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[实用新型]影像感测模块功能判定治具-CN201220535090.0有效
发明人：洪伟 -专利权人：东莞旺福电子有限公司
申请日： 2012-10-18 - 公布日： 2013-05-29 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种感光芯片测试装置，尤其是一种影像感测模块功能判定治具。它包括一底壳及相对底壳翻转开合的上盖，所述的底壳内设有电路板放置槽及测试夹具放置平台，电路板放置槽中放置有测试电路板，测试夹具放置平台上安装有测试夹具，所述的上盖上对应测试夹具放置平台的位置设有通孔，所述的通孔上设有背光板组件本实用新型操作简单可适用于高精度的感光芯片测试，测试效率高，测试精度好。
影像模块功能判定

[发明专利]一种芯片内部电路断路缺陷的修复方法及装置-CN201911206961.7在审
发明人：陈云;姚瑶;丁树权;龙俊宇;侯茂祥;施达创;陈新;高健;刘强;张揽宇;贺云波;张胜辉;汪正平 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2019-11-29 - 公布日： 2020-02-21 - 主分类号： H01L21/768 文献下载
摘要：本发明涉及一种芯片内部电路断路缺陷的修复方法，包括如下步骤：步骤一，检测出芯片的缺陷位置及填充材料的种类与性能参数；步骤二，将所述芯片放置在二维运动平台上，对所述芯片进行定位，标定出芯片上的原点，设定二维运动平台的速度与位移参数；步骤三，根据所述填充材料的性能参数设置两束激光的参数；调节两束激光三维入射角度与Z轴的焦距，使得两束激光的聚焦点照射所述芯片的断路处的任一端，将该端的填充材料改性为石墨烯；步骤四，所述二维运动平台带动所述芯片移动，使两束所述激光的聚焦点移动到所述断路处的另一端，并使移动轨迹连通所述芯片的断路处的两端。
一种芯片内部电路断路缺陷修复方法装置

[实用新型]一种用于拆离芯片与芯片输出端的装置-CN202223492951.4有效
发明人：黄星武;孙恒俊 -专利权人：江苏浦丹光电技术有限公司
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： B09B3/30 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片拆离技术领域，具体公开了一种用于拆离芯片与芯片输出端的装置，包括工作平台和设置在工作平台上的固定机构、顶料机构和拆离机构，固定机构和顶料机构设置在拆离机构的一侧；固定机构设有用于放置芯片的芯片安装位，顶料机构包括移动台，移动台上设有斜面，斜面的顶端与芯片输出端抵接；拆离机构包括升降机构、三维对准调节架、安装板、压杆和压头，升降机构设置在工作平台上，三维对准调节架固定设置在升降机构上。本申请中的三维对准调节架的X位移调节组件、Y位移调节组件和Z位移调节组件控制方位，移动压杆上的压头将芯片的输出端与芯片分离，有效地减少了拆离设备的成本。
一种用于芯片输出装置

[实用新型]芯片测试系统和测试平台-CN202223605767.6有效
发明人：倪黄忠;顾红伟;胡晓辉;薛玉妮 -专利权人：深圳市时创意电子有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请公开了一种芯片测试系统和测试平台，芯片测试系统包括测试治具、第一芯片和第二芯片，所述第一芯片和所述第二芯片可放置于所述测试治具上，以进行测试；所述测试治具包括测试板和转换板，所述转换板设置在所述测试板的一侧
芯片测试系统平台

[发明专利]一种数字微流控平台的拼接系统的拼接方法-CN202010062040.4有效
发明人：易子川;水玲玲;迟锋;刘黎明;杨健君;张智;张崇富 -专利权人：电子科技大学中山学院
申请日： 2020-01-19 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： B01L3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种数字微流控平台的拼接系统及方法，该系统包括至少两个数字微流控平台和驱动装置，数字微流控平台包括普通玻璃以及由ITO玻璃组成的电极板，电极板的正面涂附有疏水绝缘层，疏水绝缘层的表面放置有液滴，电极板的侧面互相拼接，电极板的背面贴合在普通玻璃上，驱动装置与电极板电连接；通过探究微流控平台之间的缝隙以及液滴的移动速度对平台拼接的影响，实验得到设置各个参数的最优值，从而实现平台拼接，能够在数字微流控芯片出现故障时作为模块进行替换，避免报废整个芯片，且由于各个平台能够拼接，也使得它们能够根据实际情况对DMF芯片的可操作范围进行扩大或是进行复杂功能集成，具有灵活性高，实用性高等优点。
一种数字微流控平台拼接系统方法

