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[发明专利]一种雷达整机环试测试系统-CN202310782940.X在审
发明人：黄志强;于鑫;袁先明;侯飞;柳尚光;钟永磊 -专利权人：南京国睿防务系统有限公司
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种雷达整机环试测试系统，包括：环试组网远程自动化系统、ITSS环试自动测试系统、智能化终端、智能中枢和作为被测试产品的雷达整机，环试组网远程自动化软件负责实现远程控制多台环试测试工位自动测试、故障综合判读及告警功能；ITSS环试自动测试系统自动接收来自各测试仪表回送的测试数据；智能中枢一端接收雷达整机待测试的所有微波信号、定时信号和控制信号，根据具体的测试项目，控制微波开关建立相应的信号通路，自动的将信号连接到对应的测试仪表，完成相应的自动测试。本发明使整机环试测试各测试点、各环节自动操作、数据自动分析处理，结果提供给外部支持系统和决策系统。
一种雷达整机测试系统

[发明专利]一种半峰宽自动化测试工装-CN202111075162.8有效
发明人：李乾;李达;折伟林;邢伟荣;刘铭;韦书领 -专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所
申请日： 2021-09-14 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种半峰宽自动化测试工装，所述半峰宽自动化测试工装包括：光信号处理系统，用于基于样品生成测试信号，所述光信号处理系统中的样品台包括用于定位样品的定位结构；计算机处理系统，与光信号处理系统通信连接，用于接收测试信号，并基于测试信号，实现半峰宽自动化测试。本发明通过在样品台设置定位结构，可以利用定位结构将样品固定在样片台上、实现样品测试点的精确定位，从而可以配合计算机处理系统实现自动化测试，摆脱了现有技术中的手动操作，大幅度提升了测试效率。
一种半峰宽自动化测试工装

[发明专利]移动终端测试设备校准系统及方法-CN202310494313.6在审
发明人：辛奕;刘君荣;阚飞;詹惠贞;段誉 -专利权人：广州赛宝计量检测中心服务有限公司
申请日： 2023-05-05 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： H04B17/11 文献下载
摘要：本发明公开一种移动终端测试设备校准系统，包括：高宽带射频信号自动校准系统及用于目标微波矢量信号分析仪的幅相参数定标系统，其中：高宽带射频信号自动校准系统包括第一控制装置、经过对幅相参数进行定标的目标微波矢量信号分析仪及被检测试设备第一控制装置，与目标微波矢量信号分析仪及被检测试设备通讯连接，用于控制被检测试设备产生测试射频信号；目标微波矢量信号分析仪，用于测量测试射频信号的带宽、幅度及相位；第一控制装置，还用于根据目标微波矢量信号分析仪测量得到的测试射频信号的带宽、幅度及相位与被检测试设备产生的测试射频信号的带宽、幅度及相位生成校准报告。
移动终端测试设备校准系统方法

[发明专利]手持装置的信号测试系统及其信号测试方法-CN201210349789.2有效
发明人：钟仁辉 -专利权人：英华达(南京)科技有限公司;英华达股份有限公司
申请日： 2012-09-19 - 公布日： 2014-03-26 - 主分类号： H04M1/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种手持装置的信号测试系统，包含手持装置、测试设备以及电脑装置。测试设备以通信方式链接至手持装置；电脑装置以通信方式链接手持装置与测试设备。其中，电脑装置控制手持装置进入信号测试状态，并从测试设备取得对应此信号测试状态的功率值。本发明另提供一种手持装置的信号测试方法，适用于上述手持装置的信号测试系统，手持装置的信号测试方法包含利用电脑装置控制手持装置进入信号测试状态；以及利用电脑装置从测试设备取得对应信号测试状态的功率值。
手持装置信号测试系统及其方法

[实用新型]一种机电提灌站移动式巡检测试系统-CN202020675076.5有效
发明人：魏鼎才;杨昌敏;江昊;李光辉;徐一;蒋金巧;彭晓琴 -专利权人：四川省农业机械研究设计院
申请日： 2020-04-28 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种机电提灌站移动式巡检测试系统，包括信号采集系统、信号转换系统和数据分析处理系统；信号转换系统分别与信号采集系统和数据分析处理系统电连接；信号采集系统包括采集测试提灌站机组流量、扬程、功率和转速信号的多个采集器，多个采集器包括涡轮流量变送器、超声波流量测试仪、压力变送器、电流互感器和感应式转速传感器。本实用新型提供的机电提灌站移动式巡检测试系统，信号采集系统采集被测试机电提灌站机组的不同物理量参数信号，信号转换系统对采集的信号进行转换处理，数据分析处理系统接收转换处理后的信息，并对其进行计算、分析，输出性能曲线和检测数据报告，适用于电力提灌站在线运行状态的测试。
一种机电提灌移动式巡检测试系统

