专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种GPU深度测试精度的评估方法-CN202011397780.X在审
  • 田泽;陈佳;姜丽云;吴晓成;李冲;刘莎 - 西安翔腾微电子科技有限公司
  • 2020-12-05 - 2021-04-30 - G06F11/22
  • 本发明属于计算机图形学技术领域,尤其涉及一种GPU深度测试精度的评估方法,该方法包括以下步骤:1)选取GPU平台;2)构造场景;3)记录分别在不同的GPU平台进行深度测试;并记录不同平台在大于、小于、等于三种模式下,不同精度的测试结果,记录不同GPU平台的深度测试小数精度;4)基于待评估模型进行深度测试并获取数据;5)深度测试的精度评估。针对各个商业显卡或者GPU平台对于深度精度不一致,本发明解决了GPU深度测试精度评估问题,从不同GPU的深度测试结果发现,测试模式不同,深度精度是不同的。本发明正确的实现了GPU深度测试精度评估方法,有效的协助了GPU设计人员根据需求选取合适的深度精度。
  • 一种gpu深度测试精度评估方法
  • [发明专利]基于区域的深度测试方法、装置、设备及存储介质-CN202310444667.X有效
  • 请求不公布姓名 - 摩尔线程智能科技(北京)有限责任公司
  • 2023-04-24 - 2023-08-11 - G06T7/50
  • 本申请实施例公开了一种基于区域的深度测试方法、装置、设备及存储介质,其中,所述方法包括:在执行图块的光栅化过程之前,对所述图块进行分割,得到多个待测试区域和每一所述待测试区域对应的区域数据;所述区域数据包括所述待测试区域的区域信息和所述待测试区域对应的图元信息;针对每一所述待测试区域,基于所述待测试区域的区域信息和所述待测试区域对应的图元信息,生成所述待测试区域的第一深度范围;从深度范围缓存中获取所述待测试区域的第二深度范围;基于所述第一深度范围和所述第二深度范围,确定所述待测试区域的深度测试结果;所述深度测试结果用于指示所述待测试区域是否需要进行像素级深度测试
  • 基于区域深度测试方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种测试硬盘与产品配合最优性能方法-CN202310701512.X有效
  • 王祥 - 四川华鲲振宇智能科技有限责任公司
  • 2023-06-14 - 2023-09-15 - G11C29/56
  • 本发明属于硬盘的性能测试领域,提出了一种测试硬盘与产品配合最优性能方法,包括:获取待测试硬盘的种类;为不同种类的待测试硬盘设置对应的前置条件;在待测试硬盘在进行性能测试之前,获取随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数;基于随机场景测试下的深度数和顺序场景测试下的深度数获取待测试硬盘的最优深度参数;以最优深度参数为基准,获取最优线程参数;采用最优线程参数和最优深度参数对硬盘进行性能测试。本发明能够在进行性能测试前对硬盘的线程变化和深度变化进行摸底,产生数据的图形进行分析,分析得出最优的线程数和深度数,获取到此参数后进行基本性能测试或者长时间稳定性测试,更快达到此配置最优性能。
  • 一种测试硬盘产品配合最优性能方法
  • [实用新型]一种电缆深度测试装置-CN201320342127.2有效
  • 杨建宝;张江涛;刘自发 - 中国海洋石油总公司;中海油田服务股份有限公司
  • 2013-06-14 - 2013-12-11 - E21B47/09
  • 本实用新型公开了一种电缆深度测试装置,包括设备架、光电测试装置和机械测试装置;光电测试装置包括光电编码器、电子深度面板、第一深度轮,机械测试装置包括机械编码器、机械深度显示器、第二深度轮,测试电缆深度时,光电编码器与第一深度轮一同旋转并产生电子测试信号,电子深度面板计算电缆的深度,机械编码器与第二深度轮一同旋转,机械深度显示器显示电缆的深度。本实用新型可在石油测井技术领域中作为电缆深度测试装置应用;本实用新型本实用新型采用了光电脉冲编码的形式和机械传动的方式两种方式来记录深度,能够准确的记录深度,更好的为作业提供深度
  • 一种电缆深度测试装置
  • [发明专利]测试方法及测试系统-CN201810778121.7有效
  • 白剑 - OPPO广东移动通信有限公司
  • 2018-07-16 - 2022-09-30 - G06T7/80
  • 本发明公开了一种测试方法。测试方法用于测试结构光设备的参数,结构光设备包括深度相机,测试方法包括步骤:驱动结构光设备运动至相对于标定板的第一测试位置;控制深度相机获取标定板的深度图像;及依据深度图像判断结构光设备的深度精度是否测试通过本发明还公开了一种测试系统。本发明实施方式的测试方法及测试系统中,通过对结构光设备的深度相机获取的深度图像,可以判断结构光设备的深度精度是否测试通过,可以在结构光设备出厂前对结构光设备的参数进行测试,避免出厂的结构光设备的参数不符要求
