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[发明专利]磁场测量装置-CN201510040941.2在审
发明人：高桥智 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2015-01-27 - 公布日： 2015-08-05 - 主分类号： G01R33/022 文献下载
摘要：本发明提供一种能够去除光学噪声的影响的磁场测量装置。气室(1、2)分别使第1检测光、第2检测光透射，并使直线偏振光的偏振面根据磁场而旋转。测量部(6)利用第1检测部(41)和第3检测部(43)的检测结果，去除第1检测光中的光学噪声的影响，利用第2检测部(42)和第4检测部(44)的检测结果，去除第2检测光中的光学噪声的影响，由此测量气室(1、2)中的磁场之差。
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN201410024912.2在审
发明人：长坂公夫 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2014-01-20 - 公布日： 2014-07-23 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本发明的磁场测量装置采用比现有技术简单的结构，对沿着探测光的方向的磁场梯度进行测量。本发明的探测光照射部(3)对探测光进行照射。测量部(4)，基于透过了气室1以及气室2的探测光的偏振面的变化量，对气室(1)中的磁场和气室(2)中的磁场之差进行测量。
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN202011318375.4在审
发明人：安井隆 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2020-11-23 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： A61B5/242 文献下载
摘要：一种磁场测量装置，其包括：第一板，其具有多个第一连接部分；至少一个第二板，其连接到所述多个第一连接部分，以及供电单元，其向所述第一板和所述至少一个第二板供电以测量磁场；所述磁场测量装置包括：至少一个第一电压调节器
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN202110745152.4在审
发明人：张笑楠;杨仁福;魏小刚;杜艺杰;罗文浩;丛楠 -专利权人：北京量子信息科学研究院
申请日： 2021-06-30 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01R33/02 文献下载
摘要：本申请涉及一种磁场测量装置，通过包括激光器、探测器和控制模块的激光探测模块，以及包括原子气室和反光镜的磁感应模块，将磁感应模块设置于待测磁场中，通过激光器向原子气室输入频率与原子的跃迁频率一致的第一光信号，来极化原子，使原子气室中的原子在待测磁场的作用下进行拉莫尔进动；控制模块对第一光信号进行幅值调制，使调制后的第一光信号输入原子气室后经反光镜返回原子气室后形成的第二光信号，探测器获取该第二光信号的光强信号，并向控制模块发送该光强信号；控制模块根据该光强信号和原子的旋磁比，确定待测磁场的磁场强度；能够避免探测器对原子气室中原子产生的电学噪声干扰，提高磁感应模块的灵敏度，以及降低原子气室的温度。
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN202080066118.8在审
发明人：安井隆;小山大介 -专利权人：株式会社理光;学校法人金泽工业大学
申请日： 2020-09-24 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01R33/035 文献下载
摘要：一种磁场测量装置(100a)包括SQUID(10)；以及磁通锁定回路电路(20)，包括第一电路(21)和第二电路(22)，第一电路(21)包括连接到SQUID的输出端的放大器(31)，并且第二电路连接到第一电路
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN202210604566.X在审
发明人：陈艳山;王笑苇;王宇盈;殷燕芳 -专利权人：武汉轻工大学
申请日： 2022-05-27 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G09B23/18 文献下载
摘要：本发明提出的一种磁场测量装置，所述磁场测量装置包括工作台、夹取组件及磁场元件，所述夹取组件与所述磁场元件相对设置在所述工作台上；所述磁场元件背离所述工作台的一侧具有磁场部，所述夹取组件用于夹取电路板并将所述电路板伸入所述磁场部中，所述磁场部上形成有与所述电路板相互垂直的磁场。本发明技术方案对结构进行改进调整，将所述磁场部调整至所述磁场元件顶部，降低了对所述电路板放置位置的调整难度；提高了学生在进行实验实的操作便捷程度，同时也能够增加测量的精确程度，加快实验效率，保证教学质量
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN201110046374.3有效
发明人：李海江 -专利权人：哈姆林电子(苏州)有限公司
申请日： 2011-02-25 - 公布日： 2011-07-27 - 主分类号： G01R33/07 文献下载
摘要：本发明揭示了一种磁场测量装置，用于测量微型多磁极磁铁的磁场，包括高斯计，还包括一底座，所述底座上设有一转盘支架，所述转盘支架一侧设有旋转盘，另一侧设有用于固定微型磁铁的磁铁架，所述磁铁架和旋转盘之间通过轴承连接转动
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN201310286665.9有效
发明人：时启猛;曲炳郡 -专利权人：北京嘉岳同乐极电子有限公司
申请日： 2013-07-09 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01R33/09 文献下载
摘要：本发明提供一种磁场测量装置，其包括探头，用于感应被测磁场并获得的电压信号；放大器，用于将所述电压信号放大获得电压放大信号；处理器，用于根据所述电压放大信号获得所述被测磁场的特性及所述被测磁场的波形所述探头采用具有巨磁阻效应的巨磁阻薄膜形成的该磁场测量装置的动态测量范围可达80dB，频带宽可达2MHz，而且灵敏度高，成本低。
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN201580041422.6有效
发明人：长尾知彦;山本道治 -专利权人：爱知制钢株式会社
申请日： 2015-07-31 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G01R33/02 文献下载
摘要：本发明提供一种即使在MI传感器的灵敏度发生了变化的情况下，也能够准确地测量磁场的磁场测量装置。磁场测量装置(1)包括MI传感器(2)和灵敏度算出单元(3)。MI传感器(2)包括感磁体(20)、检测线圈(21)以及通过通电来产生磁场的磁场产生线圈(22)。灵敏度算出单元(3)在从MI传感器(2)的外侧作用到感磁体(20)上的磁场即传感器外磁场HO为一定的状态下，使流至磁场产生线圈(22)的电流发生变化。由此，使作用在感磁体(20)上的磁场发生变化，并算出将检测线圈(21)输出电压的变化量除以作用在感磁体(20)上磁场的变化量而得到的值、即灵敏度a。
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN200610091686.5有效
发明人：铃木大介 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2006-06-09 - 公布日： 2006-12-13 - 主分类号： G01R33/02 文献下载
摘要：如果磁屏蔽装置的圆筒的长度变短，则圆筒轴垂直分量的磁场从圆筒开口部进入的量变大，存在磁屏蔽效果降低的问题。在进行磁测定的两端形成为开放的筒型的第1磁屏蔽装置内，通过配置其两端或接近于测量对象物的1个方向形成为开放的筒型、筒轴方向与上述磁场检测方向大致平行、配置在上述第1磁屏蔽装置内、在筒内部配置上述磁传感器的第2磁屏蔽装置，在磁传感器周边屏蔽第1磁屏蔽装置不能屏蔽的磁场分量。
磁场测量装置

