专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于深度学习的双目相机深度标定方法和系统-CN202310184290.9在审
  • 龙潜;孙婷;谢启伟 - 中科慧眼(天津)研究开发有限公司
  • 2023-03-01 - 2023-03-31 - G06T7/80
  • 本发明公开了一种基于深度学习的双目相机深度标定方法和系统,所述方法包括:获取待标定双目相机的左目相机拍摄的左目靶标图,和所述待标定双目相机的右目相机拍摄的右目靶标图;将所述左目靶标图和右目靶标图输入预先训练的点检模型,得到左目靶标图的第一点检结果、右目靶标图的第二点检结果,以及所述第一点检结果和所述第二点检结果之间的点匹配结果;基于所述第一点检结果、所述第二点检结果和所述点匹配结果,生成所述待标定双目相机的深度标定结果在自动驾驶或辅助驾驶场景中,提高点检的准确性,从而提高双目相机深度标定的准确性。
  • 基于深度学习双目相机标定方法系统
  • [发明专利]一种基于点检的装配连接件快速识别方法-CN201710256335.3有效
  • 刘桂雄;黄坚 - 华南理工大学
  • 2017-04-19 - 2020-11-13 - G06K9/46
  • 本发明公开了一种基于点检的装配连接件快速识别方法,包括样本点学习统计:包括采集并检测样本的Harris点、Shi‑Tomasi点、FAST点,并统计在样本中各种点数量的平均值及标准差;高鲁棒性点检快速识别:包括设定信度要求,自动建立连接件可能位置数量下限的计算公式;选择在点学习统计中数量平均值最大的点检算法与标准差最小的点检算法,使满足条件的方法检测待检图像点,若图像局部区域点数量高于阈值要求,则认为具有极大可能是连接件,提取图像输入至分类器种检测;全角点检快速识别:包括使用Harris点、Shi‑Tomasi点、FAST点三种点检方法,对于具有点的位置,即认为有可能是连接件,提取图像输入至分类器种检测
  • 一种基于检测装配连接快速识别方法
  • [发明专利]一种半导体面板点定位方法及装置-CN202210929899.X有效
  • 刘海莹 - 创新奇智(成都)科技有限公司
  • 2022-08-04 - 2022-10-21 - G06T7/00
  • 本申请实施例提供一种半导体面板点定位方法及装置,包括:先获取待检测基材的待检测图像帧;再对待检测图像帧进行基于深度学习的关键点检,得到关键点检结果,该关键点检结果包括目标基材中心点和四点;然后根据关键点检结果对待检测基材进行定位标记,确定点信息;最后通过仿射变换算法对角点信息进行补正,得到最终的点定位信息,能够快速定位出点信息,计算量小,且当影像覆盖的检测物体数量多的时候定位准确度好,鲁棒性好,有利于提升点定位效率。
  • 一种半导体面板定位方法装置
  • [发明专利]一种点检方法和装置-CN201410840922.3在审
  • 陈永洒;邵诗强 - TCL集团股份有限公司
  • 2014-12-30 - 2016-07-27 - G06T7/00
  • 本发明提供了一种点检方法和装置,该方法包括:获取标定模板的点的个数;获取对所述标定模板进行拍摄的图像中点的个数进行计算的函数表达式,所述函数表达式包括点检所需要的参数;根据所述函数表达式与所述的标定模板的点个数的差的绝对值最小,确定所述函数表达式中点检所需要的参数值和角点。本发明使得检测点与标定模板的点最接近,可以避免通过人为主观的指定参数值,能够有效提高点检的准确性和检测效率,从而提高相机标定的精度。
  • 一种检测方法装置

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