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[发明专利]用于检验WAT测试机台的测试结构及方法、测试系统-CN202210663522.4在审
发明人：孔建业 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-06-13 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本公开提供了一种用于检验WAT测试机台的测试结构及方法，该测试结构包括多个测试焊盘和至少一个标准电性结构，该至少一个标准电性结构与该多个测试焊盘对应电连接，标准电性结构具有标准电性能参数，标准电性结构的测量电性能参数通过WAT测试机台的测试部件进行测试得到，标准电性结构的测量电性能参数与标准电性能参数的偏差大小用于表征WAT测试机台的测试部件是否异常，通过获取测试结构中的标准电性结构的测量电性能参数，然后根据测量电性能参数和标准电性能参数的偏差确定WAT测试机台的测试部件是否异常，实现了在测试晶圆前以及测试过程中对机台进行检测，避免测试产能的浪费以及测试成本增加，降低测试问题的发生率。
用于检验 wat 测试机台结构方法系统

[发明专利]晶圆可接受测试方法-CN201310196316.8有效
发明人：沈茜;席与凌 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-05-23 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提出一种晶圆可接受测试方法，在测试机台对晶圆进行WAT测试之前，先选取测试电压扫描区间，接着，使用测试机台对晶圆进行测试，测试机台能够记录测试电压扫描区间内所有的电性参数值，因此可以由该区间内所有的电性参数值绘制出电性参数曲线，进而可以由电性参数曲线得出特定的电性参数数值，当测试机台在测试之后反馈的电性参数不准确或者无法反馈电性参数时，无需人工进行第二测试，从而节省了时间和劳动力，提高了检测效率。
可接受测试方法

[发明专利]自动化浪涌试验和电性参数测试系统及方法-CN202211567741.9在审
发明人：王海青;李章夏 -专利权人：深圳市高特微电子有限公司
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种自动化浪涌试验和电性参数测试系统及方法，它涉及半导体测试技术领域。系统包括工业电脑、电性参数测试仪、水银开关盒和浪涌发生器，工业电脑通过电性参数测试仪通信线缆与电性参数测试仪连接，电性参数测试仪经由电性参数测试线与水银开关盒连接，工业电脑通过浪涌发生器通信线缆与浪涌发生器连接，浪涌发生器经由浪涌测试线缆与水银开关盒连接，所述的水银开关盒通过器件测试线缆与受测元器件连接。本发明可一键完成现有元器件电性参数测试和浪涌试验需要分步交替的作业方式，大大提高测试工作时效，降低人工成本，应用前景广阔。
自动化浪涌试验参数测试系统方法

[实用新型]自动化浪涌试验和电性参数测试系统-CN202223278650.1有效
发明人：王海青;李章夏 -专利权人：深圳市高特微电子有限公司
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种自动化浪涌试验和电性参数测试系统，它涉及半导体测试技术领域。它包括工业电脑、电性参数测试仪、水银开关盒和浪涌发生器，工业电脑通过电性参数测试仪通信线缆与电性参数测试仪连接，电性参数测试仪经由电性参数测试线与水银开关盒连接，工业电脑通过浪涌发生器通信线缆与浪涌发生器连接，浪涌发生器经由浪涌测试线缆与水银开关盒连接，所述的水银开关盒通过器件测试线缆与受测元器件连接。本实用新型可一键完成现有元器件电性参数测试和浪涌试验需要分步交替的作业方式，大大提高测试工作时效，降低人工成本，应用前景广阔。
自动化浪涌试验参数测试系统

[发明专利]皮肤测试设备和皮肤测试方法-CN201910483431.0在审
发明人：苏文益;许亚坡 -专利权人：厦门美图之家科技有限公司
申请日： 2019-06-04 - 公布日： 2019-08-02 - 主分类号： A61B5/053 文献下载
摘要：本申请提供的皮肤测试设备和皮肤测试方法，涉及皮肤参数测试技术领域。其中，皮肤测试设备包括测试头、压力传感器和分别与测试头和压力传感器电性连接的控制单元。测试头用于对待测试皮肤进行接触检测，得到该待测试皮肤的电性参数。压力传感器用于在测试头与待测试皮肤接触时检测该测试头受到的压力，得到压力参数。控制单元用于获取压力传感器检测得到的压力参数和测试头检测得到的电性参数，并根据在压力参数达到预设值时测试头检测得到的电性参数计算得到待测试皮肤的皮肤参数。通过上述设置，可以改善现有技术中测试得到的结果存在精度低的问题。
测试头皮肤测试测试皮肤压力传感器电性参数压力参数皮肤参数检测压力传感器检测测试技术领域电性连接接触检测预设测试申请

