专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测定方法-CN201110022404.7无效
  • 富田公平;高松佳央;高市隆一郎;中宗宪一;长谷部洋治 - 欧姆龙株式会社
  • 2011-01-17 - 2011-09-14 - G01H13/00
  • 本发明提供一种能够高速且非破坏地评价对象物表面的润湿性的测定方法。本发明一技术方案的测定方法包括:对对象物照射紫外线的工序;检测在对象物(OBJ)上产生的荧光强度的工序;基于所检测出的荧光强度输出用于表示对象物表面的润湿性的值的工序。本发明的另一技术方案的测定方法包括:对对象物照射紫外线的工序;检测在对象物上产生的荧光的工序;输出所检测出的荧光强度来作为表示对象物表面的润湿性的值的工序。
  • 测定方法
  • [发明专利]组成分析装置及组成分析方法-CN201980002029.4有效
  • 小嶋谦一;石黑智生 - 理研计器株式会社
  • 2019-05-29 - 2021-05-07 - G01N21/3504
  • 本发明提供容易地进行炼铁工艺中产生的副产气体的组成分析,并且连续地进行组成分析和热量的计算,另外,还能够以更高的可靠性测定副产气体的热量的组成分析装置和组成分析方法。对分析对象气体的组成进行分析的组成分析装置(10)具有:第一测定机构(11),其对分析对象气体所含的多个实测对象气体的浓度进行测定;换算热量计算机构(13),其包括分别对分析对象气体的折射率和在该分析对象气体中传播的声速进行测定的第二测定机构(12),并且分别针对该折射率和声速计算出该分析对象气体的换算热量;基准杂气总误差热量计算机构(14),其基于分析对象气体的换算热量,计算出因分析对象气体所含的杂气产生的误差热量中的成为基准的误差热量;以及第一非实测对象气体浓度计算机构(15),其基于上述实测对象气体各自的浓度和成为上述基准的误差热量,计算出第一气体的浓度。
  • 组成分析装置方法
  • [发明专利]加工系统、形状测定探针、形状算出装置及存储介质-CN201780098150.2有效
  • 山田智明;西川静雄;宫本敏;森下淳一 - 株式会社尼康;DMG森精机株式会社
  • 2017-12-25 - 2023-04-04 - B23Q17/20
  • 本发明提供一种加工系统、形状测定探针、形状算出装置及存储介质,能改善所算出的加工对象物的形状数据的精度会降低的问题。加工系统包括:机床,包含输出测定信息的测定部,测定信息用以算出加工对象物的形状;控制部,生成与测定加工对象物时的测定部的位置相关的位置信息,并输出所生成的位置信息与表示生成位置信息的时期的生成时期信号;获取所输出的位置信息与生成时期信号;获取间隔算出部,算出表示与获取部所获取的多个生成时期信号相关的获取时期的间隔的统计值;推定部,基于获取间隔算出部所算出的统计值,来推定生成位置信息的时期;以及形状算出部,基于测定信息、位置信息及推定部所推定的时期,来算出加工对象物的形状。
  • 加工系统形状测定探针装置存储介质
  • [发明专利]温度测定方法及温度测定装置-CN201380018614.6有效
  • 大重贵彦 - 杰富意钢铁株式会社
  • 2013-03-01 - 2017-03-08 - G01J5/10
  • 回归式制成部(3)对于通过使用接触式温度计测定测定对象物的温度测定值而确定的检量线制成用的分光光谱信息进行基础分解,算出基础的得分a(k,j),根据得分a(k,j)和检量线制成用的分光光谱信息所对应的接触式温度计温度推定部(4)基于测定对象物的分光光谱信息和通过回归式制成部(3)算出的基础,算出基础的得分a(k,j),基于算出的得分a(k,j)和多元回归系数(c(k),k=1,2)来推定测定对象物的温度。由此,不计算放射率的组合解,能够不受放射率的变动的影响而高精度地对测定对象物的温度进行测定
  • 温度测定方法装置
  • [发明专利]凸块电极检查方法及凸块电极检查系统-CN201280004123.1有效
  • 中村琢也 - 株式会社村田制作所
  • 2012-01-17 - 2013-09-11 - H01L21/60
  • 具备:在将具有与凸块电极(12)抵接的由金属制的突起构成的接触件的检查用电路基板(110)与检查对象物(10)按压的状态下测定检查对象物(10)的电特性的第一测定工序;在第一测定工序后,在将具有与凸块电极(12)抵接的由金属制的突起构成的接触件的检查用电路基板(110)与检查对象物(10)按压的状态下再次测定检查对象物(10)的电特性的第二测定工序。凸块电极(12)的在第一测定工序中与接触件抵接的区域即第一抵接区域与凸块电极(12)的在第二测定工序中与接触件抵接的区域即第二抵接区域至少在一部分不重复。
  • 电极检查方法系统

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