  • 测试方法系统
  • [发明专利]粗粒度深度测试方法以及图形处理器-CN202080105483.5在审
  • 殷亚云 - 华为技术有限公司
  • 2020-09-29 - 2023-09-05 - G06T15/00
  • 一种粗粒度深度测试方法,包括:执行当前绘制调用(draw‑call)命令的粗粒度深度测试;在当前draw‑call的粗粒度深度测试通过之后,根据当前draw‑call的配置,在粗粒度深度缓冲中对于与该当前draw‑call关联的像素区域,设置第一标记的值,指示该关联的像素区域的粗粒度深度测试是否被禁用,在粗粒度深度缓冲中对于该关联的像素区域设置第二标记的值,指示该关联的像素区域的粗粒度深度缓冲更新是否被禁用基于上述粗粒度深度测试(C‑Z测试)方法,在某些配置的当前draw‑call对后续draw‑call的粗粒度深度测试造成影响的情况下,将C‑Z测试和C‑Z缓冲更新的禁用约束在该标记对应的像素区域,而对于粗粒度深度测试和C‑Z缓冲更新未被禁用的其余像素区域,后续draw‑call可以继续执行粗粒度深度测试和C‑Z缓冲更新。这样,相比现有技术中在该当前draw‑call之后整个帧的其他后续draw‑call都不能执行粗粒度深度测试和C‑Z缓冲更新相比,尽可能减少对粗粒度深度测试效果的不利影响,改善粗粒度深度测试的效果。
  • 粒度深度测试方法以及图形处理器
  • [发明专利]WAT测试机台的参数确定方法-CN202310056384.8有效
  • 王桃环;梁君丽;王柏翔;杨锃 - 合肥晶合集成电路股份有限公司
  • 2023-01-19 - 2023-05-12 - G01R31/28
  • 本申请提供了一种WAT测试机台的参数确定方法。该方法包括:分别用目标测试机台和标准测试机台对同一个测试片的预定区域进行多次测试,分别得到多个第一数据组和多个第二数据组;获取参考深度参数和预备深度参数;在预备深度参数与参考深度参数的差值不在第一预定范围内的情况下,将参考深度参数设置为目标测试机台的目标深度参数,且调整目标测试机台的测试台高度,使得目标深度参数的大小与测试台高度的变化量的和/或差等于预备深度参数的大小。该方法在预备深度参数和参考深度参数有差异时,调整目标机台的测试台高度来弥补差异,解决了现有技术中无法在保证探针与测试片之间良好的接触质量的情况下统一所有WAT机台的深度参数的问题。
  • wat测试机台参数确定方法
  • [发明专利]人工智能系统的测试方法、装置、电子设备及介质-CN202210104967.9在审
  • 孙帅;李凡平;石柱国 - 以萨技术股份有限公司
  • 2022-01-28 - 2022-05-06 - G06F11/36
  • 本申请提供了一种人工智能系统的测试方法、装置、电子设备及介质。该方法在得到至少两个深度学习模型的模型决策因素后,获取至少两个深度学习模型的模型决策因素对应的测试数据和相应的真实输出结果;针对每个深度学习模型,基于深度学习模型输入的测试数据,对深度学习模型进行测试,获取深度学习模型输出的测试结果和当前模型指标;基于当前模型指标和深度学习模型的历史模型指标,确定深度学习模型的测试状态信息;根据深度学习模型输入的测试数据和输出的测试结果生成的测试热力图和相应的真实输出结果,确定深度学习模型的预测行为;生成测试报告。
  • 人工智能系统测试方法装置电子设备介质
  • [发明专利]图形处理中经压缩的Z平面的存储与应用-CN202210522705.4在审
  • S·曼达尔;K·谢尔森;V·兰甘纳坦;A·考克;M·诺里斯;P·萨蒂;T·村田 - 英特尔公司
  • 2022-05-13 - 2022-11-29 - G06T1/20
  • 处理器的示例包括:栅格化器,该栅格化器用于生成包括像素数据的块的像素数据的片段;深度流水线,该深度流水线用于接收该片段,该深度流水线包括第一深度测试硬件和第二深度测试硬件,该第一深度测试硬件用于执行粗深度测试,该粗深度测试包括确定每个块的最小深度和最大深度;以及深度缓冲器,其中,处理器用于确定该片段是否满足该片段完全覆盖像素数据的片并通过第一深度测试并且该片段的最小深度和最大深度中的每一个具有相同的符号和指数的要求,并且用于在确定该片段满足要求后,利用第一深度测试生成经压缩的深度平面并且利用该经压缩的深度平面更新深度缓冲器。
  • 图形处理压缩平面存储应用
  • [发明专利]深度学习算法的测试方法、装置、电子装置和存储介质-CN202110850333.3在审
  • 何为;陈艳支;姚国勤;唐贝贝;吴立 - 浙江大华技术股份有限公司
  • 2021-07-27 - 2021-11-19 - G06F11/36
