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[发明专利]工件表面粗糙度控制方法、装置和数控加工设备-CN201910796026.4在审
发明人：胡自化;张顺;秦长江;张旭东;邹业明 -专利权人：湘潭大学
申请日： 2019-08-27 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： B23Q5/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种工件表面粗糙度控制方法、装置和一种数控加工设备。工件表面粗糙度控制方法例如包括：获取待加工工件的切削参数数据、刀具表面粗糙度数据以及对应的工件表面粗糙度数据；根据切削参数数据、刀具表面粗糙度数据以及工件表面粗糙度数据建立工件表面粗糙度模型；以加工时间和材料去除率为目标函数优化工件表面粗糙度模型，得到优化后工件表面粗糙度模型；根据工件目标表面粗糙度和优化后工件表面粗糙度模型、并结合自适应变异粒子群优化算法确定刀具目标表面粗糙度和目标切削参数，以供加工设备根据刀具目标表面粗糙度和目标切削参数加工待加工工件本发明实施例可实现较精确地控制工件表面粗糙度。
工件表面粗糙度切削参数粗糙度待加工工件刀具表面目标表面刀具粒子群优化算法目标函数优化数控加工设备表面粗糙度材料去除率工件目标加工设备数据建立自适应加工优化

[发明专利]表面粗糙度测量-CN201911373172.2在审
发明人：瓦达克·马萨姆·穆鲁克山;帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦;安思文·哈瑞达斯;普尔基特·卡普尔;比拉尔·M·纳塞尔;凯尔文·H·K·陈 -专利权人：劳斯莱斯有限公司
申请日： 2019-12-27 - 公布日： 2020-07-14 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明提供了使用包括可调谐激光器光源和相机系统的光学系统测量部件的表面粗糙度的方法。将待测量的所述部件定位在所述光学系统的前部的安装件上。根据所述SSC系数绘制图计算粗糙度参数Ra和Rq。根据所计算的粗糙度参数Ra和Rq绘制成像表面的粗糙度标测图。拼接关于每个位置的粗糙度标测图，以形成所述部件的所述期望区域的总体粗糙度标测图。
表面粗糙测量

[发明专利]表面粗糙度应用-CN202080097471.2在审
发明人： S·冈萨雷斯马丁;M·博拉斯卡马拉萨;J·阿尔马塞拉斯维萨 -专利权人：惠普发展公司;有限责任合伙企业
申请日： 2020-02-24 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： B29C64/10 文献下载
摘要：所述方法可以包括在处理器处接收所述对象的表面的第一所选区域将在打印之后使第一涂层被涂敷的指示。所述方法可以进一步包括将第一预定义表面粗糙度图案应用到所述数字模型的表面的第一所选区域。
表面粗糙应用

[外观设计]表面粗糙度仪-CN202230764725.3有效
发明人：张勇;夏莹;谢宏;邓云昌;王雷 -专利权人：张勇
申请日： 2022-11-16 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： 10-04 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：表面粗糙度仪。2.本外观设计产品的用途：用于金属与非金属的加工表面的粗糙度检测。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
表面粗糙

[外观设计]表面粗糙度仪-CN98326201.2无效
发明人：郝建国;高青;郁良 -专利权人：时代集团公司
申请日： 1998-10-08 - 公布日： 1999-07-14 - 主分类号： 10-04-M0097 文献下载
摘要：
表面粗糙

[发明专利]磁控溅射靶材表面粗糙度的监测方法和系统-CN200910078644.1有效
发明人：代伍坤 -专利权人：北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2009-02-27 - 公布日： 2010-09-01 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明涉及一种磁控溅射靶材表面粗糙度的监测方法和系统。该方法包括：步骤1、在对靶材和基板之间施加电压以对基板进行镀膜之前，测试所述靶材当前状态下各测试区的表面粗糙度；步骤2、根据靶材当前状态下各测试区的表面粗糙度，生成靶材的表面粗糙度变化曲线，并将所述表面粗糙度变化曲线与预设的所述靶材的表面粗糙度标准变化曲线进行比较，获取所述靶材表面各测试区的粗糙度偏差；步骤3、在所述粗糙度偏差超出设定的阈值时，输出用于提示靶材表面粗糙度异常的报警信息；否则，输出用于提示靶材表面粗糙度正常的信息。本发明有利于降低由于靶材表面粗糙度异常导致产品不良的几率，提高磁控溅射靶表面粗糙度监测的及时性和效率。
磁控溅射表面粗糙监测方法系统

