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[实用新型]平面式光耦封装结构-CN202223596837.6有效
发明人：翁念义;蘇炤亘;邱政康;林紘洋;李昇哲;万喜红;雷玉厚 -专利权人：福建天电光电有限公司
申请日： 2022-12-29 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： H01L25/16 文献下载
摘要：本实用新型涉及半导体功率器件技术领域，本实用新型提供一种平面式光耦封装结构，其包括第一支架、第二支架、发光芯片、收光芯片和第一封装层，第二支架与第一支架间隔独立设置，第一支架和第二支架在靠近彼此处形成第一凹槽和第二凹槽，发光芯片设置在第一凹槽内，收光芯片设置在第二凹槽内，第一封装层包覆发光芯片、收光芯片、第一凹槽和第二凹槽，第一支架穿透第一封装层向外延伸形成第一引脚，第二支架穿透第一封装层向外延伸形成第二引脚。借此，实现芯片朝上设置的光耦封装结构，增加芯片选择性，避免芯片上所打金线的裸露风险。
平面式光耦封装结构

[发明专利]镜像H型钢轮廓尺寸测量装置-CN201910953431.2有效
发明人：于海涛;孟紫寒;李显政;王江;马永福;纪广胜;刘宝顺;赵志涛;李升;羿光伟;于利峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2019-10-09 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明涉及一种镜像H型钢轮廓尺寸测量装置，包括：平面镜转动导轨机构、结构光投射采集部分、上位机；其特征在于，所述平面镜转动导轨机构包括半圆形导轨、柔性连接架和平面镜；所述结构光投射采集部分包括结构光发生器和工业摄像机；半圆形导轨的弧形区域供平面镜移动，直线区域共结构光发生器移动，平面镜到任何位置的情况下，工业摄像机都能采集到平面镜成像信息，直线区域悬挂结构光发生器，结构光发生器可在直线区域移动，半圆形导轨与柔性连接架的上段相连，从而实现平面镜沿半圆形导轨运动。结构光发生器向H型钢表面投射线性结构光，工业摄像机采集H型钢表面的线性结构光以及平面镜中所成线性光像，并将图像信息传至上位机。
型钢轮廓尺寸测量装置

[发明专利]一种快速多线结构光视觉测量系统标定方法-CN201910202385.2有效
发明人：武栓虎;李爱娟;辛睿 -专利权人：烟台大学
申请日： 2019-03-11 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种快速多线结构光视觉测量系统的标定方法，步骤如下：(1)分别标定首尾(第一个和最后一个)两个光平面，得到其光平面单位法向量和距离参数；(2)利用步骤(1)得到首尾光平面的法向量计算两个光平面的旋转角和旋转向量；(3)利用多线结构光等距平行且相交于一条直线的特征和步骤(2)计算的旋转角计算各相邻光平面之间的夹角；(4)利用步骤(3)计算的各光平面之间夹角和步骤(2)计算的旋转向量构造各光平面之间的旋转矩阵；(5)根据步骤(4)得到的旋转矩阵和第一个光平面的单位法线向量，计算中间各光平面的单位法向量；(6)利用步骤(1)得到的首尾光平面方程，首先计算各光平面的共有交线，并采样多个点，然后分别计算中间各光平面方程的距离参数
一种快速结构视觉测量系统标定方法

[发明专利]一种结构光视觉传感器结构参数标定方法-CN200710121397.X有效
发明人：孙军华;张广军;魏振忠 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2007-09-05 - 公布日： 2008-01-23 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种结构光视觉传感器结构参数标定方法，该方法包括：建立摄像机坐标系、图像平面坐标系和靶标坐标系；确定结构光投射在平面靶标上的光条在摄像机坐标系下的坐标；无约束多次移动平面靶标，获取每次移动平面靶标后，结构光投射在靶标平面上的光条在摄像机坐标系下的坐标，根据获得的所有光条坐标拟合结构光方程。本发明提供的结构光视觉传感器标定方法操作简单，无需辅助设备，不但能提高结构光标定的效率，且能扩大结构光标定的适用范围。
一种结构视觉传感器参数标定方法