[发明专利]磁场测量装置-CN201510462884.7有效
发明人： T·考夫曼;K·黑贝勒;J·弗兰克;O·布赖特维泽尔 -专利权人： TDK-迈克纳斯有限责任公司
申请日： 2015-07-31 - 公布日： 2018-07-31 - 主分类号： G01R33/02 文献下载
摘要：磁场测量装置具有：第一半导体主体，具有在第一x‑y平面中构成的表面，第一半导体主体在该表面上具有两个相互间隔开的磁场传感器，磁场传感器分别测量磁场的z分量，x方向和y方向和z方向分别相互正交地构成；第一磁体磁化的方向从北极变换成南极；第一半导体主体和第一磁体相互刚性地固定；第一半导体主体相对于第一磁体在x‑y平面中平移偏移地设置，在第一x‑y平面与第二x‑y平面之间沿z方向构成的偏移小于第一磁体沿z方向构成的厚度，两个磁场传感器之一靠近北极设置，另一靠近南极设置，从而在磁场的z分量中磁场传感器构造出具有彼此相反极性的信号。
半导体主体磁场传感器磁场测量装置延伸面偏移北极南极磁化测量磁场相反极性平移正交磁场对称

[实用新型]磁场测量装置-CN201320406607.0有效
发明人：时启猛;曲炳郡 -专利权人：北京嘉岳同乐极电子有限公司
申请日： 2013-07-09 - 公布日： 2013-12-18 - 主分类号： G01R33/09 文献下载
摘要：本实用新型提供一种磁场测量装置，其包括探头，用于感应被测磁场并获得电压信号；放大器，用于将所述电压信号放大获得电压放大信号；处理器，用于根据所述电压放大信号获得所述被测磁场的特性及所述被测磁场的波形所述探头采用具有巨磁阻效应的巨磁阻薄膜形成的该磁场测量装置的动态测量范围可达80dB，频带宽可达2MHz，而且灵敏度高，成本低。
磁场测量装置

[实用新型]磁场测量装置-CN201920984581.5有效
发明人：杨海峰;赵志国 -专利权人：洛阳师范学院
申请日： 2019-06-27 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本实用新型涉及磁场测量技术领域，具体涉及一种磁场测量装置。更具体为一种基于原子塞曼效应的磁场测量方法与装置，该装置包括原子束产生器和与其连接的真空工作腔，真空工作腔内于原子束的路径上首先设置限束孔，限束孔后方于原子束上具有被测磁场，被测磁场后方依次设置前电离栅网和后电离栅网具体是用于测量磁场的强度。测定结果局域性好，能够实现磁感应强度高效、可靠的测量。
磁场测量装置

[实用新型]磁场测量装置-CN202120594913.6有效
发明人：李恒华;周旋;刘合萍;牛亮;吴斌;肖鸿光;彭自胜 -专利权人：衡阳华菱连轧管有限公司
申请日： 2021-03-23 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G01R33/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种磁场测量装置。磁场测量装置包括：第一定位件，设置于待测量磁体的一侧，第一定位件上设有多个间隔设置的第一定位孔和多个第一刻度线；第二定位件，第二定位件上设有多个第二刻度线，第二定位件的一端选择性地与多个第一定位孔中的一个配合并伸入待测量磁体的内部，多个第一刻度线用于测量第一定位件的中心与第二定位件的中心之间的距离h；磁场测量件，与第二定位件的伸入待测量磁体内部的一端连接，以测量磁场强度。本实用新型的技术方案中，磁场测量装置能够对待测量磁体的磁场强度进行定量测量，以获取待测量磁体的磁场强度分布。
磁场测量装置

[实用新型]磁场测量装置-CN202122735439.7有效
发明人：黄龙;李晋;张振生;俞大鹏 -专利权人：南方科技大学
申请日： 2021-11-09 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G01R33/10 文献下载
摘要：本实用新型涉及磁场测量技术领域，提供了一种磁场测量装置，包括：放置板；支架，支架固定设置在放置板上，支架上设置有多个调整孔，多个调整孔沿垂直于放置板的方向间隔设置；固定块，固定块上设置有连接孔；连接件，连接件穿设于连接孔和其中一个调整孔内，以将支架和固定块连接在一起；位移组件，位移组件与固定块连接；磁场探头，磁场探头设置在位移组件上且能够在位移组件的带动下相对于固定块移动，及数据处理仪，数据处理仪与磁场探头电性连接并用于对磁场探头传送过来的信号进行分析和处理本实用新型之磁场测量装置，可以根据不同尺寸的磁场源对应调整磁场探头的位置，减小测量结果的误差。
磁场测量装置

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