[实用新型]麦克风电声测试系统-CN200920130229.1无效
发明人：张言佳;周俊东;王进军;古明锋;史建兴 -专利权人：比亚迪股份有限公司
申请日： 2009-03-31 - 公布日： 2010-02-10 - 主分类号： H04R29/00 文献下载
摘要：本实用新型属于麦克风测试领域，公开了一种麦克风电声测试系统，包括箱体，固定模块，中央处理系统，音源模块；中央处理系统控制音源模块发出测试信号，该待测麦克风接收测试信号，并传送至中央处理系统，所述中央处理系统接收测试信号并分析该待测麦克风的接收情况本实用新型的麦克风电声测试系统，在设有吸音层的箱体内，通过中央处理系统控制音源模块发出测试信号，该待测麦克风接收测试信号，并传送至中央处理系统，所述中央处理系统接收测试信号并分析该待测麦克风的接收情况，通过上述箱体隔绝外部噪声，可精确测试待测麦克风是否正常工作，降低拾音设备出货时的不合格率。
麦克风电声测试系统

[发明专利]一种用于RapidIO协议器件的测试系统及方法-CN202111400922.8在审
发明人：杜勇;陈桐;高超;王佳 -专利权人：西安太乙电子有限公司
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于RapidIO协议器件的测试系统及方法，包括测试板、混合信号测试系统UltraFlex及高速差分串行总线；测试板上设置有预设芯片及待测RapidIO协议器件，待测RapidIO协议器件与预设芯片相连；待测RapidIO协议器件通过高速差分串行总线连接混合信号测试系统UltraFlex；获取待测RapidIO协议器件输出的PRBS码，得到信号眼图；并根据信号眼图，得到测试结果；本发明能够满足RapidIO协议器件及混合信号测试系统UltraFlex的测试要求；无需人为进行数据处理，测试结果准确度高。
一种用于 rapidio 协议器件测试系统方法

[发明专利]机车信号设备抗干扰能力的测试系统及方法-CN201310716431.3有效
发明人：赵明;陈军辉;唐凯 -专利权人：北京交大思诺科技有限公司
申请日： 2013-12-23 - 公布日： 2014-03-26 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种机车信号设备抗干扰能力的测试系统与方法，属于铁路信号领域，该测试系统包括：上位机控制设备，根据用户选择的测试类型自动生成测试序列，计算得出与测试序列相对应的参数值，并向测试设备发送控制命令，再根据接收到的测试数据判断被测机车信号设备的抗干扰能力；测试设备，接收上位机控制设备发送的控制命令，生成混频信号向被测机车信号设备输出，接收被测机车信号设备返回的测试数据且转发给上位机控制设备。本发明提供的测试系统与方法可以对机车信号设备进行多种测试，可自动生成测试序列，计算测试所需的参数值，对机车信号设备进行自动化测试，能实时显示测试结果以及测试进度；且携带方便，测试操作过程简单。
机车信号设备抗干扰能力测试系统方法

[发明专利]芯片测试系统和芯片测试方法-CN200610139145.5无效
发明人：黄鑫;游明琦 -专利权人：北京中星微电子有限公司
申请日： 2006-10-13 - 公布日： 2007-03-14 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片测试系统，包括：主机和信号仿真单元，其中，所述主机，向信号仿真单元输出测试信号；接收信号仿真单元输出的响应信号；将响应信号与预先设置的参考信号进行比较，得到测试结果；所述信号仿真单元，根据预先设定的映射关系，将主机输出的测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的测试信号，并输出给外部测试芯片；接收来自外部测试芯片的响应信号，并输出给所述主机。本发明还公开了一种芯片测试方法。本发明根据预先设定的映射关系，将测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的信号，模拟目标测试主机与待测芯片进行信息交互，在实现了芯片测试的同时，提高了芯片测试系统的通用性和测试效率。
芯片测试系统方法

[实用新型]雷达产线测试系统-CN202121354016.4有效
发明人：卜景鹏;东君伟;吕小林 -专利权人：中山香山微波科技有限公司
申请日： 2021-06-17 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种雷达产线测试系统，包括：一台雷达模拟器主机和多个测试暗室系统，测试暗室系统包括测试暗室及均设置在测试暗室内的测试机器人、接收天线和一对发射天线，测试机器人设于测试暗室内一端，接收天线和发射天线均设于测试暗室内远离测试机器人的一端，所述多个测试暗室系统的发射天线均连接到雷达模拟器主机的信号发射端口，所述多个测试暗室系统的接收天线均连接到雷达模拟器主机的信号接收端口，所述雷达模拟器主机用于响应各接收天线接收的来自待测雷达的信号并形成回波信号通过对应测试暗室内的一对发射天线发射出去通过采用一台雷达模拟器主机为多套暗室测试系统提供回波信号，实现一机多用，提供了测试系统的性价比。
雷达测试系统