[发明专利]一种晶片测试装置及其测试方法-CN201610133729.5在审
发明人：蔡伟智;李国煌 -专利权人：厦门市三安光电科技有限公司
申请日： 2016-03-10 - 公布日： 2016-07-20 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种晶片测试装置及其测试方法，所述晶片测试装置利用外延成分具有一定区域的均匀性，对所述区域内的芯粒光学参数和电性参数进行测试，采集区域内所有芯粒的电性参数，但只测区域中心芯粒的光学参数，即对区域中心芯粒进行光电参数全测，而区域内中心芯粒的周边芯粒只进行电性参数测试，实现缩减测试时间、提高测试装置的测试效率的目的。
一种晶片测试装置及其方法

[发明专利]栅结构上金属层的监控方法-CN200810042588.1有效
发明人：王吉星 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2008-09-05 - 公布日： 2010-03-10 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种栅结构上金属层的方法，它包括以下步骤：提供一种测试元件，所述测试元件包括N型离子注入区、P型离子注入区和横跨所述N型离子注入区和P型离子注入区的栅结构，其中栅结构表面覆盖有金属层；测试覆盖有金属层的栅结构电性参数；监控测试的栅结构电性参数是否符合标准栅结构电性参数，其中标准栅结构电性参数为覆盖的金属层完整时所测出的栅结构电性参数。本发明通过制作应用于WAT测试的栅结构测试元件，测试该种栅结构测试元件电性参数实现此种栅结构表面金属层的监控。该方法可在晶圆制作早期WAT测试阶段发现缺陷金属层，从而节约后段制程中的资源和制作成本。
结构金属监控方法

[发明专利]切割道器件的电性测试装置及测试方法-CN202210117020.1在审
发明人：吴哲佳;王正钦;欧阳世豪;吴序伟;高沛雄 -专利权人：广州粤芯半导体技术有限公司
申请日： 2022-02-08 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种切割道器件的电性测试装置及测试方法，用于监控切割道上的器件的电性参数是否达标，装置包括：探针卡，包括多个探针，其中一个探针与一个器件电连接，用于对器件的电性进行测试，多个探针同时与多个器件电连接，用于同时对多个器件的电性进行测试；测试机，与探针卡连接，用于测试算法和编写测试程式，以分别控制多个探针对多个器件的电性测试，获得多个器件的电性参数。通过程式控制多个探针同时对多个切割道上的器件进行电性测试，获得器件的电性参数，可以减少测试时间，同时，减少扎针次数，从而减少探针的磨损程度，增加探针的寿命。
切割器件测试装置方法

[发明专利]母排电连接可靠性参数获取方法、装置和电子设备-CN202111174350.6在审
发明人：吕天一 -专利权人：中移（上海）信息通信科技有限公司;中移智行网络科技有限公司;中国移动通信集团有限公司
申请日： 2021-10-09 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G01R31/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种母排电连接可靠性参数获取方法、装置和电子设备，所述母排电连接可靠性参数获取方法包括：获取母排在多个第一参数中的每个第一参数下的搭接表面的热效应测试结果，热效应测试结果至少包括：根据母排电连接热平衡理论模型和工作环境参数确定的仿真测试结果；根据热效应测试结果，获取母排的电连接可靠性参数；工作环境参数包括空气对流系数、风沙参数、尘土参数、摩擦参数；其中，空气对流系数是根据空气流速和空气湿度确定的；第一参数包括母排的结构参数和/或热性能参数本发明方案，可以实现根据母排电连接热平衡理论模型和工作环境参数，对母排进行仿真测试，获取母排的电连接可靠性参数。
母排电连接可靠性参数获取方法装置电子设备

[发明专利]具有LED测试点的LED晶圆及转移方法-CN201911339927.7在审
发明人：刘权锋;庄文荣;孙明;付小朝;卢敬权 -专利权人：东莞市中晶半导体科技有限公司
申请日： 2019-12-23 - 公布日： 2020-05-05 - 主分类号： H01L29/06 文献下载
摘要：本发明提供一种具有LED测试点的LED晶圆及转移方法，所述LED晶圆包括多个LED单元以及至少一个LED测试点，所述LED测试点与所述LED单元具有相同结构，且所述LED测试点的尺寸大于所述LED单元，所述LED测试点用于进行LED电性测量，获得所述LED测试点的电性参数，以表征所述LED单元的电性参数。本发明通过在LED晶圆设置与常规LED单元结构相同，且尺寸较大的LED测试点，利用LED测试点的电性参数来表征常规LED单元的电性参数，从而实现细小LED芯片，如Micro LED的电性测量，在无需分选的情况下保证芯片波长的一致性
具有 led 测试转移方法

