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[发明专利]一种量测机点位自动补正方法及装置-CN201710797166.4有效
发明人：叶巧云 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2017-09-06 - 公布日： 2019-12-31 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种量测机点位自动补正方法及装置。所述方法包括：使待测产品进入量测机机台；调用产品参数文件，以量测产品；完成产品量测，以获取最新点位信息；判定点位差异是否满足补正条件；以及如果点位差异满足补正条件，则备份参数文件并且补正点位信息；如果点位差异不满足补正条件，则使产品退出量测机机台。
一种量测机点位自动补正方法装置

[发明专利]量测机台的测试方法、测试装置及监控系统-CN202210028662.4在审
发明人：朱贺 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-01-11 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种量测机台的测试方法、测试装置及监控系统，所述方法包括：在测试晶圆上选择多个测量点位，多个测量点位用于表征指定工艺数据；通过多个量测机台按照设定的时间间隔对每个所述测量点位进行连续测试得到测量值；根据所述测量值计算所述量测机台的精确度。该方法通过测试晶圆上的多个测量点位代替多个测试晶圆，在日常准确度测机的同时，通过同一量测机台获取的同一测量点位在不同时间的测量值能够反应重复性，不同的量测机台获取的同一测量点位的测量值能够反应再现性，进而通过测量值能够计算出量测机台的精确度
机台测试方法装置监控系统

[发明专利]一种三点式风机塔筒监测装置及方法-CN202010343157.X在审
发明人：吴仕明;张云峰;陆江 -专利权人：北京英华达软件工程有限公司
申请日： 2020-04-27 - 公布日： 2020-07-31 - 主分类号： F03D17/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种三点式风机塔筒监测装置及方法，该装置包括位于塔筒顶端的第一测点、位于塔筒中部的第二测点、位于塔筒底部的第三测点、交换机和工控机，通过第一测点、第二测点和第三测点采集静态量倾角信号和动态量晃度信号，其中，动态量，用于分析塔筒三个点位的固有频率的变化趋势，进行超限预警；静态量，用于分析塔筒三个点位的位置变化趋势，进行超限预警。
一种三点式风机监测装置方法

[发明专利]多头测量设备量测点位自动分配方法-CN201711450322.6有效
发明人：李敏;余智伟;邱敏 -专利权人：武汉华星光电技术有限公司
申请日： 2017-12-27 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本发明提供一种多头测量设备量测点位自动分配方法，包括获取所述彩膜表面所有需量测位置的点位坐标的步骤；对所述点位坐标进行分组的步骤；将各分组的所述Y轴坐标，匹配至符合测量范围的所述支架机构的步骤；根据所述支架机构的Y轴坐标，为所述量测头机构匹配X轴坐标的步骤；逐一将所有需量测位置的点位坐标，匹配至所述支架机构和所述量测头机构，完成量测点位的分配；本发明提出的多头测量设备量测点位自动分配方法，能够精准、快速地将量测点位自动分配给对应的量测机构，且保证各量测机构之间在安全距离中允许，避免出现量测机构碰撞导致的设备宕机问题。
多头测量设备量测点位自动分配方法

[发明专利]多点表面位移测量方法及装置-CN202110245684.1有效
发明人：王云泽;吴旭;武同;刘玉杰 -专利权人：杭州国翌科技有限公司
申请日： 2021-03-05 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01B11/03 文献下载
摘要：该方法为：在待测物表面确定多个待测点位，并额外确定至少一个位置固定的参考点位；根据所有点位的位置确定摄像单元的固定位置，并为每个点位设置摄像单元拍摄预置点，采集每个点位的基准图；控制摄像单元在每个点位对应的预置点逐点位巡航拍摄，采集每个点位的测量图；将每个点位的基准图和测量图进行比较，计算得到各点位的测量位移量；根据参考点位的位移量对待测点位的位移量进行位移补偿，得到各待测点位的实际位移量。该方法通过一个摄像单元完成待测物表面的多点位位移测量，效率高，成本低，引入参考点位对待测点位的位移量进行位移补偿，提高了位移测量的精度和稳定性。
多点表面位移测量方法装置

[发明专利]精密测长机及其光量干涉排除方法和装置-CN201310106348.4有效
发明人：黄文德;张岳妍;朱厚毅 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2013-03-29 - 公布日： 2013-07-24 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种精密测长机及其光量干涉排除方法和装置。在量测前，光量干涉排除装置调节当前量测点位的反射输入光量直至测得的反射输出光量等于目标反射输出光量值，得到补正反射输入光量值，其中所有量测点位的目标反射输出光量值均相等；和/或调节当前量测点位的透射输入光量直至测得的透射输出光量等于目标透射输出光量值，得到补正透射输入光量值，其中所有量测点位的目标透射输出光量值均相等。然后，光量干涉排除装置将得到的当前量测点位的补正反射输入光量值和/或补正透射输入光量值保存在量测参数集合中。
精密长机及其干涉排除方法装置

