专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种温室植物动态补光控制方法-CN201410674586.X无效
  • 朱杰 - 无锡科思电子科技有限公司
  • 2015-08-02 - 2015-07-29 - A01G7/04
  • 本发明公开了一种温室植物动态补光控制方法,预设植物生长正常荧光参数阈值区间,实时采集温室植物生长环境信息参数,采用调制式荧光检测仪根据实时采集的温室植物生长环境信息参数分析计算出植物生长的实际荧光参数,将调制式荧光检测仪分析计算出的实际荧光参数和预设荧光参数阈值区间进行对比,若实际荧光参数在预设荧光参数阈值区间内,则关闭补光装置;若实际荧光参数不在预设荧光参数阈值区间内,则根据实际荧光参数计算出植物生长所需光源的亮度和光颜色比例
  • 一种温室植物动态控制方法
  • [实用新型]荧光探针环境参数响应特性的自动检测装置-CN201921398177.6有效
  • 石吉勇;李文亭;邹小波;黄晓玮;李志华;胡雪桃;郭志明;张文 - 江苏大学
  • 2019-08-26 - 2020-05-22 - G01N21/64
  • 本实用新型属于分析测试技术领域,具体涉及一种荧光探针环境参数响应特性的自动检测装置;本实用新型所述的装置包括荧光光源模块,用于产生光源;荧光信号检测模块,用于检测荧光探针待测液对应的荧光信号;环境参数感知模块,用于感应环境参数;环境参数调控模块,用于调控荧光探针待测液环境参数;中央控制器,分别与荧光光源模块、荧光信号检测模块、环境参数感知模块、环境参数调控模块和计算机连接;本实用新型所述的检测装置可通过环境参数调节模块自动、定向的调节、维持检测体系对应的环境参数,高效、自动获取不同检测环境参数对应的荧光探针响应信号,实现荧光探针环境参数响应特性的高效检测。
  • 荧光探针环境参数响应特性自动检测装置
  • [发明专利]荧光内窥镜曝光参数调整的方法、设备和荧光内窥镜-CN202010697619.8有效
  • 姚卫忠;蒋青锋 - 浙江华诺康科技有限公司
  • 2020-07-20 - 2022-07-15 - H05B47/10
  • 本申请涉及一种荧光内窥镜曝光参数调整的方法、设备和荧光内窥镜,其中,该荧光内窥镜曝光参数调整的方法包括:获取荧光内窥镜图像的第一曝光参数;根据该荧光内窥镜图像的图像特征,判断该荧光内窥镜的环境场景;根据该第一曝光参数与预设曝光参数的对比结果和该环境场景,调整该第一曝光参数至第二曝光参数,其中,该环境场景与该第二曝光参数对应。通过本申请,解决了通过旋钮手动调节内窥镜的光源亮度,误差较大,容易导致内窥镜灼伤体内组织或者引起人眼不适,安全性较低的问题,实现了荧光内窥镜彩色光源和荧光光源的亮度自动调节,避免了光源总功率过大对人体造成伤害
  • 荧光内窥镜曝光参数调整方法设备
  • [发明专利]一种定量分析植物叶片光合异质性的方法-CN202110074577.7有效
  • 胡文海;肖宜安;齐超 - 井冈山大学
  • 2021-01-20 - 2022-06-10 - G01N21/64
  • 本发明公开了一种定量分析植物叶片光合异质性的方法,利用叶绿素荧光成像技术采集植物叶片叶绿素荧光信息;提取相关叶绿素荧光参数在叶片上所有像素点的数值信息;对所有像素点的叶绿素荧光参数荧光值进行计算分析,获得相关叶绿素荧光参数荧光值分布特征曲线和异质性特征参数;根据叶绿素荧光参数荧光值分布特征曲线和异质性特征参数定量分析叶片的光合异质性特征,通过比较不同叶片间的叶绿素荧光参数荧光值分布特征曲线和异质性特征参数定量比较不同叶片之间的光合异质性,既能够适用于植物叶片的光合异质性定量分析
  • 一种定量分析植物叶片光合异质性方法
  • [发明专利]一种荧光内窥镜荧光强度自适应调整方法及系统-CN202211389248.2在审
  • 汪彦刚;彭一忠 - 南京图格医疗科技有限公司
  • 2022-11-08 - 2023-02-07 - A61B1/04
  • 本发明公开一种荧光内窥镜荧光强度自适应调整方法及系统,涉及光学成像技术领域,方法包括:根据当前可见光图像的曝光参数和可见光相机的最小曝光参数计算可见光相机的曝光总增益,计算荧光相机的曝光总增益;根据当前可见光图像计算可见光测光值;根据荧光内窥镜确定光路传输反射透射参数;根据可见光黑电平、荧光黑电平、可见光相机的曝光总增益、荧光相机的曝光总增益、光路传输反射透射参数、可见光测光值和预设荧光测光值,确定荧光光源的光功率值;根据荧光光源的光功率值和荧光内窥镜的光源控制信号‑光功率关系曲线,确定荧光光源的光源控制信号。本发明实现对于荧光内窥镜中荧光强度的自适应调整,保证荧光内窥镜成像精确性。
  • 一种荧光内窥镜强度自适应调整方法系统

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