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[发明专利]信息处理设备,信息处理方法和程序-CN201010509533.4有效
发明人：佐佐木夏子;尾崎悟士;鹤见辰吾 -专利权人：索尼公司
申请日： 2010-09-29 - 公布日： 2011-05-11 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：所述信息处理设备包括保持单元，所述保持单元被配置成预先保持将呈现给个人的呈现数据；检测单元，所述检测单元被配置成在通过拍摄被摄物体的图像而获得的拍摄图像中检测被摄物体；读取单元，所述读取单元被配置成从预先保持的多项呈现数据中，读取与被摄物体的检测结果相关的呈现数据；和输出单元，所述输出单元被配置成输出读取的呈现数据。
信息处理设备方法程序

[发明专利]一种用于安检图像复杂度的分析方法-CN201611097069.6有效
发明人：何竞择;徐圆飞;张文杰 -专利权人：北京航星机器制造有限公司
申请日： 2016-12-02 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种用于安检图像复杂度的分析方法，首先获取被检测物体的X射线图像，进而得到被检物体的尺寸、被检物体在X射线图像中的像素密度分布、被检物体中各个物体的轮廓线条数量、被检物体中各个物体的轮廓线条长度、被检物体中各个物体的最大叠压层数、X射线穿透被检物体后的能量、被检物体有效原子序数与违禁物品的近似程度，然后生成得到被检物体的复杂度，并根据被检物体的复杂度提醒安检员对复杂度最大的被检物体进行检查。
一种用于安检图像复杂度分析方法

[发明专利]物体位置检测装置-CN201711222801.2有效
发明人：增田浩三 -专利权人：日立乐金光科技株式会社
申请日： 2017-11-29 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01S17/894 文献下载
摘要：物体位置检测装置(1)包括：距离图像生成部(10)，其基于光的传播时间测量其至包含物体的被拍摄体的距离，生成2维的距离图像；生成从被拍摄体的距离图像中提取物体而得到的物体图像的物体图像生成部(16)；和设置角度检测部(20)，其检测距离图像生成部(10)的设置角度。物体图像生成部(16)包括差分器(17)，其进行从被拍摄体的距离图像中去除物体以外的背景的去除处理，基于设置角度检测部(20)检测出的距离图像生成部(10)的设置角度，来设定差分器(17)中的背景去除的阈值
物体位置检测装置

[其他]一种用于对准第一和第二物体相关位置的方法及实现该方法的装置-CN87100831无效
发明人：田畑光雄;东条徹;下∴裕明 -专利权人：株式会社东芝;东京光学机械株式会社
申请日： 1987-02-14 - 公布日： 1987-12-09 - 主分类号： G03F9/00 文献下载
摘要：根据本发明对准第一和第二物体的方法，第一和第二物体面对面地安置，对准是在垂直于面对面方向上进行的。第一物体上制有光栅图形，第二物体上制有方格棋盘形光栅图形。从对准用光源发出的光束射在第二物体的方格棋盘形光栅图形上。被其衍射的光束被引向第一物体的光栅图形上。由此再被衍射的光束被检测器检测。从而测得第一和第二物体的相对位置，而与它们的间距无关。依照检测结果，第一和第二物体被精确地对准。本发明可被用作对准掩膜和硅片的方法。
一种用于对准第一第二物体相关位置方法实现装置

[发明专利]一种用于对准掩膜和硅片的相关位置的方法及实现该方法的装置-CN87100831.9无效
发明人：田畑光雄;东条徹;下裕明 -专利权人：株式会社东芝;东京光学机械株式会社
申请日： 1987-02-14 - 公布日： 1992-10-28 - 主分类号： G03F9/00 文献下载
摘要：根据本发明对准第一和第二物体的方法，第一和第二物体面对面地安置，对准是在垂直于面对面方向上进行的。第一物体上制有光栅图形。第二物体上制有方格棋盘形光栅图形。从对用光源发出的光束射在第二物体的方格棋盘形光栅图形上。被其衍射的光束被引向第一物体的光栅图形上。由此再被衍射的光束被检测器检测。从而测得第一和第二物体的相对位置，面与它们的间距无关。依照检测结果，第一和第二物体被精确地对准。本发明可被用作对准掩膜和硅片的方法。
一种用于对准硅片相关位置方法实现装置

