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[发明专利]一种二维材料缺陷调控与快速表征的方法-CN202210646481.8在审
发明人：陈令修;王德和;王宇彤;沈宝龙 -专利权人：中国矿业大学
申请日： 2022-06-09 - 公布日： 2022-09-16 - 主分类号： G01Q60/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种二维材料缺陷调控与快速表征的方法，包括以下步骤：S1.制备二维材料：在非导体衬底表面进行二维材料的制备；S2.二维材料缺陷引入：将制备好的二维材料置于等离子体装置中，通入实验气体后利用等离子体对二维材料表面进行类型、密度与深度可控的缺陷引入；S3.二维材料缺陷的表征：在对二维材料进行缺陷引入后，使用原子力显微镜对其进行缺陷的快速分布表征与深度表征。上述技术方案中提供的二维材料缺陷调控与快速表征的方法，能够利用低功率等离子体辅助技术在二维材料表面进行缺陷深度可控引入，并能够对缺陷进行快速表征。
一种二维材料缺陷调控快速表征方法

[发明专利]表征二维材料缺陷的方法及其应用-CN201910101478.6有效
发明人：刘大猛;刘欢;王婷;雒建斌 -专利权人：清华大学
申请日： 2019-01-31 - 公布日： 2020-11-24 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种表征二维材料缺陷的方法及其应用，涉及纳米材料缺陷表征技术领域。表征缺陷的方法包括：分别独立地对无缺陷的二维材料衬底样品和待测二维材料衬底样品进行荧光寿命成像，根据荧光寿命的变化判断有无缺陷：如果待测二维材料衬底样品的荧光寿命高于无缺陷的二维材料衬底样品的荧光寿命，则待测二维材料衬底样品为有缺陷样品；如果待测二维材料衬底样品的荧光寿命与无缺陷的二维材料衬底样品的荧光寿命相比无明显变化，则待测二维材料衬底样品为无缺陷样品。本发明采用荧光寿命成像方法表征二维材料缺陷，该方法能够快速、直观地观察荧光寿命变化，从而判断材料有无缺陷，在室温下即可表征，不会引入新的缺陷，是一种无损检测方法。
表征二维材料缺陷方法及其应用

[发明专利]一种二维材料的缺陷识别方法以及一种基于二维材料的器件的制备方法-CN201680057104.3在审
发明人：李伟;张臣雄 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2016-05-20 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： C23C16/06 文献下载
摘要：一种二维材料的缺陷识别方法以及基于二维材料的器件的制备方法，包括如下步骤：将生长有二维材料的第一基底置于原子层沉积系统中，控制原子层沉积过程的工艺参数，使二维材料的缺陷处沉积生长金属氧化物或金属，而缺陷以外的部位不生长或较少生长金属氧化物或金属；采用光学显微镜对缺陷处生长有金属氧化物或金属的二维材料进行拍照，得到二维材料表面图像，二维材料的缺陷由图像上的金属氧化物或金属所在的位置标定识别。该方法可准确高效地识别二维材料的缺陷，实现对缺陷的跟踪标记，适用于大面积的器件制备及其它需要定位二维材料缺陷的应用。
二维材料金属生长金属氧化物金属氧化物缺陷识别缺陷处生长制备原子层沉积过程原子层沉积系统光学显微镜表面图像跟踪标记器件制备位置标定沉积基底拍照图像应用

[发明专利]一种缺陷态可热调谐的二维声子晶体结构-CN201410074270.7无效
发明人：张欣;胡爱珍;吴福根;姚源卫;宁留洋 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2014-05-29 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G10K11/165 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷态可热调谐的二维声子晶体结构，本发明所述的二维声子晶体结构由若干个二维晶格单元周期排列组成，二维晶格单元由相互平行的钛酸锶钡柱体及缺陷钛酸锶钡柱体在环氧基树脂中按二维晶格排列；二维晶格单元的钛酸锶钡柱体至少五层，二维晶格的晶格常数a为1～10cm；所述的二维声子晶体结构由一种或几种密度不同的多层单元叠加组成，本发明获得缺陷态的二维声子晶体结构不需要改变柱体几何形状或其材料性质，只需简单的温度调节温度敏材料钛酸锶钡，即可获得缺陷态，并且缺陷态频率位置会随缺陷温度连续变化；其制作工艺简单，可设计性强。
一种缺陷态可热调谐二维晶体结构

