专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]波长色散测定装置以及使用了该波长色散测定装置的波长色散测定方法-CN201180059713.X有效
  • 小川宪介 - 株式会社藤仓
  • 2011-10-18 - 2013-08-21 - G01M11/02
  • 波长色散测定装置具有:光分支部,将入射的被测定信号分离成第1以及第2被测定信号,在射出时使第1以及第2被测定信号之间产生频率差;第1以及第2分支路径,具有偏振波保持特性;光移相器,被设置于第1以及第2分支路径的任意一方,使光测定信号的相位αi周期性地变化;光结合部,对第1以及第2被测定信号进行叠加,将相位为αi的第i光分量的干涉要素作为叠加波被测定信号射出;光频率扫描部,扫描使叠加波被测定信号通过的频率范围,提取频率范围的光谱分量作为分量被测定信号射出;光检测部,将分量被测定信号作为干涉信号;和控制部,与光移相器的相位的变化同步地沿时间序列获取与第i光分量对应的干涉信号
  • 波长色散测定装置以及使用方法
  • [发明专利]信号处理装置-CN201380075156.X有效
  • 伊户靖则 - 三菱电机株式会社
  • 2013-03-29 - 2017-12-08 - G01R19/00
  • 1PPS信号接收部(101)接收1PPS信号,时钟生成部(102)生成时钟信号,时钟偏差测定部(103)测定时钟偏差,该时钟偏差是时钟信号相对于1PPS信号的频率偏差。偏差测定值保持部(301)保持通过时钟偏差测定部的多次测定而获得的多个时钟偏差测定值。时钟偏差值生成部(302)对偏差测定值保持部(301)所保持的多个时钟偏差测定值中的最新的时钟偏差测定值与其它时钟偏差测定值进行比较,在最新的时钟偏差测定值与其它时钟偏差测定值一致的情况下,将最新的时钟偏差测定值输出至采样周期计数部(105),在最新的时钟偏差测定值与其它时钟偏差测定值不一致的情况下,将其它时钟偏差测定值中的任意的时钟偏差测定值输出至采样周期计数部(105)。
  • 信号处理装置
  • [发明专利]利用光信号的距离测定方法及装置-CN201380075871.3有效
  • 金泰民 - 金泰民
  • 2013-05-29 - 2018-03-30 - G01S17/36
  • 本发明涉及一种利用光信号位相差的距离测定方法及装置,距离测定方法包括通过快门动作以不同位相为基准接收测定对象反射的至少两个信号的阶段;基于以不同位相为基准接收的所述至少两个信号计算输出信号和接收信号的位相差的阶段;基于所述位相差计算测定对象和距离测定装置之间距离的阶段,所述至少两个信号具有相同频率及相同振幅。通过准确计算输出信号和接收信号之间的位相差来准确测定距离测定装置和物体之间的距离。
  • 利用信号距离测定方法装置
  • [发明专利]厚度测定装置以及厚度测定方法-CN201910414006.6在审
  • 森本晃一;佐佐木勇贵;秋山薰 - 大塚电子株式会社
  • 2019-05-17 - 2019-11-26 - G01B11/06
  • 一种厚度测定装置及方法,谋求提高测定配置于一对探头间的基板厚度的厚度测定装置的测定精度。该装置包括:第一探头,输出与到测定对象的表面的距离相关的第一测定信号;第二探头,输出与到测定对象的背面的距离相关的第二测定信号;运算部,计算出配置于第一探头与第二探头之间的测定试样的厚度。运算部在第一探头与第二探头间配置有基准试样的状态下,基于第一测定信号算出第一距离,基于第二测定信号算出第二距离,在第一探头与第二探头间配置有测定试样的状态下,基于第一测定信号算出第三距离,基于第二测定信号算出第四距离,将基准试样的厚度、第一距离和第二距离设为加法要素,将第三距离和第四距离设为减法要素,算出测定试样的厚度。
  • 探头测定信号厚度测定装置测定对象基准试样配置运算部输出基板减法加法
  • [发明专利]厚度测定装置-CN202310012689.9在审
  • 泉尾诚治;新井义雄 - 精工爱普生株式会社
  • 2023-01-05 - 2023-07-11 - G01B17/02
  • 一种厚度测定装置,能够对测定对象的厚度进行高精度测定。厚度测定装置装配于内部包含有测定对象的对象物,使用超声波测定所述测定对象的厚度,厚度测定装置具备:多个超声波元件,从所述对象物的表面发送所述超声波,且接受在所述测定对象处反射的反射波,并输出接收信号;以及控制部,控制所述超声波元件,多个所述超声波元件朝向彼此不同的方向发送超声波,所述控制部将所述接收信号信号强度与预定的阈值作比较,根据所述信号强度比所述阈值大的所述接收信号测定所述测定对象的厚度。
  • 厚度测定装置
  • [发明专利]近场测定装置及近场测定方法-CN201710827845.1有效
  • 野田华子;布施匡章 - 安立股份有限公司
  • 2017-09-14 - 2020-12-08 - H04B17/12
