[发明专利]喇曼光谱测定仪和方法无效

专利信息
申请号: 95193313.2 申请日: 1995-05-15
公开(公告)号: CN1079533C 公开(公告)日: 2002-02-20
发明(设计)人: 丹尼尔·查尔斯·阿斯米尔;布芮达·阿谢克·伽拉;文森特·阿尔特·尼塞里 申请(专利权)人: 伊斯特曼化学公司
主分类号: G01J3/44 分类号: G01J3/44
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 程伟
地址: 美国田*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提出了一种可以测量并且补偿其中的变化的喇曼光谱测定仪,它由以下几个部分组成单色光辐射源;同时辐射样本和参考物质的装置;同时在多个波长处获取样本的卷积喇曼光谱和参考物质的卷积喇曼光谱的装置;以及确定卷积光谱的卷积函数,并应用卷积函数来调整样本的卷积喇曼光谱以由此产生样本的标准喇曼光谱的装置、本发明还提供了一种获取样本的标准喇曼光谱的方法;此方法包括以下步骤(a)用单色光辐射源同时辐射样本和参考物质;(b)同时在多个波长处获取样本的卷积光谱和参考物质的卷积光谱;(c)选择参考物质的标准光谱;(d)由样本的卷积喇曼光谱,参考物质的卷积光谱,和参考物质的标准光谱确定卷积光谱的卷积函数;和(e)运用卷积函数来调整样本的卷积光谱,以由此产生样本的标准喇曼光谱。
搜索关键词: 光谱 测定 方法
【主权项】:
1.一种可以测量并且补偿在仪器中产生的变化的喇曼光谱测定仪,包括基本单色光的辐射源,其特征在于:可同时用所述辐射接触样本和参考物质的装置;在多个波长处同时获取所述样本的卷积喇曼光谱和所述参考物质的卷积光谱的装置;以及由所述卷积光谱和所述参考物质的标准光谱决定所述卷积光谱的卷积函数,并应用所述卷积函数来调整所述样本的所述卷积喇曼光谱以由此产生所述样本的标准喇曼光谱的装置。
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  • 本发明提供一种斯托克斯‑傅里叶变换偏振光谱仪,包括:望远系统、偏振调制系统、偏振干涉系统和成像系统;目标场景发出的目标光场入射至望远系统被准直为平行光场;平行光场入射到偏振调制系统得到线偏振光场,线偏振光场入射至偏振干涉系统得到偏振干涉光场;偏振干涉光场经检偏器偏振片得到线偏振光入射至成像系统得到偏振干涉图像阵列;通过对偏振干涉图像阵列进行干涉图信号提取和傅里叶变换处理,进而解调出目标光场在所有视场中各斯托克斯参量的光谱信息。本发明实现了目标光场在横向空间的分布式相位调制,获得了偏振调制的干涉图阵列并对其进行处理,实现了所有斯托克斯参量光谱的解调,提高了偏振与光谱信息获取的实时性。
  • 时空联合调制傅里叶变换斯托克斯偏振成像光谱仪-202310181632.1
  • 吕金光;梁静秋;赵莹泽;赵百轩;郑凯丰;陈宇鹏;王惟彪;秦余欣 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2023-02-28 - 2023-05-23 - G01J3/447
  • 本发明提供一种时空联合调制傅里叶变换斯托克斯偏振成像光谱仪,沿光束传播方向依次包括:望远系统、偏振调制系统、会聚系统、偏振干涉系统和成像系统;目标场景发出的目标光场入射至望远系统中被准直为平行光场;准直后的平行光场入射到偏振调制系统得到线偏振光场入射至会聚系统;会聚系统用于将线偏振光场成像至偏振干涉系统后产生叠加干涉形成具有特定光程差分布特点的偏振干涉成像光场入射至成像系统中得到偏振干涉图像;通过对目标场景进行步进扫描,获得偏振干涉图像立方体,通过提取每一个视场对应的各干涉级次的干涉图,对其进行斯托克斯通道滤波和傅里叶变换,进而解调出目标光场各斯托克斯参量的光谱信息。
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