专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]元件反件检测方法和系统-CN201610556307.9有效
  • 李红匣 - 广州视源电子科技股份有限公司
  • 2016-07-13 - 2019-02-01 - G06T7/00
  • 获取电路板上待测元件的极性区域图像和极性对称区域图像;其中,极性区域为安装正确时所述待测元件的电极在所述电路板上的区域,极性对称区域为反件时所述电极在电路板上的区域;分别计算所述极性区域图像与预存的极性区域参考图像的第一颜色相似度,以及所述极性对称区域图像与所述极性区域参考图像的第二颜色相似度;若所述第一颜色相似度小于所述第二颜色相似度,判定所述待测元件反件。
  • 元件检测方法系统
  • [发明专利]基于彩色条纹信息处理的微结构测量系统及测量方法-CN201410027013.8无效
  • 郭彤;李峰;边琰;陈津平;傅星;胡小唐 - 天津大学
  • 2014-01-20 - 2014-05-14 - G01B11/24
  • 一种基于彩色条纹信息处理的微结构测量系统及测量方法,系统有Zeiss光学显微镜,输入光源卤素灯,Zeiss光学显微镜的样品扫描端设置有与计算机相连的扫描机构,Zeiss光学显微镜的信号采集端依次设置有CCD彩色相机和与CCD彩色相机相连的图像采集卡,所述的图像采集卡还连接计算机。方法:对CCD彩色相机采集的一组原始图像进行拜尔反变换;得到不同扫描位置处R、G、B的光强值;计算R、G、B通道的相位信息;确定零光程差的位置;得到像素点对应的高度信息;得到不同像素点对应的高度信息,最终得到物体的表面形貌本发明使用CCD彩色相机采集白光干涉条纹图像,可以有效的减小环境噪声的影响,提高测量精度。
  • 基于彩色条纹信息处理微结构测量系统测量方法

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