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[发明专利]数据处理方法、系统、电子设备和可读存储介质-CN202310109549.3在审
发明人：周康;范茸;赵凯;赵辰;方正;冯子扬 -专利权人：阿里巴巴（中国）有限公司
申请日： 2023-01-18 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G06F16/215 文献下载
摘要：本申请公开了数据处理方法、系统、电子设备和可读存储介质，该方法包括：获取向数据平台发送的消息，其中，所述消息用于请求对所述数据平台中管理的数据进行操作；对所述消息所请求的操作进行检查，其中，所述检查用于确定所述消息所请求的操作是否符合规范；将检查结果返回给所述消息的来源方。通过本申请解决了现有技术中数据使用方在使用数据平台中的数据会对数据带来破坏从而产生数据使用风险的问题，进而为在事前阻止对数据的破坏提供了支持，提高了数据的安全性和可靠性。
数据处理方法系统电子设备可读存储介质

[发明专利]路线检查系统-CN201610340436.4有效
发明人： B.A.马修斯;G.博弗曼;Y.A.普罗特尼科夫;F.W.惠勒;M.奈里;J.M.弗里斯 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2016-05-20 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： B61K9/08 文献下载
摘要：用于检查路线的系统将一个或多个电检查信号以车载方式从沿路线行驶的车辆系统注入到传导路线中、基于该一个或多个电检查信号来检测路线的一个或多个电特性以及响应于对于在指定下降时间段内的时间段一个或多个电特性减小超过指定下降阈值来检测路线的传导性中的破坏可对电特性确定特征向量并且将其与一个或多个模式比较以便在路线的传导性中的破坏和电特性中改变的其他原因之间区分。
路线检查系统

[发明专利]宠物中的癌的检查方法-CN201980052011.5在审
发明人：广津崇亮;海渕觉;杉本敏美;石井秀始;今野雅允;植田裕司;小林省吾;江口英利;土岐祐一郎;森正树 -专利权人：广津生物科学株式会社
申请日： 2019-08-14 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G01N33/493 文献下载
摘要：本发明提供宠物等非灵长类哺乳动物中的癌的检查方法。根据本发明，提供例如在非灵长类哺乳动物中对癌进行检查或诊断的方法，其包括评价线虫对该对象的尿样的趋性行为的步骤。
宠物中的检查方法

[发明专利]差动电容式传感器模块及使用该模块的用于显示面板的检查设备-CN201110297363.2无效
发明人：金圣振;李东俊;宋大雄;殷琸 -专利权人：微探测株式会社
申请日： 2011-10-08 - 公布日： 2012-05-09 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明提供一种差动电容式传感器模块及使用该模块的用于显示面板的检查设备。当交流电源应用到形成在显示面板上的模式电极的一侧时，所述检查设备通过非接触式传感器测量的电压和通过非接触式差动传感器测量的差动电压来检查所述显示面板的交叉短路，其中，所述非接触式传感器设置成朝向位于应用所述交流电源的所述模式电极的另一侧的所述模式电极，并且在所述模式电极的纵向上将所述非接触式差动传感器设置成平行于所述非接触式传感器。
差动电容传感器模块使用用于显示面板检查设备

[发明专利]图案检查装置以及半导体检查系统-CN200710138251.6有效
发明人：丰田康隆;酢谷拓路;松冈良一;纳谷英光 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2007-07-31 - 公布日： 2008-02-20 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种图案检查装置，包括：轮廓提取单元，其从所述半导体器件的拍摄图像中提取图案的轮廓数据；非直线部位提取单元，其从所述轮廓数据中提取非直线部位；角部位提取单元，其从所述半导体器件的设计数据中提取图案的角部位；以及缺陷检测单元，其比较来自所述非直线部位提取单元的非直线部位的位置、和来自所述角部位提取单元的角部位的位置，来检测图案的缺陷部位的位置。由此，可提供一种能高精度且高效地检测缺陷的、对半导体器件的图案进行检查的图案检查装置。
图案检查装置以及半导体系统