[发明专利]虚拟量测模型构建方法、虚拟量测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质-CN202110559957.X有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：成都数之联科技股份有限公司
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本申请提供一种虚拟量测模型构建方法、虚拟量测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质，涉及数据处理技术的领域，虚拟量测模型构建方法包括：针对测量点位，基于训练集中与测量点位对应的生产参数和关键特性值，训练出第一模型；将测量点位划分为K个类簇，根据各第一模型的模型指标，从每个类簇的各测量点位中选择一组测量点位，以得到K组测量点位，将K组测量点位作为锚点，将剩余的测量点位作为非锚点，训练出第二模型；进而将第二模型与K组测量点位对应的第一模型组合，得到虚拟量测模型；从而能预测待测面板所有待测测量点位的关键特性值，无需实际测量就能控制各待测面板的质量。
虚拟模型构建方法系统电子设备计算机可读存储介质

[实用新型]一种监控量测桩保护装置-CN201721639679.4有效
发明人：周亚东;王亚东 -专利权人：中铁十一局集团第四工程有限公司;中铁十一局集团有限公司
申请日： 2017-11-30 - 公布日： 2018-08-03 - 主分类号： G01C15/00 文献下载
摘要：一种监控量测桩保护装置，包括上耳固定构件（2）、中间保护构件（4）和下耳固定构件（3），所述的中间保护构件（4）为U型板结构，所述的上耳固定构件（2）垂直焊接在中间保护构件（4）上侧壁上，所述的下耳固定构件通过螺栓把本装置固定到墙壁上，将监控量测桩整个保护起来，从而可以有效的保护监控量测点避免被锚杆台车、挖掘机、喷浆机对量测点位的破坏，实现了不影响测量工作的同时有效的保护监控量点位。
固定构件监控量保护构件下耳保护装置垂直焊接点位锚杆台车影响测量装置固定螺栓挖掘机喷浆机上侧壁下侧壁预留孔测点量测墙壁

[发明专利]一种检测牦牛RNA编辑位点的方法及装置-CN201911413840.X有效
发明人：王嘉博;钟金城;柴志欣;王吉坤;王会;武志娟 -专利权人：西南民族大学
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G16B20/30 文献下载
摘要：本发明适用于牦牛基因功能挖掘技术领域，提供了一种检测牦牛RNA编辑位点的方法及装置，该检测方法包括以下步骤：获取待测样品的RNA，并去除待测样品的RNA中的rRNA；将剩余的RNA转录成cDNA，并对cDNA进行高通量测序，获得RNA‑seq数据；根据RNA‑seq数据对待测样品在不同组织和/或不同环境的cDNA基因型进行鉴定，获得待测样品的cDNA基因型和RNA表达量；根据待测样品的cDNA基因型以及待测样品的RNA表达量，确定待测样品的RNA编辑位点，最后通过RNA编辑位点的蛋白编码能力改变鉴定RNA编辑位点的变异能力，确定有效变异的RNA编辑位点。本发明利用表达量对候选位点进行过滤，使结果更加可信，以排除假阳性位点，提高了预测RNA编辑位点的准确性。
一种检测牦牛 rna 编辑方法装置

[发明专利]OLED器件量测系统及自动定位OLED器件量测点位的方法-CN201810395279.6在审
发明人：韩文;马荣 -专利权人：武汉华星光电技术有限公司
申请日： 2018-04-27 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种OLED器件量测系统及自动定位OLED器件量测点位的方法。该OLED器件量测系统通过在检测器(3)外部设置与检测器(3)内的目镜相连接的目镜筒(5)及将相机(7)固定在所述目镜筒(5)上，能够使得所述相机(7)与目镜的取景对象相同，从而确保检测器(3)的中轴线与相机(7)的中轴线均垂直于OLED器件样品(9)，避免OLED器件样品(9)的发光区上的待量测点(O2)与量测光斑(FA)的中心点(O3)发生偏移。该自动定位OLED器件量测点位的方法，使用上述OLED器件量测系统，能够准确地将OLED器件样品(9)的发光区上的待量测点(O2)定位到量测光斑(FA)的中心点(O3)。
量测量测系统检测器自动定位点位光斑相机发光区量测点目镜筒中心点中轴线目镜外部设置偏移取景垂直

