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[发明专利]测距装置以及测距装置中的异常判定方法-CN202080022913.7在审
发明人：尾崎宪幸;林内政人;秦武广 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-02-05 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：测距装置100具备：受光部30，具有用于接受入射光的多个受光区域，以各受光区域为单位来执行入射光的受光；以及发光部20，与各受光区域对应地排他地执行检测光的照射。测距装置100还具备异常判定部10，在根据检测光的照射而由受光部接受入射光时，该异常判定部10根据多个受光区域中的、与排他性的检测光的照射对应的受光对象区域中的入射光强度的特性和与排他性的检测光的照射不对应的受光非对象区域中的入射光强度的特性之间的不同
测距装置以及中的异常判定方法

[发明专利]一种智能混光系统和方法-CN201310337956.6在审
发明人：莫进平;谢海军;张永旭 -专利权人：上海广茂达光艺科技股份有限公司
申请日： 2013-08-05 - 公布日： 2015-02-11 - 主分类号： F21S2/00 文献下载
摘要：本发明提供一种智能混光系统和方法，涉及照明混光领域，所述智能混光系统至少包括入射光模块、至少一种漫射介质和控制单元，所述入射光模块包括产生至少两种不同颜色和/或不同色温的入射光束的多个LED光源，所述漫射介质用于依据接收的所述至少两种不同颜色和/或不同色温的入射光束发出均匀分布的漫射光，所述控制单元与所述入射光模块连接，用于根据所述漫射介质的物理特性和/或光学特性控制所述多个LED光源发出的入射光束之间的比例，根据本发明能解决光环境照明和/或色彩不足
一种智能系统方法

[发明专利]基于光子晶体场谐振模式的光开关控制方法及光开关-CN201910766475.4有效
发明人：董国艳;乔鹏武;郑姝慧 -专利权人：中国科学院大学
申请日： 2019-08-19 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G02B6/12 文献下载
摘要：一种基于光子晶体谐振体的场谐振模式的光开关控制方法及关开关，该方法是将两束入射光同时沿同一光轴方向垂直入射到具有线性色散特性的光子晶体谐振体上，第一条入射光为固定入射光，第二条入射光为动态相位可调入射光，两束入射光被反射后在光子晶体谐振体中发生场谐振叠加，并在垂直入射光轴的方向产生对称的辐射光束，通过调节第二束入射光的相位，控制两束入射光之间的相位差为0或π，实现光子晶体谐振体的对称辐射光束的开关状态所述光开关包括激光器、透镜、分束棱镜和光子晶体谐振体，分束棱镜的分束方向设置有反射镜，光子晶体谐振体垂直设置于合束后的两束入射光的光轴上。本发明工作波长可选择、集成度高、集光开关与分束器功能于一体。
基于光子晶体谐振模式开关控制方法

[发明专利]一种微纳吸收陷光结构-CN201910719403.4在审
发明人：唐先龙;张中侠;王天堃 -专利权人：金华伏安光电科技有限公司
申请日： 2019-08-06 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： G02B5/00 文献下载
摘要：本发明涉及微纳光学技术领域，具体涉及一种微纳吸收陷光结构，包括基底层，所述基底层上表面设有陷光结构，所述陷光结构按照矩形周期排列于所述金属薄膜上，所述陷光结构表面设有一层金属颗粒，所述陷光结构之间设有金属微纳结构利用陷光结构改变入射光的传播途径，通过多次折射和散射，将入射光线分散至金属微纳结构表面，从而增加入射光在金属微纳结构上的光程，提高金属微纳结构与入射光的作用时间与作用面积，使金属微纳结构对于入射光吸收更强，增强金属颗粒与金属微纳结构之间的耦合，产生更强的吸光特性，从而产生强的圆二色信号和非对称传输特性。
陷光结构微纳结构金属入射光金属颗粒吸收基底层上表面微纳结构表面传播途径传输特性金属薄膜入射光线微纳光学吸光特性周期排列耦合非对称基底层散射二色光程折射

[发明专利]用椭偏法测量临界尺寸的设备和方法-CN99125883.5无效
发明人： A·米凯利斯;O·根兹;U·曼茨 -专利权人：西门子公司
申请日： 1999-12-02 - 公布日： 2000-06-07 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：按照本发明测量具有外形双折射的表面图形的设备包括一个光源为带有表面图形的表面提供入射光;一个光探测器用来测量入射光被表面图形反射后的特性;一个转台使样品表面转动,使得入射光因转台转动而以不同的角度入射;还包括一个处理器来处理测得的反射光特性,并使之与测得的表面图形相关联。
用椭偏法测量临界尺寸设备方法