[发明专利]评估用于检查半导体样本的检查算法-CN202110576406.4在审
发明人： I·布莱瓦斯 -专利权人：应用材料以色列公司
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种用于评估用于检查半导体样本的检查算法的方法、非瞬态计算机可读介质和系统。
评估用于检查半导体样本算法

[发明专利]检查装置以及焊接装置-CN202110189870.8在审
发明人：森千夏;佐藤英典;小原隆 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2021-02-18 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：提供能够更适当地检查焊接状态的检查装置以及焊接装置。实施方式的检查装置具备摄像部和处理部。摄像部取得在第一条件下对第一焊接部进行摄像而得到的第一图像数据、以及在与所述第一条件不同的第二条件下对所述第一焊接部进行摄像而得到的第二图像数据，所述第一焊接部包括第一非焊接区域、第二非焊接区域、以及所述第一非焊接区域与所述第二非焊接区域之间的第一焊接区域处理部根据基于所述第一图像数据对所述第一非焊接区域与所述第一焊接区域的第一边界进行检测而得到的结果、和基于所述第二图像数据对所述第一焊接区域与所述第二非焊接区域的第二边界进行检测而得到的结果，进行针对所述第一焊接部的第一检查
检查装置以及焊接

[发明专利]非易失性半导体存储装置-CN03823074.7有效
发明人：铃木淳弘 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2003-02-27 - 公布日： 2005-10-19 - 主分类号： G11C16/06 文献下载
摘要：本发明提供一种非易失性半导体存储装置。该非易失性半导体存储装置的特征在于，包括：存储数据的存储单元；第1参照单元；检查电路，检查第1参照单元的阈值；和擦除电路，当检查电路检测出第1参照单元的阈值小于或约等于规定的固定值时，对其响应，擦除存储单元的数据
非易失性半导体存储装置

[实用新型]一种便于检查钻孔品质的电路板-CN201120350473.6有效
发明人：周见平 -专利权人：湖北建浩科技有限公司
申请日： 2011-09-19 - 公布日： 2012-05-30 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：一种便于检查钻孔品质的电路板，包括：电路板⑴，电路板⑴的板边⑵上依孔径大小顺序排列有检查孔⑶，所述检查孔⑶为电路板⑴上所有大小钻孔的集合排列。其优点是：减少了电路板内找孔的时间，提高了检查速度。同时在切片取样时只需对电路板边的检查孔进行破坏取样，取样后不影响电路板内的品质，减小了因取样造成的板报废。
一种便于检查钻孔品质电路板

[发明专利]核电厂非规范项目的在役检查计划制定方法和系统-CN202310162520.1在审
发明人：张钱松;张大勇;孔晨光;李守彬;施建辉;刘政平;蒋立辉;安达奇;王元元 -专利权人：阳江核电有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
申请日： 2023-02-22 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G06Q10/20 文献下载
摘要：本发明涉及核电厂非规范项目的在役检查计划制定方法和系统，包括：根据检查成本、维修成本以及失效损失成本，构建损失函数；根据损失函数，计算设备失效概率的临界值；构建非规范项目的设备失效概率的威布尔分布；根据设备失效概率的威布尔分布和设备失效概率的临界值进行计算，获得在役检查计划时间的临界值；根据在役检查计划时间的临界值制定在役检查计划。本发明根据在役检查计划时间的临界值制定在役检查计划，实现在役检查计划的定量制定，从而实现了在失效概率非常低的阶段，不安排在役检查；在失效概率较低的阶段，制定抽检计划，避免过度检修；在失效概率较高的阶段，安排全检，避免设备失效前未能及时检查发现出现缺陷的风险。
核电厂规范项目检查计划制定方法系统

