专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]成像系统和成像方法-CN201980082527.4在审
  • E·G·P·舒伊杰斯;R·维哈根;J·帕雷罗 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2019-12-06 - 2021-07-23 - G06T7/246
  • 根据一个方面,提供了一种用于对象成像的成像系统(1),所述成像系统(1)包括:光谱相机(2),被配置为在包括多个光谱时间点的光谱捕获时段中捕获对象(6)的光谱图像,所述光谱图像包括多个光谱帧,每个光谱帧在多个波长中的一个波长处被捕获,并且每个光谱帧对应于所述多个光谱时间点中的一个光谱时间点;参考相机(3),被配置为在包括多个参考时间点的参考捕获时段中捕获所述对象(6)的参考图像,参考捕获时段对应于所述光谱捕获时段,所述参考图像包括多个参考帧,每个参考帧对应于所述多个参考时间点中的一个参考时间点以及所述多个光谱帧中的一个光谱帧;计算单元(4),被配置为针对所述多个参考帧的子集中的每个参考帧计算运动向量;以及对准单元(5),被配置为通过将所计算的每个运动向量应用到所述多个光谱帧中与之相对应的所述一个光谱帧来使所述光谱帧彼此对准
  • 成像系统方法
  • [发明专利]用于配置光谱测定装置的方法-CN202080033682.X在审
  • A·拉博德;C·梅西埃;Y·科特;安东尼·布朗热 - 格林特罗皮斯姆公司
  • 2020-04-03 - 2021-12-14 - G01N21/27
  • 本发明涉及一种用于借助于参考光谱测定装置来配置目标光谱测定装置的方法(1),每个光谱仪包括光源和检测器,所述检测器适于检测由所述源发出并由对象反射或透射的光辐射,由此生成光谱测量结果,所述光谱测量结果包括针对每个对象的一系列n个光谱和针对每个系列的光谱所测量的平均光谱,所述方法包括以下步骤:‑利用参考光谱仪获取(10)参考样品集合的参考光谱测量结果,并将所述光谱测量结果存储在参考数据库中;‑利用目标光谱仪获取(12)参考样品的子集的目标光谱测量结果,并将所述光谱测量结果存储在目标数据库中;‑从参考光谱测量结果和目标光谱测量结果确定(14)每个参考样品的平均光谱sS;‑为每个平均光谱sS确定(16)一系列n个光谱si(i=1…n),这包括确定目标光谱仪的光学传递函数并将光学传递函数应用于由参考光谱仪测量的每个平均光谱的步骤;以及‑将每个参考样品的平均光谱和所述一系列n个光谱存储(18)在目标数据库中,其中,所述确定步骤(14、16)借助于计算模块来执行。
  • 用于配置光谱测定装置方法
  • [发明专利]用于检查有价值文档的方法-CN201280015715.3有效
  • W.劳舍尔;J.弗兰肯伯杰 - 德国捷德有限公司
  • 2012-04-04 - 2013-12-25 - G07D7/12
  • 本发明涉及用于检查有价值文档的方法,其可以检查要检查的有价值文档的亮度光谱参考光谱之间的相似度。为了检查从要检查的有价值文档获取的亮度光谱参考光谱的相似度,不是将记录的亮度光谱自身与参考光谱比较,而是用已经适用于参考光谱且利用线性校正而从所获取的亮度光谱产生的校正的亮度光谱来比较。线性校正函数的校正参数是通过将线性校正的亮度光谱适用于参考光谱而确定的。通过适用,使得由于测量技术造成的所获取的亮度光谱的波动得到至少部分补偿。
  • 用于检查有价值文档方法
  • [发明专利]喇曼光谱测定仪和方法-CN95193313.2无效
  • 丹尼尔·查尔斯·阿斯米尔;布芮达·阿谢克·伽拉;文森特·阿尔特·尼塞里 - 伊斯特曼化学公司
  • 1995-05-15 - 2002-02-20 - G01J3/44