[发明专利]一种降低插损的PCB装置、加工方法-CN201910538374.1在审
发明人：汪济欢;易毕;任永会;王迎新 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2019-06-20 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种降低插损的PCB装置、加工方法，PCB包括非高速走线层和至少一内层高速走线层；高速走线层上的高速走线表面的铜箔粗糙度为第一粗糙度；高速走线层上除高速走线以外的非高速走线表面的铜箔粗糙度、高速走线层上铜箔的铜箔粗糙度和非高速走线层表面的铜箔粗糙度为第二粗糙度；第二粗糙度大于第一粗糙度，第一粗糙度大于等于PCB基材原始铜箔粗糙度；通过仅改善高速走线表面铜箔粗糙度，而其他非高速走线区域高速走线以外的铜箔表面粗糙度增加，这样既保证了PCB基材间的粘合度，又不用改变基材铜箔表面的粗糙度，改善了传输线的导体损耗，同时保证了PCB的可靠性。
一种降低 pcb 装置加工方法

[发明专利]玻璃制造方法及系统-CN202211546802.3在审
发明人：林众;陈发伟;李要辉 -专利权人：湖南旗滨微晶新材料有限公司
申请日： 2022-12-01 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： C03B29/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种玻璃制造方法及系统，属于玻璃制造技术领域，该方法在确定初成型玻璃板中的高表面粗糙度区域与高表面粗糙度区域的加热能量参数后，根据高表面粗糙度的加热能量参数控制加热装置输出能量束至高表面粗糙度区域，可以使高表面粗糙度区域中的凹凸部分吸收热量后，减少高表面粗糙度区域的表面平均粗糙度，以得到表面平均粗糙度小于预设平均粗糙度的玻璃板，不需要再进行后续的磨削、研磨以及抛光等程序，进而简化了玻璃板的制作工序
玻璃制造方法系统

[发明专利]一种岩石节理三维节理表面粗糙度测量方法-CN201910257509.7有效
发明人：姜谙男;张峰瑞;赵龙国 -专利权人：大连海事大学
申请日： 2019-04-01 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G06N20/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种岩石节理三维节理表面粗糙度测量方法，基于非接触式的高精度激光测距仪获得岩石表面的粗糙度参数以及节理表面粗糙度，使用高斯过程建立粗糙度参数与节理表面粗糙度的非线性映射，并使用差异进化算法对非线性映射中的超参数进行优化，训练得到了适用于计算岩石的节理表面粗糙度的预测器，可用于测量基于粗糙度参数的节理表面粗糙度。
一种岩石节理三维表面粗糙测量方法

[发明专利]一种GA带钢表面粗糙度的滤波方法及在线检测设备-CN202111208057.7在审
发明人：方百友;朱健华;李东亭 -专利权人：宝钢日铁汽车板有限公司
申请日： 2021-10-18 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： B21B38/00 文献下载
摘要：本发明公开一种GA带钢表面粗糙度的滤波方法及在线检测设备，采用回归平滑自适应滤波方法对带钢表面粗糙度在线检测，该滤波方法包括以下步骤：对GA带钢表面粗糙度初始值进行局部加权回归降噪预处理，得到初次平滑后的带钢表面粗糙度参数；建立权重函数，得到二次平滑后的带钢表面粗糙度参数；使用滤波器反复迭代寻求优化值，得到带钢表面粗糙度的滤波器输出参数。本发明还公开了一种GA带钢表面粗糙度在线检测设备，该GA带钢表面粗糙度的回归平滑自适应滤波方法及在线检测设备能够对带钢表面粗糙度进行准确快速在线检测，替代了传统离线检测手段，大大提高冷轧带钢表面粗糙度的检测精度
一种 ga 带钢表面粗糙滤波方法在线检测设备