[发明专利]一种工业视觉实训设备用芯片检测装置-CN202011614998.6在审
发明人：程涵涵 -专利权人：苏州跃季湖网络科技有限公司
申请日： 2020-12-30 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：本发明公开的属于工业视觉设备技术领域，具体为一种工业视觉实训设备用芯片检测装置，包括支撑台和真空泵，所述支撑台的下方四个拐角均设置有支撑腿，所述支撑台的上方左右侧均安装有支撑板，左侧所述支撑板的右侧和右侧支撑板的左侧均安装有旋转主轴，左侧所述支撑板的左侧安装有步进电机，所述步进电机的转子与旋转主轴连接，将待测芯片放置到下侧的治具平台中，通过步进电机可以带动展示台旋转，展示台可以带动治具平台旋转，通过治具平台旋转可以使芯片旋转180°，从而方便摄像机对芯片的正反面进行拍摄，通过展示台带动芯片旋转，不但增加了教学的安全性，还可以方便被培训清晰的观看到芯片的被检测面。
一种工业视觉实训设备用芯片检测装置

[发明专利]一种用于精密芯片的多工位烧录机-CN202310783606.6在审
发明人：李勇;马中伟;邓裕全 -专利权人：深圳市联阳电子设备有限公司
申请日： 2023-06-29 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： B65G29/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于精密芯片的多工位烧录机，涉及烧录设备技术领域，包括：工作平台，工作平台台面上安装有多工位转动装置、往复上料装置和拖链，多工位转动装置位于工作平台台面中心，且往复上料装置和拖链围绕多工位转动装置设置通过多工位转动装置的设置可以同时放置多个芯片并进行固定，不仅可以保证芯片在移动的过程中不会发生掉落，并且可以对多个芯片进行依次烧录并转动实现工位之间的切换，而且能够适配不同尺寸的芯片，进而提高工作效率，通过往复上料装置的设置可以对芯片进行依次吸附上料，避免了无意义的重复劳动，并且提升了效率。
一种用于精密芯片多工位烧录机

[发明专利]替代氢气炉进行芯片烧结的方法-CN201410205312.6有效
发明人：潘茹;黄雒光;潘仙玲;程春红;许洋 -专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所
申请日： 2014-05-15 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： H01L21/60 文献下载
摘要：本发明公开了一种替代氢气炉进行芯片烧结的方法，涉及硅半导体器件芯片的烧结方法技术领域。包括以下步骤1）对硅片的背面进行金属化处理；2）当加热平台处于恒温时，将封装载体置于充满保护气的加热平台内进行预热；3）将进行背面金属化处理后的硅芯片放置到封装载体的指定烧结区上；4）在上述硅芯片的表面施加超声能量，使硅不断地扩散到芯片背面和烧结区的金属层中，实现硅与背面和烧结区金属的紧密结合；5）将烧结好的产品从加热平台上取下，按阶梯降温原则降温至室温，完成烧结过程。所述方法具有操作简单，生产效率高，可靠性好，危险系数低，适用于深腔、小壳体、小面积芯片的烧结，实现了产品生产的安全、可靠和高效。
替代氢气进行芯片烧结方法

[实用新型]一种芯片测试平台-CN202220998945.7有效
发明人：马云龙;程莹 -专利权人：辇芯（天津）科技有限公司
申请日： 2022-04-27 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开一种芯片测试平台。所述芯片测试平台包括底座、测试组件、转移组件、良品箱和次品箱，良品箱和次品箱均安装于底座内，测试组件包括测试头，测试头相对底座可升降地设置，测试头被配置为能够与待测的芯片连接，转移组件包括转座和移动座，移动座可升降地设置于底座上，转座可转动地设置于移动座上，待测的芯片放置于转座上，转座能够将测试完成的芯片转移至良品箱或次品箱内。转移组件的设置，以便将测试完成后的芯片转移至良品箱或次品箱内，不需人工干预，提高了测试的效率。
一种芯片测试平台

[实用新型]一种挑除不良LED芯片的装置-CN202220932454.2有效
发明人：黄章挺 -专利权人：福建兆元光电有限公司
申请日： 2022-04-21 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种挑除不良LED芯片的装置，包括底座、二维电动位移台、测试探针、喷墨筒、待测基台和主控机；二维电动位移台、测试探针和喷墨筒均固定在底座上，待测基台设置在二维电动位移台上，用于放置待测LED芯片；测试探针的探头与喷墨筒的喷头在Z轴方向上的高度与待测LED芯片放置在待测基台上时的高度齐平；主控机与二维电动位移台、测试探针和喷墨筒控制连接，用于控制二维电动位移平台将位于待测基台上的待测LED芯片平移至测试探针处进行光电参数测试，并根据返回的光电参数控制二维电动位移平台将不良的待测LED芯片移动至喷墨筒处进行喷墨标识。本实用新型能代替人工挑除不良LED芯片，节省人力成本。
一种不良 led 芯片装置