[发明专利]获得缺陷态的两种二维声子晶体结构-CN201210461169.8无效
发明人：吴福根;何云;张欣;姚源卫;闫舒雅 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2012-11-16 - 公布日： 2013-02-20 - 主分类号： G10K11/168 文献下载
摘要：本发明公开了一种获得缺陷态的两种二维声子晶体结构，本发明所述的二维声子晶体结构由若干个二维晶格单元周期排列组成，二维晶格单元由相互平行的水柱体及缺陷水柱体在水银中按二维晶格排列；二维晶格单元的水柱体至少五层，二维晶格的晶格常数a为1～10cm；所述的二维声子晶体结构由一种或几种密度不同的多层单元叠加组成，本发明获得缺陷态的二维声子晶体结构不需要改变柱体几何形状或其材料性质，只需简单的位置调节，即可获得缺陷态
获得缺陷二维晶体结构

[发明专利]电子输运性能更优的IV-V族二维半导体模型构建方法-CN202011161540.X有效
发明人：张铮琪;宋家欣;陈俊山;曾晖 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2020-10-27 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子输运性能更优的IV‑V族二维半导体模型构建方法，方法包括以下步骤：选取IV族元素和V族元素，构建二维半导体理想模型；计算理想模型的电子输运性质，包括能带结构、伏安特性IV曲线以及传输特性；基于所述二维半导体理想模型构建多种二维半导体缺陷模型；计算各缺陷模型的电子输运性质，包括能带结构、伏安特性IV曲线以及传输特性；根据二维半导体理想模型以及各缺陷模型的电子输运性质，选取最优的二维半导体缺陷模型本发明对理想的二维半导体模型进行缺陷设计，使缺陷周围重建期间形成的新建长度来评估结构稳定性，提高了最优方案的精确度。
电子输运性能 iv 二维半导体模型构建方法

[发明专利]一种柱状体中缺陷三维形状的重构方法-CN202011189297.2在审
发明人：郑钢丰;吴博林;安永莉;李泽;刘松峰;董浩;章皓天 -专利权人：安徽理工大学
申请日： 2020-10-30 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01N29/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种柱状体中缺陷三维形状的重构方法，包括如下步骤：S1、在柱状体表面进行超声检测并采集数据；S2、根据采集的缺陷回波时间和幅值数据重构出缺陷二维切面图；S3、对二维图像进行预处理；S4、在二维切面中提取缺陷二维信息，将二维图像对应的像素点转换为三维体数据，进行三维重构；所述步骤S3具体如下：S31、提取图像像素；S32、将图像二值化处理；S33、对图像开操作；S34、对图像进行标记；S35、进行灰度图的转换。本发明通过超声采集到柱状体内的缺陷信息，在对二维图像预处理后，以二维转换为三维的方式直观的表现出缺陷的具体形状与位置，解决了传统超声检测缺陷时检测效率低且缺陷重构形状不准确直观的问题。
一种柱状缺陷三维形状方法

[发明专利]一种二维码外观缺陷检测方法及装置-CN201610957026.4有效
发明人：韩卫丽;姚毅 -专利权人：凌云光技术集团有限责任公司
申请日： 2016-10-26 - 公布日： 2019-04-16 - 主分类号： G06K7/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种二维码外观缺陷检测方法及装置，涉及检测技术领域，为了解决检测二维码外观缺陷的识别效率较差的问题而发明。本发明的方法包括：获取待检测二维码的灰度图像；预处理所述灰度图像，生成滤波图像；比较所述灰度图像与所述滤波图像，获取潜在缺陷位置，检测所述潜在缺陷位置是否存在外观缺陷；若所述潜在缺陷位置存在外观缺陷，则将所述待检测二维码对应的包装做报废处理本发明主要应用于二维码外观缺陷检测的过程中。
一种二维码外观缺陷检测方法装置