[发明专利]反射体和液晶显示装置以及反射体制造用压头-CN200510113611.8无效
发明人：吉井克昌;千喜良知惠 -专利权人：阿尔卑斯电气株式会社
申请日： 2005-10-11 - 公布日： 2006-04-19 - 主分类号： G02F1/1335 文献下载
摘要：本发明的目的在于，提供一种即使从2个方向观察时亦示出良好的反射特性的反射体。采用反射体(30)，该反射体(30)具有下述特征：安装在反射型或者半透射型的液晶显示装置，当入射光从第1方向(Y)入射时，其反射特性曲线为非高斯分布，相对于入射光的正反射角示出非对称的反射率分布，反射率的最大值处于比入射光的正反射角度小的反射角度范围；并且当入射光从与第1方向(Y)交叉的第2方向(X)入射时，亦示出与第1方向(Y)的情形相同的非高斯分布型的反射特性曲线。
反射液晶显示装置以及体制压头

[实用新型]一种饮用水水质检测装置-CN202121415027.9有效
发明人：王萍;张小欧;刘顺珍 -专利权人：成都益清源科技有限公司
申请日： 2021-06-24 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：一种饮用水水质检测装置，包括第一入射光源和第二入射光源、光探测器、光学池，第一入射光源提供易被COD/TOC吸收的第一入射光和不易被COD/TOC吸收的第二入射光，第二入射光源提供不易被COD/TOC吸收的第三入射光第一入射光源和光学池、光探测器在同一条直线A上，第二入射光源不在直线A上；第二入射光源和光学池的连线，与第一入射光源和光学池的连线的夹角为锐角或直角。当不同水质的水体流经光学池时，形成不同的光谱特性曲线，结合数学算法及参数标定，实现对COD和TOC以及水体浊度的快速检测。本检测装置精度高、成本低，可广泛应用于家庭饮用水水质检测。
一种饮用水水质检测装置

[发明专利]图像处理装置、图像处理方法、程序及记录介质-CN201380063609.7有效
发明人：林健吉 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2013-11-11 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： H04N9/07 文献下载
摘要：在本发明所涉及的图像处理装置、图像处理方法、程序及记录介质中，对异常倾斜入射光(重影光)入射到的像素的像素数据，降低同色像素间的像素数据的级差，另外，对异常倾斜入射光未入射到的像素的像素数据，校正由像素特性所引起的混色当马赛克状的图像数据(RGB图像)被输入到混色判定校正部时，由混色校正判定部获取图像数据(像素数据)，由混色校正判定部判定图像数据中有无重影光等异常倾斜入射光。在判定为图像数据中有异常倾斜入射光的入射的情况下，进行混色校正B，消除G像素间的像素数据的级差。另一方面，在判定为图像数据中没有异常倾斜入射光的入射的情况下，进行混色校正A，校正与摄像元件固有的像素特性对应的混色。
图像处理装置方法程序记录介质

[发明专利]用椭偏法测量临界尺寸的设备和方法-CN200810084542.6有效
发明人： A·米凯利斯;O·根兹;U·曼茨 -专利权人：西门子公司
申请日： 1999-12-02 - 公布日： 2009-04-01 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用椭偏法测量临界尺寸的设备，按照本发明测量具有外形双折射的表面图形的设备包括一个光源为带有表面图形的表面提供入射光；一个光探测器用来测量入射光被表面图形反射后的特性；一个转台使样品表面转动，使得入射光因转台转动而以不同的角度入射；还包括一个处理器来处理测得的反射光特性，并使之与测得的表面图形相关联。
用椭偏法测量临界尺寸设备方法

[发明专利]摄像元件-CN200580016433.5无效
发明人：福吉健藏;北村智史 -专利权人：凸版印刷株式会社
申请日： 2005-06-20 - 公布日： 2007-05-02 - 主分类号： H01L27/14 文献下载
摘要：在本发明的实施例中，摄像元件(1)具备用于抽取入射光中特定的色分量的滤光器(2B)；经由滤光器(2B)来观测入射光的受光元件(3B)；在可视光波段下具有抑制透过特性、并且在波长比可视光波段长的一侧波段中具有透过特性的修正滤光器(2B1k)；和为了修正受光元件(3B)得到的观测结果、经由修正滤光器(2B1k)来观测入射光的修正受光元件(3B1k)。
摄像元件

