性供给第一处理、第二处理、第三处理处理区域内,利用CVD法在被处理基板上形成氧化膜,其中第一处理包括含有膜源元素且不含氨气的源气体,第二处理包括氧化气体,第三处理包括预处理。第一工序包括将第三处理在利用激发机构激发的状态下供给的激发阶段,利用由此生成的所述预处理的自由基对所述被处理基板的表面进行预处理。第二工序是供给第一处理,由此,使膜源元素吸附到被处理基板的表面。第三工序包括将第二处理在利用激发机构激发的状态下供给的激发阶段,利用由此生成的所述氧化气体的自由基,使吸附在所述被处理基板的表面的膜源元素氧化。
  • 半导体处理方法装置
  • [实用新型]一种气体处理装置-CN201320397550.2有效
  • 冈田武将;池野友明;滨松健 - 东洋纺株式会社
  • 2013-07-05 - 2014-02-26 - B01D53/02
  • 本实用新型提供一种气体处理装置,其可以利用吸附剂高效而连续地对含有有机溶剂的气体进行吸收和解吸。该气体处理装置具有:处理入口管线(32),其导入被处理预处理用吸附槽(29),其设置于所述处理入口管线(32),并且容纳预处理用吸附剂30;回流气体管线(28),其使由解吸气体从冷凝器及/或分离器挤出的回流气体返回到处理入口管线(32)的预处理用吸附槽(29)的上游侧。
  • 一种气体处理装置
  • [发明专利]硅外延层的形成方法-CN200310115692.6有效
  • 田村明威;冈哲史 - 东京毅力科创株式会社
  • 2003-10-16 - 2005-04-20 - H01L21/205
  • 处理室(2)内的被处理基板(W)的半导体基底层上形成硅外延层。这种形成方法包括:在容纳被处理基板(W)的处理室(2)内进行减压的减压工序,向处理室(2)内导入含有硅烷气体的成膜气体,在半导体基底层上气相生长硅外延层的气相生长工序,其间包含氯化氢处理工序和氢气热处理工序在氯化氢处理工序中,向处理室(2)内导入含有氯化氢气体的第1预处理,用第1预处理处理室(2)的环境进行处理。在氢气热处理工序,向处理室(2)内导入含有氢气的第2预处理,用第2预处理对半导体基底层表面进行处理
  • 外延形成方法
  • [发明专利]低K介质阻挡层及其形成方法-CN201210142983.3有效
  • 周鸣 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2012-05-09 - 2013-11-13 - H01L21/768
  • 本发明提供了一种低K介质阻挡层及其形成方法,在形成低K介质阻挡层之前,先利用预处理对衬底进行等离子体工艺预处理,所述预处理包括:碳氢气体及惰性气体,由此,可在衬底(即在低K介质层)表面形成一层含碳此外,由于利用了预处理对衬底进行等离子体工艺预处理,在形成低K介质阻挡层时,器件将处于充满预处理的氛围中,此时,即使产生氧离子,也将在一定程度上对氧离子进行稀释,即避免了氧离子对于低K介质层的损伤
  • 介质阻挡及其形成方法
  • [发明专利]一种等离子体处理工艺-CN202211295546.5在审
  • 许晓坤;叶斌 - 江苏天芯微半导体设备有限公司
  • 2022-10-21 - 2022-12-27 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种等离子体处理工艺,包括步骤:a)将基片放置于基座上;b)向反应腔通入预处理,基座的温度为100℃‑140℃,反应腔的压力为0.01Torr‑10Torr,去除基片的氧化层;c)去除基片的氧化层结束,停止通入预处理;其中,所述预处理包括含氢等离子体和含氟等离子体。本发明提供了合适的工艺窗口,使工艺气体与氧化层结合形成氨基络合物和氨基络合物的升华能够同步在同一个腔室内进行,提高了工艺效率,缩短了工艺时间。
  • 一种等离子体处理工艺
  • [发明专利]一种离子注入机的预处理方法-CN201410710134.2有效
  • 余德钦;邱裕明;肖天金 - 上海华力微电子有限公司
  • 2014-11-28 - 2015-03-25 - H01J37/32
  • 本发明公开了一种离子注入机的预处理方法,该方法包括两个预处理阶段;在第一预处理阶段,向所述离子注入机的离子源反应室通入一预处理,对所述离子源反应室进行清洗处理;在第二预处理阶段,将离子源能量调节至50keV,终端电压调节至10kV,以产生预设束流,使所述预设束流沿着离子注入机的束流通道射出,用于对所述离子注入机进行清洗处理。采用二氟化硼代替Ar气体作为预处理进行清洗处理,缩短了预处理时间,提高了生产周期,以及高清洗和换源效率,并保证了离子束的均一性,其中,清洗效率高达80%~95%。
  • 一种离子注入预处理方法

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