[发明专利]一种生产线上的二维码缺陷检测方法及装置-CN201910866627.8在审
发明人：王培学;谢名优;李春花;黄晓佳;王培玉 -专利权人：汕头东风印刷股份有限公司
申请日： 2019-09-12 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01N21/898 文献下载
摘要：本发明公开了一种生产线上的二维码缺陷检测方法，当有产品经过生产线上的传感区域时，生成的传感信号，根据传感信号触发相机对经过的产品进行二维码图像采集，得到产品的二维码图像，对二维码图像进行外在缺陷检测，若存在缺陷则将存在缺陷的产品移至待处理区，读取通过外在缺陷检测的产品的二维码图像，得到产品ID和生产信息，根据通过外在缺陷检测的产品的产品ID和生产信息，对通过外在缺陷检测的产品进行内在缺陷检测，若存在缺陷则将存在缺陷的产品移至待处理区，采用本发明提供的实施例，解决了二维码后台数据和实物对应难的问题，提高了生产线后续工作的工作效率。
二维码图像外在缺陷检测传感信号生产信息处理区二维码读取传感区域工作效率后台数据内在缺陷缺陷检测触发相机采集实物

[发明专利]缺陷检测方法、系统、装置、设备、存储介质和产品-CN202211037772.3在审
发明人：屠银行;高毅飞;刘义 -专利权人：宁德时代新能源科技股份有限公司
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种缺陷检测方法、系统、装置、设备、存储介质和产品。响应于对目标物料的检测指令，控制摄像设备采集目标物料的二维图像和三维图像，根据目标物料的二维图像和三维图像，确定目标物料的缺陷检测结果。该方法中，因摄像设备为集二维图像采集功能和三维图像采集功能为一体的结构光摄像设备，不需要切换摄像设备就可以采集二维图像和三维图像，提高了对目标物料进行缺陷检测的便捷性；且以同一个摄像设备采集二维图像和三维图像，保证了二维图像和三维图像处于同一坐标系中，提高了对目标物料进行缺陷检测的效率；另外，通过二维图像和三维图像两个不同维度对目标物料进行缺陷检测，提高了缺陷检测的精度。
缺陷检测方法系统装置设备存储介质产品

[发明专利]一种基于机器视觉的轴承质量检测方法-CN202011182219.X有效
发明人：姜晓通;郭静瑜;朱健强;杨思远;吴科 -专利权人：常熟理工学院;常熟长城轴承有限公司
申请日： 2020-10-29 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种基于机器视觉的轴承质量检测方法，包括对第一样本集二维图像采样获取第一轴承图像信息，得到第二样本集；对第二样本集中的轴承进行三维测量及三维重建得到第二轴承图像信息；根据第二轴承图像信息获取轴承表面缺陷类型本发明先基于二维的检测方法检测，针对有二维缺陷特征的轴承进行三维检测及重建，得到轴承表面缺陷类别，不必对全部轴承采用三维检测，提高了检测效率，节省了检测成本。且本发明中的二维检测和三维检测均采用单一相机，可在二维图像检测系统的基础上增加照明光源，得到二维图像和三维信息。且先用二维检测方法检测出特定像素下是否存在缺陷后采用三维检测局部细节特征，检测出具体为何种缺陷。
一种基于机器视觉轴承质量检测方法