[发明专利]测试用结构光摄像头的平行度检测方法、装置及可读存储介质-CN201810936599.8在审
发明人：吴慧剑;林挺 -专利权人：信利光电股份有限公司
申请日： 2018-08-16 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试用结构光摄像头的平行度检测方法、装置及可读存储介质。该平行度检测方法包括步骤1：将结构光投影器放置在透光平面的前方，将测试用结构光摄像头放置在透光平面的后方，所述透光平面上贴合有一透光标定图；步骤2：结构光投影器向所述透光平面上的透光标定图投射结构光斑，测试用结构光摄像头向所述透光平面上的透光标定图拍摄，获取标定图像；步骤3：依据获取的标定图像，计算出测试用结构光摄像头的感光面和透光标定图之间的夹角，作为测试用结构光摄像头的感光面和透光平面之间的夹角。该平行度检测方法可以检测出测试用结构光摄像头和透光平面之间的平行度，以方便技术人员在对待测结构光投影器进行光学检测之前，先纠正测试用结构光摄像头的倾斜。
结构光摄像头透光平面测试平行度检测透光标定结构光投影可读存储介质标定图像感光面摄像头放置光斑光学检测平行度贴合投射检测拍摄纠正

[实用新型]扩光透镜、扩光透镜组件及灯具-CN202023281456.X有效
发明人：朱慜頔;刘平;魏嘉 -专利权人：美智光电科技股份有限公司
申请日： 2020-12-28 - 公布日： 2021-07-30 - 主分类号： F21V5/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种扩光透镜、扩光透镜组件及灯具，其中扩光透镜包括：平面透镜，该平面透镜呈长条形；扩光结构，该扩光结构沿所述平面透镜的长度方向设置；所述扩光结构两侧的外表面设置为全反射面；所述扩光结构上远离所述平面透镜的一侧设有扩光槽，沿所述扩光槽槽面的长度方向设有菲涅尔锯齿，相比于现有技术，该扩光透镜应用于灯具，可提高出光角度和照射面积。
透镜组件灯具

[发明专利]显微视觉入射光角度标定方法-CN202111617952.4在审
发明人：张滋黎;孟繁昌;纪荣祎;崔成君;王国名;石俊凯;潘映伶;王博;董登峰;周维虎 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明提供一种显微视觉入射光角度标定方法，包括固定线结构光光源与显微图像采集单元，二者相对位置固定；计算显微图像采集单元放大倍率；设置标定块使线结构光光源发射的线结构光经标定块反射后被显微图像采集单元采集；移动标定块使线结构光投射到第一平面，第一平面反射后被显微图像采集单元采集，在显微图像采集单元像平面上得到第一线结构光像；在同一水平面内移动标定块，使得线结构光投射到第二平面，第二平面反射后被显微图像采集单元采集，在显微图像采集单元像平面上得到第二线结构光像；计算第一线结构光像与第二线结构光像的像间距；计算显微视觉入射光角度。本发明装置制备简单，标定流程简单，可快速完成结构光入射角度的标定。
显微视觉入射角度标定方法

[发明专利]光学成像装置-CN201010574359.1无效
发明人：陈大鹏;张青川 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2010-12-06 - 公布日： 2012-06-06 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学成像装置，包括：可见光路结构、红外光路结构、照明光路结构、焦平面阵列以及成像光路结构。可见光路结构，用于采集目标物体发出的可见光并转化为可见平行光；红外光路结构，用于采集目标物体发出的红外辐射并将其聚焦到焦平面阵列上；照明光路，用于提供照明平行光；焦平面阵列，用于吸收红外光路结构采集到的目标物体的红外辐射并产生角度变化，并根据角度变化反射照明平行光，被焦平面阵列反射的照明平行光上附有焦平面阵列的角度变化信息；成像光路结构，用于将附有焦平面阵列的角度变化信息的照明平行光成像为红外光像，并将可见光路提供的可见平行光成像为可见光像
光学成像装置