[发明专利]研磨垫的修整方法及装置-CN201510080294.8有效
发明人：丸山徹;高桥信行 -专利权人：株式会社荏原制作所
申请日： 2015-02-13 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： B24B53/017 文献下载
摘要：本发明提供一种能够通过在监控研磨垫的表面粗糙度，且控制研磨垫的温度的同时进行修饰，来高效地完成用于获得最佳研磨率的研磨垫的表面粗糙度的修整方法及装置。在研磨垫(2)的修饰中，测定由算数平均粗糙度(Ra)、均方根粗糙度(Rq)、粗糙度曲线的最大低点深度(Rv)、粗糙度曲线的最大顶点高度(Rp)及最大高度粗糙度(Rz)这5个指标中至少1个指标所表示的研磨垫的表面粗糙度，对测出的表面粗糙度与预设的目标表面粗糙度进行比较，基于比较结果而对研磨垫(2)进行加热或冷却，由此调整研磨垫(2)的表面温度。
研磨修整方法装置

[发明专利]基于表面几何的结冰表面粗糙度衡量方法-CN201210076791.7有效
发明人：朱春玲;王正之;孙志国 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2012-03-21 - 公布日： 2012-09-12 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于表面几何的结冰表面粗糙度衡量方法，属于冰层表面粗糙度评估领域。该方法以沙粒粗糙度模型的计算结果为基准值，再通过提出的以实际几何特征修正粗糙度的计算模型，即几何粗糙度修正模型，计算冰层表面各节点上的当地曲率，根据曲率计算结果对基准值进行修正，使表面粗糙度值变成了关于结冰初始工况本方法在每个时间步长上都根据实际冰层表面几何特征更新粗糙度值，使粗糙度评估更接近实际的结冰过程。
基于表面几何结冰粗糙衡量方法

[发明专利]半导体器件及其制作方法-CN201310007377.5有效
发明人： S.W.朴;K.Y.杨;K.H.李;J.H.李 -专利权人：新科金朋有限公司
申请日： 2013-01-09 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： H01L21/56 文献下载
摘要：互连结构形成在半导体管芯的有源表面上。密封剂被形成在半导体管芯和互连结构上，包括与互连结构相对的第一表面。第一表面的外围部分包括设置在半导体管芯的占位空间外部的第一粗糙度。第一表面的半导体管芯部分包括设置在半导体管芯的占位空间上的小于第一粗糙度的第二粗糙度。密封剂的第一表面被设置在模具内和半导体管芯周围以接触模具的表面，其包括等于第一粗糙度的第三粗糙度和等于第二粗糙度的第四粗糙度。第一粗糙度包括小于1.0微米的粗糙度。第二粗糙度包括在1.2 ‑ 1.8微米的范围内的粗糙度。
半导体器件及其制作方法

[发明专利]垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪-CN202010298483.3在审
发明人：张树;施玉书;皮磊;史舟淼;高思田;李伟;李琪;李适;黄鹭 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-04-16 - 公布日： 2020-07-03 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪，垂直式表面粗糙度测头包括固定架、移动架、位移测量模块、针杆、触针和导向装置，移动架竖向滑动连接于固定架上，移动架上设置针杆，移动架的底板上设有导向装置，导向装置能够用于对针杆进行竖向导向以防止针杆摆动，针杆的底端固定设置有触针，针杆穿过导向装置，触针贯穿移动架的底板，位移测量模块用于测量针杆竖直方向上的移动距离；表面粗糙度仪包括架体、移动装置和上述的垂直式表面粗糙度测头本发明中，触针与针杆在导向装置的作用下，测量过程中始终与工件表面垂直，操作简便、测量精准程度高。
垂直表面粗糙度测头

[实用新型]垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪-CN202020564296.0有效
发明人：张树;施玉书;皮磊;史舟淼;高思田;李伟;李琪;李适;黄鹭 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-04-16 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪，垂直式表面粗糙度测头包括固定架、移动架、位移测量模块、针杆、触针和导向装置，移动架竖向滑动连接于固定架上，移动架上设置针杆，移动架的底板上设有导向装置，导向装置能够用于对针杆进行竖向导向以防止针杆摆动，针杆的底端固定设置有触针，针杆穿过导向装置，触针贯穿移动架的底板，位移测量模块用于测量针杆竖直方向上的移动距离；表面粗糙度仪包括架体、移动装置和上述的垂直式表面粗糙度测头本实用新型中，触针与针杆在导向装置的作用下，测量过程中始终与工件表面垂直，操作简便、测量精准程度高。
垂直表面粗糙度测头

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