[发明专利]一种纸币缺陷识别方法以及系统-CN201810206303.7有效
发明人：蒋玉萍 -专利权人：深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院
申请日： 2018-03-13 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G07D7/164 文献下载
摘要：本发明公开了一种纸币缺陷识别方法以及系统，该方法包括以下步骤：对若干样本纸币的图像数据进行建模，形成图像二维模型；对该若干样本纸币在若干厚度测量点进行厚度测量，统计每一样本纸币在每一测量点的厚度获取厚度二维模型；获取当前纸币的图像二维数组以及厚度二维数组，比较该图像二维数组与该图像二维模型，比较该厚度二维数组与该厚度二维模型；当该图像二维数组和该厚度二维数组满足纸币缺失条件时，判断该当前纸币为孔洞钞或存在纸币缺失；以及当该图像二维数组和该厚度二维数组满足粘附异物条件时，判断该当前纸币粘贴有异物。本发明的纸币缺陷识别方法以及系统可实现快速、精准识别纸币缺陷。
一种纸币缺陷识别方法以及系统

[发明专利]输送机皮带检测方法、装置、系统、电子设备及介质-CN202210021756.9有效
发明人：桑建伟;代东明;朱晓君;鲍刚枫;游秋香;李向麒 -专利权人：南京中远通科技有限公司
申请日： 2022-01-10 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开一种输送机皮带检测方法、装置、系统、电子设备及介质，属于自动化、立体视觉以及卷积神经网络技术领域，特别涉及一种输送机皮带检测方法，包括：对输送机皮带分别采集三维点云数据和二维图像；对所述三维点云数据构建三维点云模型，根据所述三维点云模型检测存在缺陷时，生成并保存第一类缺陷结果；对所述二维图像进行图像识别，得到二维图像识别结果，根据所述二维图像识别结果判定存在裂纹缺陷时，生成并保存第二类缺陷结果。本发明通过采用二维图像与三维点云两种缺陷检测方式，提高对皮带表面不同类型缺陷的识别率。利用性能较好的yolo‑v3网络对二维图像进行自学习检测，实现对与正常皮带存在较大差异但高度差较小缺陷的检测。
输送皮带检测方法装置系统电子设备介质

[发明专利]光学缺陷检测方法和系统-CN201510208276.3有效
发明人：刘凯 -专利权人：刘凯
申请日： 2015-04-28 - 公布日： 2019-09-10 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种光学缺陷检测方法、装置和系统，其中方法包括二维扫描相机对被测件表面进行扫描，载有数据分析软件的数据分析及机器控制设备接收并分析二维扫描相机传送的二维扫描数据，判断被测件是否存在缺陷，如果存在缺陷，并在需要测定缺陷的高度或深度时，驱动三维显微仪器测定被测件缺陷的高度和/或深度，数据分析及机器控制设备接收高度和/或深度的三维数据，结合二维扫描的数据，判断被测件是否合格。本发明通过运用二维光学扫描和三维光学显微分析相结合的检测方法，确保缺陷检测的精确、可靠和快速，提高产品质量的稳定性。
光学缺陷检测方法系统

[发明专利]二维材料点缺陷密度的显微成像检测方法及装置-CN202110872140.8有效
发明人：刘大猛;胡香敏 -专利权人：清华大学;清华大学天津高端装备研究院
申请日： 2021-07-30 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种二维材料点缺陷密度的显微成像检测方法及装置，所述方法包括：获取待检测二维材料的差分反射光谱；根据差分反射光谱确定单色光的目标波长；标定待检测二维材料的缺陷密度，得到至少一个点缺陷密度；测量目标波长处每个点缺陷密度对应的差分反射光强度，根据差分反射光强度和每个点缺陷密度得到待检测二维材料的点缺陷密度的经验公式；计算得到每个像素的差分反射峰强度；基于点缺陷密度的经验公式和每个像素的差分反射峰强度，映射得到待检测二维材料的点缺陷密度图像本发明能够有效避免传统的扫描成像方法的速率较低的缺陷，有效提高了点缺陷密度的显微成像的准确性，可以用于大规模的二维材料的快速检测。
二维材料点缺陷密度显微成像检测方法装置

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