  • 本发明提出了一种可以测量并且补偿其中的变化的喇曼光谱测定仪,它由以下几个部分组成单色光辐射源;同时辐射样本和参考物质的装置;同时在多个波长处获取样本的卷积喇曼光谱参考物质的卷积喇曼光谱的装置;以及确定卷积光谱的卷积函数,并应用卷积函数来调整样本的卷积喇曼光谱以由此产生样本的标准喇曼光谱的装置、本发明还提供了一种获取样本的标准喇曼光谱的方法;此方法包括以下步骤(a)用单色光辐射源同时辐射样本和参考物质;(b)同时在多个波长处获取样本的卷积光谱参考物质的卷积光谱;(c)选择参考物质的标准光谱;(d)由样本的卷积喇曼光谱参考物质的卷积光谱,和参考物质的标准光谱确定卷积光谱的卷积函数;和(e)运用卷积函数来调整样本的卷积光谱,以由此产生样本的标准喇曼光谱
  • 光谱测定方法
  • [发明专利]优化的光谱匹配和显示-CN201680013762.2有效
  • K·奈德伟德;T·阿布什尔 - 生物辐射实验室股份有限公司
  • 2016-03-03 - 2020-09-01 - G01N21/25
  • 提供了用于识别最优光谱匹配并潜在地显示所比较光谱的系统、方法、和装置。可以将样本物质的样本光谱参考光谱进行比较从而识别匹配,由此确定所述样本物质是什么的可能性。可以对所述样本光谱和/或所述参考光谱使用(多个)校正参数。可以将所述(多个)校正参数的(多个)初始值应用于所述样本光谱和/或参考光谱,并且可以确定相似度得分。可以向用户输出与具有高于阈值的最优相似度得分的所述参考物质有关的数据,例如所述参考光谱可以覆盖所述样本光谱。用户可以然后最终确定哪种参考物质与所述参与样本相对应。
  • 优化光谱匹配显示
  • [发明专利]检测方法、近红外光谱式监测装置及存储介质-CN202310154432.7在审
  • 李客南;谢鹏 - 深圳市农博创新科技有限公司
  • 2023-02-10 - 2023-04-21 - G01N21/359
  • 本发明公开一种检测方法、近红外光谱式监测装置及存储介质,该方法包括:确定近红外光谱式监测装置照射待测物品时当前的实际光强;获取实际光强对应的参考光谱数据;获取基于实际光强照射待测物品时对应的实际光谱数据;比对实际光谱数据与参考光谱数据;根据比对结果确定待测物品的组分信息。本发明的检测方法采用近红外光谱式监测装置检测待测物品的组成成分时,先确定近红外光谱式监测装置发光照射待测物品时当前的实际光强,将实际光强对应的参考光谱数据作为参考基准,以使得检测待测物品的组成成分时的参考基准是准确的,获取基于,比对实际光强照射待测物品时对应的实际光谱数据与参考光谱数据,以准确获取得到待测物品的组分信息。
  • 检测方法红外光谱监测装置存储介质
  • [发明专利]织物识别装置和用于识别织物类型的方法-CN201980077394.1在审
  • M·霍曼;C·克里克卡尔德龙;P·诺伊迈尔 - 罗伯特·博世有限公司
  • 2019-11-22 - 2021-09-03 - D06F34/18
  • 一种织物识别装置(1),其具有IR扫描器(2)和数据处理装置(3),所述数据处理装置用于根据借助IR扫描器(2)从测量织物接收的IR测量光谱来识别所述测量织物的织物类型,其中,所述数据处理装置(3)设置用于,根据与相应于不同的参考织物类型的IR参考光谱的比较对所接收的IR测量光谱或者由其计算出的IR测量光谱分类并且采用下述参考织物类型作为织物类型,该参考织物类型的IR参考光谱表明与所述IR测量光谱最相符。一种用于识别织物类型的方法(S1‑S7),其中,接收测量织物的至少一个IR测量光谱(S1);通过与相应于不同的参考织物类型的IR参考光谱的比较对所接收的IR测量光谱或者由其计算出的IR测量光谱分类(S6);并且采用下述参考织物类型作为所述测量织物的织物类型,该参考织物类型的IR参考光谱表明与所述IR测量光谱最相符(S6)。
  • 织物识别装置用于类型方法

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