专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]芯片散热方式的测试工装-CN202022175297.9有效
  • 邢昱阳;李姣枫;刘志勇;刘琛;库淼 - 大唐移动通信设备有限公司
  • 2020-09-28 - 2021-07-27 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种芯片散热方式的测试工装,所述芯片散热方式的测试工装包括本体,所述本体包括测试平台,所述测试平台上设有散热装置,所述散热装置包括散热件和导热界面层,所述散热件可拆卸地设在所述测试平台上,所述导热界面层设在所述散热件远离所述测试平台的侧面上,所述散热件为第一铝块,或者所述散热件包括第二铝块和铜片,或者所述散热件为浮动VC散热器。本实用新型的芯片散热方式的测试工装,通过将散热件与测试平台可拆卸地连接,便于散热件的拆卸和安装,工作人员可以根据具体测试需求选择不同的散热件,从而对多种芯片单点散热方式进行测试,大大降低了测试成本,具有较高的实用性
  • 芯片散热方式测试工装
  • [实用新型]一种测试夹具的冷却结构-CN201921781119.1有效
  • 张艳春;雷谢福;杨国文;赵卫东;陈家洛;李特;陆翼森;朱伟民 - 度亘激光技术(苏州)有限公司
  • 2019-10-22 - 2020-07-28 - G01R1/04
  • 一种测试夹具的冷却结构,其特征在于:包括:第一散热单元,用于在测试时对待测试器件进行散热;热沉,用于承载待测试器件,同时在测试时对待测试器件进行散热;导热正极块,用于在测试时为待测试器件供电以进行测试,同时将待测试器件产生的热量传递至第一散热单元或/和热沉;导热负极块,用于在测试时为待测试器件供电以进行测试,同时将待测试器件产生的热量传递至第一散热单元或/和热沉;所述导热正极块和导热负极块设于热沉与第一散热单元之间,导热正极块和导热负极块之间间隔布置;所述第一散热单元设于导热正极块和导热负极块上方,以此在导热正极块、导热负极块及第一散热单元之间形成一散热空间。
  • 一种测试夹具冷却结构
  • [实用新型]具有散热装置的半导体晶片测试装置及检测系统-CN201020566364.3有效
  • 许哲豪;康博诚 - 致茂电子(苏州)有限公司
  • 2010-10-19 - 2011-07-13 - G01R31/28
  • 本实用新型提供一种具有散热装置的半导体晶片测试装置及检测系统。该测试装置包含:一散热底座,该散热底座上形成有槽道,并于槽道上形成至少一个快速进/出气接头;一测试板,该测试板上设有一提供半导体晶片插置的测试座,前述的散热底座贴附于相对测试座的测试板上另一侧;以及一组散热模组,设置于测试板上方,用于对半导体晶片以一预定路径行程进行接触压置,并以多个散热鳍片及至少一风扇对该半导体晶片进行散热;其中,半导体晶片插置于测试板上的测试座,测试时对测试座及半导体晶片进行散热。该检测系统包括多个测试装置设置于该机台上,测试时透过该散热底座及散热模组分别对测试座及半导体晶片进行散热
  • 具有散热装置半导体晶片测试检测系统
  • [发明专利]一种散热系统及其散热控制方法-CN202111365570.7在审
  • 陈涛 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2021-11-17 - 2022-04-15 - G01R31/40
  • 本发明实施例提供了一种散热系统及其散热控制方法,散热系统应用于目标电源的电源完整性测试,包括:电流检测装置、控制装置及散热装置,其中,散热装置设置与目标测试电源相对设置,用于为目标测试电源进行散热;电流检测装置设置于目标测试电源的测试回路中,用于检测目标测试电源所在测试回路的电流值;控制装置的输入端与电流检测装置连接,输出端与散热装置连接,用于根据电流值调节散热装置的散热功率。通过在测试回路中设置电流检测装置的方式对目标测试电源实时输出的电流值进行检测,以确定目标测试电源实时的热量排放情况,进而动态调整散热装置的散热功率,从而在保障电源散热效果的同时避免了能源的浪费,提高了散热装置的利用率
  • 一种散热系统及其控制方法
  • [实用新型]散热测试装置-CN201620434167.3有效
  • 周阳;肖辉 - 昆明纳太科技有限公司
  • 2016-05-12 - 2016-10-12 - G01N25/20
  • 本实用新型涉及一种可用于散热散热性能测试散热测试装置。其包括隔离罩、支架、发热元件、温度检测装置以及供压装置。该热测试装置及散热测试方法,通过在隔离罩内将发热元件与提供发热所需的供压装置相连,通过温度检测装置监测并记录发热元件的表面温度情况,并根据该监测和记录结果分析待测试散热元件的散热能力,可以排除因热对流和热传导带来的检测误差,使散热元件的散热能力能够得到客观公正的反映。该散热测试装置可广泛应用在碳纳米材料和/或金属散热材料等制成的散热膜的散热测试过程中,具有测试操作简单、方便、测试效率高等优点。
  • 散热测试装置
  • [实用新型]测试治具及其测试组件-CN201520193423.X有效
  • 张卓 - 恩斯迈电子(深圳)有限公司
  • 2015-04-01 - 2015-07-22 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种测试治具及其测试组件,所述测试组件包括:测试元件,具有散热表面;散热金属片,具有散热接触片;固定件,所述测试元件固定于所述固定件,并露出所述散热表面,所述固定件连接于所述散热接触片;以及制冷片,具有冷端面和热端面,设置于所述固定件与所述散热金属片之间,所述冷端面与所述测试元件的所述散热表面贴合,所述热端面与所述散热金属片的所述散热接触片贴合。本实用新型将散热系统固定下来,使测试操作变的更方便,减少了测试耗时。
  • 测试及其组件
  • [实用新型]一种便于操作的变频器性能测试平台-CN202022536518.0有效
  • 敖明耀 - 常州凌科自动化科技有限公司
  • 2020-11-05 - 2021-06-15 - G01R31/00
  • 本实用新型提供一种便于操作的变频器性能测试平台,属于变频器测试平台技术领域,该一种便于操作的变频器性能测试平台包括测试设备仓,所述测试设备仓的下表面固定连接有测试仓,所述测试仓的下表面固定连接有放置仓,所述放置仓的侧面开设有散热槽,所述散热槽的内壁固定连接有防尘网,所述测试仓的背面固定连接有支撑杆,所述支撑杆的正面固定连接有风扇转轴,通过散热槽、防尘网、散热扇和防尘罩的设置,使用测试平台测试变频器时,打开散热扇,散热扇吹出的风从左右两侧的散热槽中流出,使得测试设备的温度降低,提升测试效率,散热槽内的防尘网以及散热扇后的防尘罩,可以有效减少外部灰尘流进来,使得内部没有那么脏。
  • 一种便于操作变频器性能测试平台
  • [发明专利]电子组件测试治具及测试方法-CN201310077669.6有效
  • 黄文乙 - 技嘉科技股份有限公司
  • 2013-03-12 - 2017-08-11 - G01R1/02
  • 本发明涉及一种电子组件测试治具及测试方法,用在不同散热模式下测试电子组件的解热需求。电子组件测试治具包括有散热座、散热器以及风扇。散热器与风扇可拆卸地设置在散热座上,其中散热器在一第一散热模式下设置在散热座上,并且与散热座形成一第一散热模块,而风扇在一第二散热模式下设置在散热座上,并且与散热座形成一第二散热模块,从而提供电子组件不同的散热模式,以测试其解热需求。
  • 电子组件测试方法

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