[发明专利]管道腐蚀在线检查的装置及方法-CN201410641025.X在审
发明人：王文奎;李斌;黄宛波;俞燕锋;姜祥;朱成龙;彭耀军;李杰;郭召生 -专利权人：广东核电合营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
申请日： 2014-11-13 - 公布日： 2016-06-08 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本申请公开了一种管道腐蚀在线检查的装置及方法，利用超声导波对管道进行检查，对保温层的管道来讲，仅拆除1/30的保温与搭1/30的脚手架即可满足约30米的检验检查要求，因此可节约29/30的费用(未扣除超声导波长距离检查费与普通检查费的超支部分对埋地管道的非开挖检查，从运用非开挖防腐层检查来推断管道的可能存在腐蚀情况，变为直接检查管道的腐蚀状况成为可能，同样提高了判断管道完好状况的正确概率。
管道腐蚀在线检查装置方法

[发明专利]整体性检测单个细胞的非破坏性测量信息和基因组相关信息的方法-CN201880029173.2有效
发明人：谷内江望;太田祯生 -专利权人：国立大学法人东京大学
申请日： 2018-05-02 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： C12Q1/6844 文献下载
摘要：本发明提供整体性检测单个细胞的非破坏性测量信息和基因组相关信息的方法。更具体而言，本发明使用包括下述工序的方法：准备多个隔室，每1个隔室包含单个细胞或来源于其的物质、第一微珠、和第二微珠；在准备各隔室前或在各隔室中，对单个细胞的非破坏性测量信息和第一微珠的成像信息一同进行检测，将单个细胞的非破坏性测量信息与第一微珠的成像信息进行关联；得到杂交复合物；制造来源于该杂交复合物的扩增产物；整体性检测单个细胞的非破坏性测量信息和基因组相关信息。
整体性检测单个细胞破坏性测量信息基因组相关方法

[发明专利]一种快速检查配置变更的方法-CN202110035087.6有效
发明人：鲁薇 -专利权人：武汉思普崚技术有限公司
申请日： 2021-01-12 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： H04L12/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种快速检查配置变更的方法，该方法包括：获取网络设备当前时刻的设备配置信息；根据设备配置信息进行分类，确定不同种类的检查信息；根据检查信息和参考信息，分别确定对应的检查对象集合和参考对象集合；根据检查对象集合和参考对象集合，判断是否满足非空预设条件；若满足非空预设条件，则根据检查对象集合和参考对象集合，分别建立对应的新元素集合和参考元素集合；根据新元素集合和参考元素集合进行交集操作，确定网络设备当前时刻的配置变更信息本发明针对不同种类的检查信息，确定配置变更信息，识别出各类对象的变更详情，便于网络管理。
一种快速检查配置变更方法

[发明专利]一种印制电路板的孔类问题检查方法-CN201610571072.0在审
发明人：应朝晖;孙菊华;孙月英;蒋年银;戴海云 -专利权人：无锡军安电子科技有限公司
申请日： 2016-07-19 - 公布日： 2016-12-07 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开一种印制电路板的孔类问题检查方法，包括如下步骤：盘小于孔检查；焊盘偏移检查；大于等于预设直径孔检查；非圆孔或八角盘检查；孔金属化检查；过孔上铅锡检查；过孔绿油检查；跳线ID检查；埋盲孔检查。本发明实现了印制电路板孔类问题的自动化检查，不仅操作简单，使用便捷，响应速度快，而且检查效率高，检查准确率高。
一种印制电路板问题检查方法

[发明专利]缺陷检查装置-CN202010825129.1在审
发明人：畠堀贵秀;田窪健二;吉田康纪 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-08-17 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检查装置。该缺陷检查装置基于发生了干涉的激光的强度图案，来生成表示检查对象的测定区域处的位移的图像即表层检查用图像。而且，该缺陷检查装置基于非相干光的强度图案，来生成测定区域的外表面的图像即外观检查用图像。
缺陷检查装置