[发明专利]一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法-CN200810081873.4有效
发明人：张广军;孙军华;刘谦哲;魏振忠 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2008-05-13 - 公布日： 2009-02-11 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法，该方法包括：建立摄像机坐标系、图像平面坐标系；建立靶标坐标系，获取用于标定传感器结构参数的平面靶标图像，并获取结构光投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标；获取结构光多次投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标，再根据获得的所有光条点坐标拟合结构光方程。本发明采用二维交比不变的方法，使得在平面靶标的每个位置上可以获取任意数量的标定点，且标定的结构光可以为任意模式。
一种基于二维不变结构传感器参数标定方法

[发明专利]内读式投影视力仪的光路结构-CN201910137503.6在审
发明人：蔡留美;孙浩;姜冠祥 -专利权人：上海雄博精密仪器股份有限公司
申请日： 2019-02-25 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： A61B3/032 文献下载
摘要：本发明公开了一种内读式投影视力仪的光路结构，本光路结构包括通过转轴转动的视标盘、光源、匀光片、第一平面反光镜和凹面反射镜，第一平面反光镜倾斜布置，视标盘位于匀光片与第一平面反光镜之间，凹面反射镜设于第一平面反光镜上方，光源的光线经匀光片将视标盘图案投射至第一平面反光镜，第一平面反光镜光线投射至凹面反射镜，本光路结构还包括第二平面反光镜，第二平面反光镜倾斜设于第一平面反光镜与凹面反射镜的光路外侧，凹面反射镜的光线投射至第二平面反光镜，第二平面反光镜将视标盘图案投射至受检者人眼。本光路结构克服传统内读式投影视力仪光路系统的缺陷，有效提高视力检查图像的光线，避免光强损失，降低设备能耗及成本。
平面反光镜凹面反射镜光路结构视标盘匀光片投影光线投射图案投射光源视力光路系统降低设备倾斜布置视力检查转轴转动视力仪光路光强人眼能耗图像

[实用新型]内读式投影视力仪的光路结构-CN201920234603.6有效
发明人：蔡留美;孙浩;姜冠祥 -专利权人：上海雄博精密仪器股份有限公司
申请日： 2019-02-25 - 公布日： 2020-03-06 - 主分类号： A61B3/032 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种内读式投影视力仪的光路结构，本光路结构包括通过转轴转动的视标盘、光源、匀光片、第一平面反光镜和凹面反射镜，第一平面反光镜倾斜布置，视标盘位于匀光片与第一平面反光镜之间，凹面反射镜设于第一平面反光镜上方，光源的光线经匀光片将视标盘图案投射至第一平面反光镜，第一平面反光镜光线投射至凹面反射镜，本光路结构还包括第二平面反光镜，第二平面反光镜倾斜设于第一平面反光镜与凹面反射镜的光路外侧，凹面反射镜的光线投射至第二平面反光镜，第二平面反光镜将视标盘图案投射至受检者人眼。本光路结构克服传统内读式投影视力仪光路系统的缺陷，有效提高视力检查图像的光线，避免光强损失，降低设备能耗及成本。
内读式投影视力结构

[发明专利]一种线结构光标定方法、装置、设备、存储介质-CN202210188932.8在审
发明人：刘飞香;秦念稳;陈凤;肖正航;邓泽 -专利权人：中国铁建重工集团股份有限公司
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本申请公开了一种线结构光标定方法，包括：对倾斜相机中的内部参数进行标定；通过线结构光激光器向预设标靶同一侧上的具有高度落差的第一平面和第二平面投射线结构光，并控制在第一平面和第二平面上所形成的光条纹均位于平面的中间位置，然后进行图像采集以得到相应的光条纹图像；确定光条纹图像特征点在光条纹图像上的坐标值以及基于倾斜相机中的内部参数从标靶中确定与光条纹图像特征点对应的标靶特征点的坐标值；基于第一平面和第二平面之间的高度差构建光平面参数的约束方程，并基于光条纹图像特征点的坐标值、标靶特征点的坐标值以及约束方程，对光平面参数进行求解，以得到相应的光平面参数。
一种结构标定方法装置设备存储介质