  • 本申请涉及一种深度学习算法的测试方法、装置、电子装置和存储介质。其中,该深度学习算法的测试方法包括:获取待测的深度学习算法的测试集,其中,测试集包括多个测试数据,每个测试数据包括测试样本和测试标签;根据各测试标签确定各测试样本对应的标准结果;将各测试样本的测试任务并行下发到部署有待测的深度学习算法的数据计算集群,并获取数据计算集群返回的各测试样本的测试任务的执行结果,其中,执行结果包括待测的深度学习算法对应的测试样本的预测结果;根据各测试样本的标准结果和预测结果,获取待测的深度学习算法的测试结果。通过本申请,解决了相关技术中在深度学习算法的测试过程存在资源利用率低的问题,提高了资源利用率。
  • 深度学习算法测试方法装置电子存储介质
  • [实用新型]印制电路板测试设备-CN202221522316.3有效
  • 向铖;熊祖荣;张磊;唐耀;何为 - 珠海方正科技多层电路板有限公司;北大方正集团有限公司
  • 2022-06-17 - 2022-12-20 - G01R1/04
  • 本申请提供一种印制电路板测试设备,包括电源和检测线路,电源用于向检测线路供电;检测线路包括测试干路、第一测试支路和第二测试支路;测试干路包括公用测试头,公用测试头用于放入偏移参照孔道或深度测试孔道;第一测试支路包括偏移测试头和第一指示件,偏移测试头用于放入偏移测试孔道,第一指示件连接测试干路,并连接偏移测试头,第一指示件用于指示偏移测试孔道与参照孔道之间的通断状态;第二测试支路包括深度测试头和第二指示件,深度测试头用于放入深度测试孔道,第二指示件连接测试干路,并连接深度测试头,第二指示件用于指示多个深度测试孔道之间的通断状态。本申请解决了对偏移量以及背钻孔深度进行检测时,检测效率低的问题。
  • 印制电路板测试设备
  • [发明专利]油井液面深度测试仪液面深度误差的检定方法-CN200710052207.3有效
  • 唐启林;王北潜 - 湖北江汉石油仪器仪表有限公司
  • 2007-05-15 - 2008-06-18 - G01V1/40
  • 油井液面深度测试仪液面深度误差的检定方法,用带有数据采集器和信号处理器的计算机,通过现场采集、存储已知深度音标的标准井上微音器输出的反射波电信号,转换成数字信号,并输入至带数据处理回放器的计算机,经处理和回放还原为标准井微音器输出的反射波原始电信号,作为检测油井液面深度测试仪的液面测试深度误差的标准信号源,再将此信号源输入被检测的油井液面深度测试仪中,由被检测的油井液面深度测试仪测量记录的输出数据资料,计算测得的音标深度,并与已知实际音标深度相比较,两者之差即为该油井液面深度测试仪液面深度测试的误差。优点是:通过本方法获取可靠的深度标准源,可实现在实验室内完成对油井液面深度测试仪液面深度测试误差的检定,不需在油井上现场进行测试。操作方便、检定成本低、检定准确性高。
  • 油井液面深度测试仪误差检定方法
  • [发明专利]一种空间深度知觉测试系统和方法-CN202210398634.1有效
  • 卢飞;孙瑞山;孙军亚;赵向领;闫凤良;唐建勋;朱可;赵宁宁;陈昊南 - 中国民航大学
  • 2022-04-15 - 2022-12-02 - A61B5/00
  • 本发明公开了一种空间深度知觉测试系统和方法,通过虚拟空间对测试场景参数的设定,建立空间深度知觉测试场景,根据空间深度测试场景,对虚拟空间中的方块进行不同位置的排列,得到不同空间深度的位置信息,并对外接控制键盘按键与方块位置信息进行对应根据显示方块的不同位置排列、空间深度位置信息、外接控制键盘按键与方块位置信息对应,进行空间深度测试,得到测试结果。本发明可以应用于空中管制人员以及其他与空间深度知觉有关的专业人士的测试培训与选拔,并可对空间和深度两种知觉能力进行综合测试,降低了单一空间和深度知觉的测试成本,提高了对人体空间和深度知觉能力测试的效率,测试结果更加真实地反映出人体空间想象知觉能力。
  • 一种空间深度知觉测试系统方法
  • [实用新型]印制电路板和电子设备-CN202221522317.8有效
  • 向铖;张亚龙;叶依林 - 珠海方正科技多层电路板有限公司;北大方正集团有限公司
  • 2022-06-17 - 2022-10-28 - H05K1/02
  • 印制电路板包括主体和测试部;主体包括第一芯板、第二芯板和多个功能芯板,主体上设置有背钻孔;测试部连接主体,且测试部包括第一测试板、第二测试板和多个填充板;第一测试板与第一芯板对应设置,第一测试板上设置第一导电图案;第二测试板与第二芯板对应设置,第二测试板上设置第二导电图案;填充板与功能芯板对应设置;测试部设置有多个深度测试孔,深度测试孔的深度与背钻孔的深度相同,每个深度测试孔内均设置有第一导电层,深度测试孔延伸至第一测试板,第一导电层通过第一导电图案连通;深度测试孔延伸至第二测试板,第一导电层通过第二导电图案连通。本申请解决了检测背钻孔深度效率低的问题。
  • 印制电路板电子设备

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