[实用新型]一种超高温物体位置检测装置-CN202121164620.0有效
发明人：胡浩;葛荣享;董恩翔;李荆洲 -专利权人：斯威尔澳乐（武汉）测控科技有限公司
申请日： 2021-05-27 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： B22D11/20 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种超高温物体位置检测装置，包括位置检测组件和被测量组件，所述位置检测组件包括位置检测装置，所述位置检测装置两端对称设有安装壳，所述安装壳内壁设有隔板，所述隔板相互远离的一端设有弹簧，所述弹簧远离隔板的一端设有卡块，所述卡块贯穿安装壳侧壁设置在安装壳外侧；所述被测量组件包括被测物体的固定部分和被测物体的活动部分，所述被测物体的固定部分和被测物体的活动部分相互靠近的一端分别设有固定块，所述固定块相互靠近的一端设有卡槽，所述卡槽内壁对称设有卡孔，所述位置检测装置通过卡块卡入卡孔和被测量组件相连；本实用新型通过卡块卡入或移出卡孔实现位置检测装置的拆装，且拆装简单方便，提高了工作效率。
一种超高温物体位置检测装置

[发明专利]图像处理装置、图像处理方法以及记录介质-CN201811530133.4有效
发明人：大塚利彦;富田高弘 -专利权人：卡西欧计算机株式会社
申请日： 2018-12-14 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： A45D42/18 文献下载
摘要：图像处理装置(1)具备图像解析部(112)、生物体信息测定部(114)、判定选择部(113)。图像解析部(112)从通过拍摄部(16)拍摄到的包含被摄体的图像中检测该被摄体的多个部位图像。生物体信息测定部(114)从通过图像解析部(112)检测出的被摄体的多个部位图像的至少某个取得生物体信息。判定选择部(113)判定与通过图像解析部(112)检测出的被摄体的多个部位图像各自相关的生物体信息的检测容易度。判定选择部(113)基于通过判定选择部(113)判定出的生物体信息的检测容易度进行与被摄体的生物体信息的取得有关的选择。
图像处理装置方法以及记录介质

[实用新型]检测装置和硅片分选设备-CN201920561791.3有效
发明人：李文;李昶;彭海军;徐飞 -专利权人：无锡奥特维科技股份有限公司
申请日： 2019-04-23 - 公布日： 2020-01-10 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种检测装置和硅片分选设备，检测装置包括用于输送待测物体的输送机构和两组检测机构，第一组检测机构被配置为检测待测物体的第一边缘和上表面，第二组检测机构被配置为检测待测物体的第二边缘和下表面，每组检测机构均包括检测相机、反射机构和激光发射器，反射机构对激光发射器发射的激光进行至少一次反射，以使激光经过待测物体的被检测边缘反射后被对应的检测相机探测到，第一边缘和第二边缘为待测物体上相对的且与输送机构的输送方向垂直的两条边缘本实用新型的硅片分选设备包括上述的检测装置。本实用新型中，检测待测物体的效率得以有效提高，设备制造成本低，结构简化，检测成本降低，检测过程连续性更好。
待测物体检测本实用新型激光发射器反射机构分选设备检测装置输送机构硅片激光相机设备制造成本过程连续性方向垂直检测边缘结构简化一次反射上表面下表面种检测两组反射配置探测发射

[发明专利]放大显示装置和放大图像控制装置-CN200510066363.6有效
发明人：泷川绘里奈;吉田阳子;樱木美春;松冈美希 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2005-04-22 - 公布日： 2005-11-02 - 主分类号： H04N1/393 文献下载
摘要：本发明提供一种能够容易地显示用户所注目的被摄物体的放大图像的显示装置。从在画面中所显示的图像中检测出人的面部等的注目被摄物体，根据检测出的注目被摄物体的位置和大小决定用于放大显示该注目被摄物体的显示区域和放大率。然后，按照所决定的显示区域和放大率在画面中进行放大显示。在有多个注目被摄物体存在于图像中的情况下，也可以将注目被摄物体分类成多个集合，按照每个集合进行放大显示。
放大显示装置图像控制装置

[发明专利]一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法-CN201610237541.5有效
发明人：杨晓;刘学建;姚秀敏;黄政仁;陈健;杨金晶 -专利权人：中国科学院上海硅酸盐研究所
申请日： 2016-04-15 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G01N9/24 文献下载
摘要：本发明提供一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法，包括将已知密度物质作为参考物与被测物体一起置于检测台；参考物与被测物体距检测台中心距离一致；对两者线阵列扫描；取检测结果中包含被测物体与参考物任一切面为分析对象，以射束硬化环状伪影中心为圆心做基准圆，得到在基准圆圆周上与该中心距离一致的参考物及被测物体切面位置；在参考物切面上以基准圆圆周上任一点为圆心做参考物圆，该圆所在范围均在参考物切面之内；在被测物体切面上以基准圆圆周上任一点为圆心做被测物体圆，该圆所在范围均在被测物体切面之内；被测物体圆与参考物圆面积一致；利用工业CT对两圆进行灰度分析以得到两者灰度；基于该灰度计算被测物体密度值。
一种工业 ct 分析物体密度分布方法