[发明专利]电路电性参数精确测试系统-CN201711387283.X在审
发明人：赵宗晖 -专利权人：惠州市鑫晖源科技有限公司
申请日： 2017-12-20 - 公布日： 2018-03-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种电路电性参数精确测试系统，包括左面板、右面板、前面板、后面板、上面板和底座，所述左面板、右面板、前面板、后面板、上面板和底座围合成测试治具，所述测试治具为六面体结构，所述左面板、右面板、前面板、后面板、上面板和底座相互固定连接，所述底座上设置有主板，所述主板与设置于所述前面板上的PASS灯、测试转接板、PASS‑ON开关均电连接。
电路参数精确测试系统

[发明专利]基于SPICE模型的仿真方法、仿真系统-CN202111676439.2在审
发明人：曾健忠 -专利权人：深圳天狼芯半导体有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明属于半导体仿真技术领域，主要提供了一种基于SPICE模型的仿真方法、仿真系统，建立仿真器件的器件架构，并且模拟其电性曲线；对仿真器件的晶圆允收测试的参数进行定义，并根据电性曲线对仿真器件进行电学测试得到第一电性参数；通过仿真得到晶圆允收测试的电学仿真数据，并将电学仿真数据与第一电性参数进行比较，得到LDE输入参数与晶圆允收测试的电性变化参数；基于LDE输入参数和电性变化参数进行类神经网络训练，得到类神经网络加权参数和类神经网络架构；将得到的类神经网络加权参数与类神经网络架构写入模型卡，从而基于SPICE模型的模型卡实现对器件的仿真，可以避免目前的LDE仿真需要用户将函数写入模型卡，导致测试工作量较大的问题。
基于 spice 模型仿真方法系统

[发明专利]发光二极管晶片的点测方法-CN201210055190.8有效
发明人：赖余盟;李水清;蔡坤煌;章小飞 -专利权人：厦门市三安光电科技有限公司
申请日： 2012-03-06 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种发光二极管的点测方法，包括光学参数测试和电性参数测试，其特征在于：对光学参数分布离散的区域芯粒进行光电参数全测，对光学参数分布集中的区域芯粒只进行电性参数单测。在没有增设任何硬件成本的前提下，实现自动寻找和判别发光二极晶片光学参数集中性分布较好的区域，对其仅测试电性参数，节省光学参数测试的时间，测试速率显著提升，极大程度的提升了机台产能和降低了生产成本。
发光二极管晶片方法

[发明专利]电性失效分析的测试方法及装置-CN201210093391.7有效
发明人：周第廷;陆磊;张宇飞;谢振;陈宏领 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2012-03-31 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： G01R31/302 文献下载
摘要：本发明提供了一种电性失效分析的测试方法，包括：提供电性失效分析中各测试项的测试项函数；根据电性失效分析的测试需求，确定电性失效分析的测试项，基于测试项形成测试项关联数据，测试项关联数据与对应的测试项函数关联；提供对应测试需求的测试文件，测试文件包括关联于测试项的测试项关联数据及对应的测试参数；运行测试文件，获取测试结果；根据测试结果和测试需求，在需修改测试文件时，调整所述测试参数。本发明还提供了一种电性失效分析的测试装置。本发明提供的技术方案无需了解测试程序即可修改测试参数并且无需反复加载和编译测试程序即可灵活改变测试流。
失效分析测试方法装置

[发明专利]新能源汽车电驱动总成动力加速性测试评价方法-CN202310052958.4有效
发明人：邱子桢;李文帅;张维;孔治国;黄炘;何鹏林;王芳;付宇;张贺林;付玉成;王宏策;韩涛 -专利权人：中汽研新能源汽车检验中心（天津）有限公司
申请日： 2023-02-03 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01M17/00 文献下载
摘要：本发明提供了新能源汽车电驱动总成动力加速性测试评价方法，包括以下步骤：对电驱动总成基本参数测定并进行等级划分；结合等级划分，确定目标车型参数与驱动形式；依据所确定的目标车型，对目标车型等效阻力曲线设定；利用获取的等效阻力曲线，进行等效整车电驱动总成动力加速性测试；利用多款相同等级的电驱动总成进行测试，作出电驱动总成动力加速性评价。本发明有益效果：新能源汽车电驱动总成动力加速性测试评价方法，从电驱动总成设计角度，所述的动力加速性测试方法，基于目标车型等效阻力曲线进行电驱动总成性能测试，可以实现电驱动总成输出特性关联整车动力加速性，对电驱动总成性能参数、控制策略等研发过程有益。
新能源汽车驱动总成动力加速测试评价方法

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