[发明专利]一种探针式膜厚测量机自动刮膜量测装置及其使用方法-CN201610805091.5有效
发明人：蒲建宇;李启明 -专利权人：武汉华星光电技术有限公司
申请日： 2016-09-07 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本申请提出了一种探针式膜厚测量机自动刮膜量测装置及其使用方法，本发明在现有的探针式膜厚测量机上增加了刮膜刀片、刮膜碎屑处理机构和视野CCD，刮膜刀片、刮膜碎屑处理机构和视野CCD均设置在量测盘上；通过搜索CCD确定量测物的测量点位；量测针头移动到测量点位处，绘制出测量区域高度变化曲线，判断量测物是否需要进行刮膜处理，通过刮膜刀片与量测针头的相对距离确定出刮膜坐标，选定点位、刮膜方向以及刮膜长度，下降刮膜刀片，进行刮膜通过自动刮膜的方式替代手动刮膜，大大的减少了了量测时间，并对刮膜量测的精度和操作性有很大的提升，避免了刮膜刀片损坏量测物的危险。
一种探针式膜厚测量自动刮膜量测装置及其使用方法

[发明专利]一种晶圆厚薄双向量测方法-CN202210042574.X在审
发明人：刘磊;高美山;姜红涛;黄金良;袁强 -专利权人：江苏汇成光电有限公司
申请日： 2022-01-14 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开了晶圆厚度测量领域内的一种晶圆厚薄双向量测方法，包括如下步骤：将晶圆定位放置在可在水平面内移动的量测载台上，对晶圆上需要进行量测的区域位置进行坐标扫描输入，在在量测区域内选定K个需要进行量测的点位坐标；针对待量测点位进行检测，分别根据上检测传感器接收的光束、下检测传感器接收的光束得出Thkopt上和Thkopt下，根据公式Thkopt/RI=Thkgeom，得到Thkgeomx；重复上述步骤K‑1次，依次针对下一个待量测点位进行检测，直至控制系统计算得到（K‑1）组Thkgeom本发明能够对晶圆Wafer进行多点位量测，作业模式多样化，可满足多元化的量测需求；通过上下双检测传感器作业模式，实现提高量测精度。
一种厚薄双向方法

[发明专利]一种煤矿井下粉尘测定方法-CN201410806889.2无效
发明人：范人杰 -专利权人：常熟市矿山机电器材有限公司
申请日： 2015-08-04 - 公布日： 2015-07-29 - 主分类号： E21F17/18 文献下载
摘要：提供一种煤矿井下粉尘测定方法，所述煤矿井下粉尘测定方法包含采煤工作面测尘点布位、掘进工作面测尘点布位、井下其他场所测尘点布位、确定测尘次数和时长4个步骤；所述采煤工作面测尘点布位，布位点分别为采煤机回风侧、司机工作点、各类作业人员回风侧；所述掘进工作面测尘点布位，布位点分别为掘进机回风侧、各类工作点回风侧、产尘点与除尘器吸法罩间粉尘扩散较均匀地区的呼吸带内；所述井下其他场所测尘点布位，布位点为别为工作地点回风侧
一种煤矿井下粉尘测定方法

[发明专利]一种在玻璃基板曝光制程中实现自动补值的方法及系统-CN201310501656.7有效
发明人：黄文德;史凯;张书翰 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2013-10-23 - 公布日： 2014-01-22 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种在玻璃基板曝光制程中实现自动补值的系统，包括量测机、通信接口模块网络与曝光机，其中：量测机用于自动对曝光后的玻璃基板进行量测，并将量测获得的各个量测点的曝光偏移量数据通过所述通信接口模块网络上传给所述曝光机的预定存放区域中；曝光机用于根据所述各个量测点的曝光偏移量数据获得所述各个量测点相应的补值量，并对玻璃基板上与所述各个量测点对应的曝光点进行补值处理。根据本发明的实施例，可以提高曝光机的补值效率以及补值准确性，并可节省人力。
一种玻璃曝光制程中实现自动方法系统

[实用新型]坝基倾斜自动化监测系统-CN200920306423.0无效
发明人：颜景枫;薛捍军;隋明日 -专利权人：云峰发电厂
申请日： 2009-07-18 - 公布日： 2010-07-07 - 主分类号： G01B7/02 文献下载
摘要：包括自动化数据采集装置，即至少包括两个固定在坝体上的间隔测点，每个测点设有装液体的测点箱，两测点箱液位下之间通过连通水管连接，两测点箱液位上之间通过压力平衡管连接，每个测点箱内设有位移传感器。当坝基受外界荷载因素变化影响发生变形时，测点箱内液位发生变化，磁致伸缩仪测出液位变化，在上位机上将实时显示磁致伸缩仪的测值，两测值之差即为坝基倾斜位移量。对坝基变形的影响系统实现了自动采集坝段基础倾斜量、实时显示数据、按要求的时间间隔自动保存监测数据、随时查看历史数据、自动计算和显示数据过程线等功能。
坝基倾斜自动化监测系统

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