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- [实用新型]电迁移测试结构-CN201520408049.0有效
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赵祥富
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中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
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2015-06-12
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2015-10-21
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H01L23/544
- 本实用新型提出了一种电迁移测试结构,包括多个相同的测试单元、多条具有PN结的金属连线、多个感知测试盘,测试单元的两端通过金属连线分别与感知测试盘相连,构成多条测试回路,使其中一部分测试回路导通时,其余部分的测试回路关断本实用新型采用具有PN结的金属连线组成多条测试回路,借助于PN结的单向导通性能,使一部分测试回路导通时,另一部分测试回路关断;当对导通的测试回路进行电迁移测试时,由于其余测试回路关断,则可以对关断的测试回路进行应力迁移测试,由应力迁移测试结果来判断是否对电迁移测试进行补偿,排除应力迁移对电迁移测试造成的干扰,提高测试电迁移测试的精度。
- 迁移测试结构
- [发明专利]照明回路的测试方法和系统-CN201910212214.8有效
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穆建江;王玥;李勋;王晶
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浙江创意声光电科技有限公司
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2019-03-20
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2021-03-23
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G01R31/28
- 本发明涉及一种照明回路的测试方法和系统,客户端获取用户在所述客户端输入的需测试照明回路,并根据需测试照明回路的标识信息、需测试照明回路的状态以及相应的用于控制需测试照明回路状态的状态控制设备的标识信息向服务端发起请求;所述服务端响应所述请求根据所述状态控制设备的标识信息查询所述状态控制设备是否与所述服务端连接;如是,所述服务端根据需测试照明回路的标识信息以及需测试照明回路的状态组装回路测试指令,并将所述回路测试指令发送至所述状态控制设备;所述状态控制设备根据所述回路测试指令修改需测试照明回路的状态;所述状态控制设备获取并关联状态变化与需测试照明回路的状态变化一致的现场灯具,并展示关联情况。
- 照明回路测试方法系统
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