  • 提供一种减少装置内的变频器的个数而能够进行误差较少的近场测定且廉价的近场测定装置及近场测定方法。该近场测定装置包括:测定用探针(11),在规定的扫描范围内所包含的多个测定位置,接收从被测定天线(110)发送的无线信号;变频器(13),对无线信号的频率进行频率转换而使其成为所希望的频率;时序处理部(18),从与无线信号的发送同步地从发送装置(100)输出的触发信号,生成用于开始无线信号的振幅及相位的测定的定时信号;及振幅/相位计算部(19),关于各测定位置,根据定时信号获取通过变频器(13)频率转换且通过A/D转换器(14a)数字化的无线信号,并计算出已获取的所述无线信号的近场中的振幅及相位。
  • 近场测定装置方法
  • [发明专利]通信非法成立防止系统-CN201110412098.8无效
  • 森裕史 - 株式会社东海理化电机制作所
  • 2011-12-02 - 2012-07-11 - B60R25/04
  • 该系统具备:强度测定信号发送单元,其在所述无线双向通信的1个通信中,以互不相同的发送强度对用于测定所述通信终端的接收强度的接收信号强度测定信号进行多次发送;接收强度测定单元,其对所述通信终端多次接收到的所述接收信号强度测定信号各自的接收信号强度进行测定测定结果发送单元,其将多个接收信号强度测定结果作为在所述1个通信中所述通信终端对所述通信主机装置作出的1个应答信号发送至所述通信主机装置;和确认单元,其根据从所述通信终端接收到了的所述多个接收信号强度测定结果
  • 通信非法成立防止系统
  • [发明专利]自动分析装置、自动分析系统和自动分析方法-CN201680042611.X有效
  • 稻边利幸;牧野彰久;足立作一郎;薮谷千枝 - 株式会社日立高新技术
  • 2016-06-28 - 2020-02-07 - G01N21/82
  • 本发明无论是在向检体中混合试剂的前后,都能够扩大干扰物质的测定范围,并且能够在相同测定条件下实现干扰物质浓度的测定和检体的测定。因此,自动分析装置设置有:(1)测定机构,该测定机构具有:测光部,其对分注有检体的反应容器进行架设;光源,其对所述反应容器照射光;以及检测部,其检测从所述反应容器内的所述检体发出的散射光;(2)放大电路部,该放大电路部具有:加减计算器,其对来自所述检测部的第1测定信号加上或减去校正信号;以及放大电路,其以固定的放大率对所述加减计算器的输出信号放大,并作为第2测定信号输出;(3)运算部,该运算部基于所述第2测定信号信号电平和目标值的差分,计算所述校正信号,并基于根据所述校正信号校正后的所述第2测定信号,执行分析动作。
  • 自动分析装置系统方法
  • [发明专利]信号显示装置以及方法-CN201210194914.7无效
  • 原田雄一郎 - 株式会社爱德万测试
  • 2012-06-13 - 2013-01-02 - G01R13/00
  • 本发明提供一种信号显示装置以及方法。本发明的信号显示装置具备第一特性值测定部;显示部;第二特性值测定部;以及显示形式变化部。另外,第一特性值测定测定测定信号的特性值中的任意一个,显示部将通过所述第一特性值测定测定出的所述特性值与时间对应地显示。此外,第二特性值测定测定所述被测定信号的特性值中的任意一个,显示方式变化部根据通过所述第二特性值测定测定出的所述特性值,使所述显示部中的显示方式变化。
  • 信号显示装置以及方法
  • [发明专利]测定装置和测定方法-CN201410185202.8在审
  • 福田一生;松田洋和;冈见彰子 - 爱科来株式会社
  • 2014-05-04 - 2014-11-05 - G01N27/416
  • 本发明涉及测定装置和测定方法,其更加简化从针对施加到了试样的信号的响应得到测定值。测定装置(1)包括:第一测定部(31a),其测定针对第一信号的第一电响应,所述第一信号被输入到能够接触试样的第一电极对;第二测定部(31b),其将针对第二信号的第二电响应作为针对所述第二信号的变化的响应信号的峰值测定,所述第二信号被输入到能够与所述试样接触的第二电极对,并且值从第一水平向第二水平变化然后维持所述第二水平一定时间;以及控制部(33),其基于所述响应信号的峰值校正表示从第一电响应得到的所述试样的测定对象成分的量的值
  • 测定装置方法
  • [发明专利]光学计测装置-CN201710472648.2有效
  • 金谷义宏;近藤智则;铃木祐太 - 欧姆龙株式会社
  • 2017-06-20 - 2019-12-03 - G01B11/02
  • 光学计测装置(3)具有:接口部(31),其构成为接收从主装置(1)以固定的通信周期发送到工业网络(2)的同步信号,并且与同步信号同步地输出光学计测装置(3)的测定结果(测定值)和同步监视信号;以及计测部(32),其构成为以相对于通信周期独立的测定周期执行光学测定而生成测定结果,并且生成同步监视信号。计测部(32)与开始测定后接口部(31)接收同步信号同步地,将同步监视信号设定为接通状态,在从接口部(31)输出测定结果的情况下,与接口部(31)接收同步信号同步地,将同步监视信号设定为断开状态。
  • 光学装置

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