[发明专利]一种基于机械臂和结构光视觉的平面夹角在线测量方法-CN201610896157.6有效
发明人：王秀平;吕佳;陈晶 -专利权人：无锡科技职业学院
申请日： 2016-10-13 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于机械臂和结构光视觉的平面夹角在线测量方法，其可有效实现平面夹角在线测量，以及实时检测工业生产过程中两个平面构成的夹角；控制器控制连接机械臂，摄像机固定于机械臂末端，结构光投射器固定于摄像机一侧，结构光投射器投射于待测量的且构成夹角的两个平面表面上，结构光投射器采用线结构光投射器或者面结构光投射器，将机械臂末端与摄像机间的关系矩阵、摄像机内外参数、结构光参数先经过预先标定，然后对摄像机采集的结构光图像进行处理，提取光条中心线，分别获得两个平面的光条中心线上的点，并将其坐标统一变换到机器人末端坐标系中，然后由两组相交直线段得到两个平面的方程，从而求得两个平面的夹角。
结构光投射器平面夹角在线测量机械臂平面的光条中心线机械臂末端结构光视觉投射器摄像机摄像机内外参数工业生产过程机器人末端结构光图像控制器控制摄像机采集摄像机固定关系矩阵面结构光平面表面实时检测线结构光相交直线有效实现坐标统一结构光标定投射两组测量

[发明专利]镜像H型钢轮廓尺寸测量方法-CN201910953424.2有效
发明人：于海涛;孟紫寒;李显政;王江;马永福;纪广胜;刘宝顺;赵志涛;李升;羿光伟;于利峰 -专利权人：天津大学
申请日： 2019-10-09 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明涉及一种镜像H型钢轮廓尺寸测量方法，所采用的装置包括：平面镜转动导轨机构、结构光投射采集部分、上位机；其特征在于，所述平面镜转动导轨机构包括半圆形导轨、柔性连接架和平面镜；所述结构光投射采集部分包括结构光发生器和工业摄像机；半圆形导轨的弧形区域供平面镜移动，直线区域共结构光发生器移动，平面镜到任何位置的情况下，工业摄像机都能采集到平面镜成像信息，直线区域悬挂结构光发生器，结构光发生器可在直线区域移动，半圆形导轨与柔性连接架的上段相连，从而实现平面镜沿半圆形导轨运动。H型钢轮廓尺寸测量步骤如下：1)搭建测量系统；2)发射并采集线性结构光；3)动态坐标变换及尺寸计算。
型钢轮廓尺寸测量方法

[发明专利]基于超薄平面结构实现光场紧聚焦的方法及装置-CN202210578922.5在审
发明人：付神贺;马子显;张薪;陈振强;李真;尹浩 -专利权人：暨南大学
申请日： 2022-05-26 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本发明提供一种基于超薄平面结构实现光场紧聚焦的方法及装置，包括：制备拓扑荷数相关的超薄平面结构样品；激光器发出的高斯光经过空间光调制器，形成拓扑荷数匹配的结构光束；使用透镜将结构光束进行缩束，使结构光束尺寸匹配超薄平面结构样品；调整超薄平面结构样品的位置与角度，使结构光束垂直入射超薄平面结构样品，结构光束在经过超薄平面结构时发生锐边衍射，得到聚焦后的光针和焦点。本发明通过超薄平面结构，将携带拓扑荷数的光束转换为不具有螺旋特征的高分辨率聚焦光束，减少主焦斑能量损失，实现较高能量转化率的超衍射极限的光场聚焦。
基于超薄平面结构实现光场紧聚焦方法装置

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