[发明专利]照明检测装置及其方法-CN201680049116.1在审
发明人：黄荣植;李奉永;廉太镐 -专利权人：株式会社普瑞密斯
申请日： 2016-06-24 - 公布日： 2018-05-11 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明公开了照明检测装置及其方法，其包括：第一输出单元，接收从光源输出的包括可视光线领域和红外线领域的第一入射光，输出对应于所述第一入射光的第一电信号；第二输出单元，接收包括所述第一入射光中选择的波长范围的可视光线领域和红外线领域的第二入射光，输出对应于所述第二入射光的第二电信号；及信号处理单元，参照所述输出的第一电信号和第二电信号，获得对所述光源的照明值，分析所述光源的种类及特性中至少一个。
照明检测装置及其方法

[发明专利]测量装置、测量系统、测量程序以及测量方法-CN201980047448.X在审
发明人：渡边义浩;石川正俊;加地宏乃介 -专利权人：国立大学法人东京大学
申请日： 2019-07-26 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明提供了一种以少量采样数且更加高速和高精确度地测量所期望的对象物的反射特性的测量装置、测量系统、测量程序以及测量方法。根据本发明的一种实施方式，提供一种反射特性的测量装置，其特征在于具备控制部，所述控制部构成为基于对象信息和指令信息来测量对象物的反射特性，所述对象信息是包含与入射光的光源位置、反射光的光检测位置和所述对象物中的测量部位的坐标位置关系以及所述入射光和所述反射光有关数值的信息，所述入射光是被照射至所述测量部位的光，所述反射光是由所述入射光被照射至所述测量部位然后从所述测量部位反射的光，所述指令信息是与所述反射特性的已知测量结果有关的信息，所述对象信息所包含的所述坐标位置关系的组合数为
测量装置系统程序以及测量方法

[发明专利]偏振光学元件以及包括此偏振光学元件的显示器件-CN200410062019.5无效
发明人：植木俊;田口登喜生;柴田谕;箕浦洁;清水雅宏 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2004-06-25 - 公布日： 2005-02-09 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：偏振光学元件根据入射光的偏振状态而改变其光反射率和/或透射率。此光学元件包括：包括沿预定方向延伸的多个条形部分的第一光栅层；以及包括沿此预定方向延伸的多个条形部分的第二光栅层。第一和第二光栅层的平均光栅间距都被确定为小于入射光的波长。第一光栅层由对入射光呈现光反射特性的第一材料组成。第二光栅层由降低来自第一光栅层的入射光的反射的第二材料组成。
偏振光学元件以及包括显示器件

[发明专利]偏振保持棱镜-CN200810044504.8无效
发明人：闫连山 -专利权人：西南交通大学
申请日： 2008-04-02 - 公布日： 2008-09-24 - 主分类号： G02B17/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种在光路折回情况下依然可以保持光信号偏振特性不变的棱镜结构。光路顺序包括：第一反射面，第二反射面，第三反射面和第四反射面；由第一反射面的入射光与反射光组成的平面垂直于第二反射面的入射光与反射光所组成的平面；而第三反射面的入射与反射光组成的平面又与第四个入射光和反射光组成的平面通过将光线在不同平面内多次反射，使得光信号的两个偏振分量两次交换，最后当光路沿同一方向返回时，信号的偏振特性不发生改变。
偏振保持棱镜

[发明专利]一种通过电场调控的光学结构-CN201811202491.2在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：中山科立特光电科技有限公司
申请日： 2018-10-16 - 公布日： 2018-12-18 - 主分类号： G02B5/18 文献下载
摘要：设置于衬底层上的导电层，该导电层与电源负极电连接，所述导电的上方设置有调节层，所述调节层的上方设置有第二导电层，该第二导电层与电源正极电连接，该通过电场调控的光学结构，解决了解决现有光学结构固定不可改变所带来的光特性研究不便的问题，能够根据入射光的特性，调节光学结构的高度，使得光学结构与入射光更容易达到所要的匹配效果，从而提高光特性研究的效率，也使得光特性的应用更加便捷，通过在光学结构中设置压电材料，利用压电材料对电的敏感特性，从而调节压电材料的高度，使得整个光学结构的高度是可调的，有利于与入射光更好的相匹配。
光学结构电场调控压电材料光特性入射光第二导电层衬底层导电层电连接调节层电源负极电源正极敏感特性匹配效果可调的导电匹配研究应用

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