[发明专利]用于同时测试多个数据包信号收发器的系统和方法-CN201380073611.2有效
发明人：克里斯蒂安·沃尔夫·厄尔高 -专利权人：莱特普茵特公司
申请日： 2013-11-25 - 公布日： 2018-08-07 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于同时测试多个数据包信号收发器的系统和方法，其中标量信号测试和矢量信号测试分开进行。所述系统和方法可同时测试来自所述数据包信号收发器的多个数据包信号的标量信号特性，同时还测试所述多个数据包信号中每一个的部分的矢量信号特性，因此执行所有期望的信号测试所需的测试时间会缩短。
用于同时测试数据包信号收发系统方法

[发明专利]超声诊断仪的系统传递函数的测试方法及测试系统-CN201710054696.X在审
发明人：孙凤;郭建军;吴方刚 -专利权人：飞依诺科技（苏州）有限公司
申请日： 2017-01-24 - 公布日： 2017-05-24 - 主分类号： A61B8/00 文献下载
摘要：本发明提供一种超声诊断仪的系统传递函数的测试方法及测试系统；所述方法包括为超声诊断仪设置发射脉冲信号，并获取超声换能器的响应曲线以及超声诊断仪的输出信号；根据对应超声诊断仪的发射脉冲信号、输出信号，以及超声换能器的响应曲线直接获取超声诊断仪的系统传递函数本发明在整个测试过程中，使用的基础数据均为数字信号的采集、运算和处理，如此，实现了系统传递函数的定量化描述；上述测试方法及测试系统考虑了信号传输流，与实际工作中的超声扫查系统的信号传输链路一致，无需增加额外的硬件设备，具有很强的准确性和实用性，节约了测试成本；另外，测试环境和操作简单，测试时间短，提高了测试效率。
超声诊断仪系统传递函数测试方法

[发明专利]用于基于事件的测试系统的多重测试结束信号-CN01115425.X无效
发明人：安东尼·勒;詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特;罗基特·拉尤斯曼;菅森茂 -专利权人：株式会社鼎新
申请日： 2001-04-23 - 公布日： 2002-01-09 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种测试被测半导体器件(DUT)的基于事件的测试系统,该基于事件的测试系统可自由地构成多组引脚单元,其中每一组都能独立于其它组而执行测试操作。在每一单元组中,测试的起始和结束时序都通过产生多重测试结束信号来单独确定。该基于事件的测试系统包括多个分配到DUT引脚的引脚单元;用于产生测试结束信号的信号发生器,该信号指示由对应引脚单元执行的当前测试已结束,其中测试结束信号是为每一引脚单元单独产生的,与其它引脚单元无关;及一个系统控制器,它通过与每一引脚单元的事件控制器相联,并将包括事件时序数据在内的测试程序提供给每一引脚单元的事件存储器,以控制该基于事件的测试系统的整体运行。每一引脚单元的测试结束信号根据该系统控制器规定的条件来选择,所选择的测试结束信号被提供给系统控制器和其它引脚单元。
用于基于事件测试系统多重结束信号

[发明专利]信号测试方法-CN201110233293.4有效
发明人：赵京洲;王兴波;张勇;李飞;陈骐;曾宪忠 -专利权人：中国商用飞机有限责任公司;中国商用飞机有限责任公司上海飞机设计研究院
申请日： 2011-08-15 - 公布日： 2012-01-25 - 主分类号： G01R29/00 文献下载
摘要：一种信号测试装置的信号测试方法，信号测试装置电连接在激励源和反馈源之间，方法包括如下步骤：接收激励源发出的激励信号；仿真激励信号并将仿真的激励信号发送到反馈源；接收反馈源发出的反馈信号；仿真反馈信号并将仿真的反馈信号发送到激励源通过该信号测试方法能够全面的测试由激励源、信号测试装置和反馈源所构成的系统回路中的所有信号，保证了测试的完整性；由于本发明的信号测试方法采用了仿真测试方法，因此可以不必在测试前完全了解信号的特性；另外，由于本发明的信号测试方法将信号测试装置串联接到激励源和反馈源之间，因此，可以方便地通过调节信号测试装置的阻抗特性使信号测试装置与被测试的系统阻抗匹配。
信号测试方法

[发明专利]半导体集成电路以及测试系统-CN200510066593.2无效
发明人：木庭知男;永沼英树 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2005-04-28 - 公布日： 2005-11-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的目的在于实现容易地进行利用电流逻辑信号的测试的半导体集成电路以及测试系统。本发明对具有输出电流逻辑信号的多个信号管脚的半导体集成电路以及测试系统进行了改进。半导体集成电路具有：输出电流逻辑信号的多个信号管脚；在测试时与I/V变换器电气连接的测试管脚；从多个信号管脚中选择一个信号管脚，再将上述一个信号管脚连接在测试管脚上的选择部；以及输入用于控制选择部的选择信号的选择管脚并且，测试系统具有：上述半导体集成电路；在测试时被连接在半导体集成电路的测试管脚上、将从测试管脚输出的电流逻辑信号变换成电压逻辑信号的I/V变换器；以及被输入从I/V变换器输出的电压逻辑信号的IC测试器
半导体集成电路以及测试系统