[实用新型]用于切断芯片内部线路的激光显微镜-CN200920213713.0无效
发明人：夏宇 -专利权人：宜硕科技(上海)有限公司
申请日： 2009-11-17 - 公布日： 2010-07-07 - 主分类号： H01L23/525 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于切断芯片内部线路的激光显微镜，其包含有显微镜以及激光发射装置；其中，该显微镜具有一工作平台，可供放置待监测的集成电路芯片；激光发射装置安装于显微镜的上方，其发射的激光可沿显微镜的内侧射至工作平台上的芯片，达到切断显微镜确定的需切断的芯片内部线路的目的；本实用新型利用显微镜确定目标线路位置，方便快捷；且不需要高真空，高电压场环境，操作简易，节约成本，尤其适用于芯片内部线路的大面积处理。
用于切断芯片内部线路激光显微镜

[实用新型]一种IC烧录装置-CN202122564738.9有效
发明人：邱志良;董继承 -专利权人：苏州爱谱睿电子科技有限公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G06F8/61 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种IC烧录装置，包括：平台；驱动轮，设于所述平台的两侧；输料带，设于所述平台的上方；摄像设备，设于所述平台的上方；载料装置，设于所述平台的上方，且与所述摄像设备横向设有间距；载料槽，设于所述载料装置上本结构可在输送皮带运料之前检测芯片放置方向是否正确；无需使待烧录芯片离开输送带放到烧录区，可直接在输送皮带上的载料装置内进行烧录，缩短搬料时间，节约搬料设备成本；可以一次可同时烧录多个芯片，效率高。
一种 ic 装置

[发明专利]高速ADC芯片的自动测试平台及测试方法-CN201710433918.9在审
发明人：王潜 -专利权人：苏州迅芯微电子有限公司
申请日： 2017-06-09 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种高速ADC芯片的自动测试平台及测试方法，包括ADC子板、测试母板、FPGA核心板、上位机和测试设备；ADC子板包含放置被测ADC芯片的装置、连接ADC芯片的装置的ADC芯片基本工作电路和引出的芯片接口；基本工作电路保证被测ADC芯片正常工作；引出的芯片接口将被测ADC芯片需要测量的接口引出来和测试母板通过高速接口相连；测试母板连接ADC子板和FPGA核心板；FPGA核心板连接上位机，用于完成程序控制和数据处理的任务；上位机与FPGA核心板通信，用于控制测试流程；测试设备包括信号源和电源，提供整个自动测试平台所需要的信号和供电。
高速 adc 芯片自动测试平台方法

[实用新型]自动检测仪及自动检测系统-CN201921577382.9有效
发明人：潘颖;廖政;唐勇 -专利权人：四川微康朴澜医疗科技有限责任公司
申请日： 2019-09-20 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种自动检测仪，包括有支架、孵育组件及卸载检测组件；支架设有移动件及驱动移动件沿直线路径或封闭圆环路径往复位移的第一驱动；孵育组件设有多个、沿移动件的延伸方向分布，包括有安装座、用于放置微流控芯片的孵育平台和挤压装置、驱动孵育平台和挤压装置相对位移的第二驱动、电加热装置，当第二驱动带动孵育平台和挤压装置靠近、挤压装置能够挤破微流控芯片的清洗液泡；卸载检测组件位于移动件的一侧，包括有与孵育平台处于同一水平面上的检测平台、夹持装置、用于带动夹持装置沿靠近或远离孵育平台的方向位移的第三驱动及检测装置，当孵育平台靠近检测平台时，夹持装置夹持微流控芯片沿检测平台的延伸方向位移并卸载。
自动检测系统

[实用新型]智能型多功能枕头-CN201220089790.1有效
发明人：张绪 -专利权人：张绪
申请日： 2012-03-09 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： A47G9/10 文献下载
摘要：枕头内放置有音乐播放设备，音乐播放设备连接有操作平台，操作平台内置具有可预设开关机时间和可预设可下载常用功能的单片机芯片或智能处理器，其操作平台可以为外置有线操作平台，也可以为蓝牙无线操作平台，或者为红外无线操作平台，操作平台内置单片机芯片或智能处理器和可移动存储设备，无线操作平台内置可充电电池。操作平台外设耳机、数据线通用插口。本实用新型实用性强、可操作性强、安全性高采用后能有效提高睡眠质量令人身心愉悦。
智能型多功能枕头