[实用新型]一种往复运动物体极限位置检测装置-CN201721652436.4有效
发明人：刘毅钊;刘明骁;易先明 -专利权人：湖北扬子江泵业有限责任公司;湖北扬子江泵业（武汉）有限责任公司
申请日： 2017-12-01 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种往复运动物体极限位置检测装置，包括被检测物体、检测轨道和一个位置传感器，所述被检测物体设置在检测轨道上，被检测物体可沿着检测轨道进行直线运动，所述被检测物体底部的两侧设有第一极限位置检测点和第二极限位置检测点；所述检测轨道的中间位置安装有位置传感器，所述位置传感器设置在第一极限位置检测点和第二位置极限检测点之间。本实用新型通过将位置传感器设置在两个极限位置检测点之间，这样，一个位置传感器可以检测两个极限位置检测点的运动距离，相比于现有的用两个位置传感器来检测两个极限位置检测点的运动距离，节省了检测的成本。
极限位置检测位置传感器被检测物体检测本实用新型轨道运动距离第二位置检测点

[发明专利]透射式辐射成像系统-CN201710237120.7在审
发明人：郭近贤;曹艳锋;刘铮;王春雷;冯志涛;王彦华 -专利权人：北京君和信达科技有限公司
申请日： 2017-04-12 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：其中，辐射源用于向被检测物体发射用于成像的辐射束，不同的探测器阵列适于设置在不同的位置，用于接收以不同角度从被检测物体透射的辐射束，辐射束调制装置用于对辐射源发射的辐射束进行调制，以使得辐射源具有多种发射模式，不同发射模式下入射到被检测物体上的辐射束的入射角度或入射角度组合不同，并且不同发射模式下接收到辐射束的探测器阵列或探测器阵列组合不同。由此，在辐射束调制装置的调制作用下辐射源可以以不同视角或视角组合向被检测物体发射扫描射线束，以获取不同视角或视角组合下的被检测物体的透射图像，从而可以改善透射式图像中存在的物体重叠问题。
透射辐射成像系统

[发明专利]三维表面检测装置及三维表面检测方法-CN201210417628.2有效
发明人：卢存伟 -专利权人：卢存伟
申请日： 2012-10-26 - 公布日： 2017-02-01 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供一种结构简单、成本低廉而且检测速度快、检测精度高的三维表面检测装置，用于检测表面镜面反射较强物体的表面的凹痕、伴随着较大的划痕而产生的形状变化等三维缺陷。本发明主要包括部分拍摄被测对象物体X的图像的照相装置3；笼罩在被测对象物体周围被设置为曲面状的滤光薄膜；通过上述滤光薄膜向上述被测对象物体投射曲面状结构光的曲面结构光投影单元5，该曲面结构光的强度沿着曲面状的滤光薄膜的形状呈周期性分布；对于通过照相装置3所拍摄的被测对象物体的图像进行解码处理，将其曲面状强度分布变换为直线状强度分布；通过图像处理检测出上述被测对象物体表面三维缺陷的缺陷检出单元13。
三维表面检测装置方法

[实用新型]透射式辐射成像系统-CN201720379844.0有效
发明人：郭近贤;曹艳锋;刘铮;王春雷;冯志涛;王彦华 -专利权人：北京君和信达科技有限公司
申请日： 2017-04-12 - 公布日： 2017-11-17 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：其中，辐射源用于向被检测物体发射用于成像的辐射束，不同的探测器阵列适于设置在不同的位置，用于接收以不同角度从被检测物体透射的辐射束，辐射束调制装置用于对辐射源发射的辐射束进行调制，以使得辐射源具有多种发射模式，不同发射模式下入射到被检测物体上的辐射束的入射角度或入射角度组合不同，并且不同发射模式下接收到辐射束的探测器阵列或探测器阵列组合不同。由此，在辐射束调制装置的调制作用下辐射源可以以不同视角或视角组合向被检测物体发射扫描射线束，以获取不同视角或视角组合下的被检测物体的透射图像，从而可以改善透射式图像中存在的物体重叠问题。
透射辐射成像系统

[发明专利]数字相机、图像回放装置、面部图像显示装置及其控制方法-CN200510093912.9有效
发明人：杉本雅彦 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2005-08-31 - 公布日： 2006-08-02 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：在拍摄被拍摄物体时，被拍摄物体影像(I1)，被显示在数字相机的显示画面上。被拍摄物体影像(I1)中的面部图像(框43内的图像)被检测。为使被检测的面部图像的中心(C1)成为显示画面的中心，被拍摄物体影像(I1)被移动，并且被放大显示在显示画面上。由于面部的图像被显示得很大，所以即使当显示画面小时，也能够很容易地确认面部。
数字相机图像回放装置面部显示装置及其控制方法

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