专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种针对色织物裁片缺陷区域的检测方法-CN202010085913.3有效
  • 张宏伟;谭全露;张蕾;景军锋;李鹏飞 - 西安工程大学
  • 2020-02-09 - 2023-06-16 - G06T7/00
  • 本发明一种针对色织物裁片缺陷区域的检测方法,具体按照以下步骤实施:步骤1、每次随机选取待检测的色织物裁片彩色图像中的一张无缺陷图像,将该张无缺陷图像进行先叠加噪声,后输入至U型去噪卷积自编码模型中进行迭代处理,重复操作多次,直至U型去噪卷积自编码模型达到设定的迭代次数,得到训练好的U型去噪卷积自编码模型;步骤2、将所有待检测的色织物裁片彩色图像输入至训练好的U型去噪卷积自编码模型中输出各自对应的重构图像,再进行检测从而确定缺陷区域本发明一种针对色织物裁片缺陷区域的检测方法,能够有效地对色织物图像重构修复,从而可以快速、准确地检测出色织物缺陷
  • 一种针对织物缺陷区域检测方法
  • [发明专利]产品表面缺陷分割方法、缺陷分割模型学习方法及装置-CN202010789117.8在审
  • 高斌斌 - 腾讯科技(深圳)有限公司
  • 2020-08-07 - 2020-10-09 - G06T7/00
  • 本申请公开了一种基于孪生对比学习的产品表面缺陷分割方法,该方法对参考图和缺陷图的编码特征做显式排序学习,以自动聚焦缺陷部位,同时对参考图和缺陷图的解码特征做隐式的对比学习,以精细预测缺陷掩码。在应用阶段,获取产品的参考图及待测图;基于参考图及待测图,使用孪生编码网络获取参考图及其待测图的编码特征图;基于参考图及待测图的编码特征图,应用孪生解码网络获取参考图及待测图的解码特征图;对参考图和待测图的解码特征图进行特征融合本申请还提供了缺陷分割模型学习方法及装置,实现对产品表面缺陷在像素层级上的掩码预测,很大程度上满足高阶的应用需求。
  • 产品表面缺陷分割方法模型学习方法装置
  • [发明专利]基于深度学习的无监督工业品缺陷检测方法及装置-CN202011377532.9在审
  • 王汉凌;段经璞;汪漪 - 鹏城实验室;南方科技大学
  • 2020-11-27 - 2021-03-05 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种基于深度学习的无监督工业品缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质,该方法包括以下步骤:使用训练样本对第一自编码器进行训练,并在训练过程中得到训练样本的隐含表达;对训练样本的隐含表达进行降维处理,得到正常样本的隐含表达;使用正常样本的隐含表达对第二自编码器中的记忆模块进行初始化,并使用训练样本对第二自编码器进行训练;将测试样本输入至已训练的第二自编码器,得到重建后的样本;使用测试样本及重建后的样本进行计算得到缺陷掩模,并根据缺陷掩模判断所述测试样本是否存在缺陷。本发明实现了在仅使用无缺陷的图像样本对模型进行训练的情况下对缺陷的有效检测,提升了缺陷检测的效果。
  • 基于深度学习监督工业品缺陷检测方法装置
  • [发明专利]一种针对彩色纹理织物色差和污渍缺陷的检测方法-CN202111307343.9在审
  • 张宏伟;王世豪;张玥;张蕾;景军锋 - 西安工程大学
  • 2021-11-05 - 2022-03-01 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种针对彩色纹理织物色差和污渍缺陷的检测方法,具体为:构建彩色纹理织物数据集,给无缺陷彩色纹理织物图像叠加高斯噪声;构建U形去噪卷积自编码器模型;将叠加高斯噪声的无缺陷彩色纹理织物图像输入构建的U形去噪卷积自编码器模型中训练参,得到训练好的U形去噪卷积自编码器模型;使用训练好的U形去噪卷积自编码器模型对测试样本图像进行重构,输出对应的重构图像,对测试样本图像和对应的重构图像进行双阈值分割的残差处理,得到检测出的缺陷区域。本发明的一种针对彩色纹理织物色差和污渍缺陷的检测方法,能够在保证对其他类型缺陷检测能力不变的情况下,针对性的优化对色差和污渍缺陷的检测能力。
  • 一种针对彩色纹理织物色差污渍缺陷检测方法
  • [发明专利]缺陷检测模型训练方法、装置、电子设备及存储介质-CN202210396947.3在审
  • 熊坤坤;文琦;董帅;李文生;何元烈 - 广东工业大学
  • 2022-04-15 - 2022-07-22 - G06N3/04
  • 本申请提供一种缺陷检测模型训练方法、装置、电子设备及存储介质,用于改善使用模型进行缺陷检测的准确率逐渐降低的问题。该方法包括:获取样本图像和样本图像对应的类别标签、领域标签和分割标签,类别标签表征样本图像是否存在缺陷,领域标签表征样本图像的所属数据域是源域样本或者目标域样本;使用样本图像和样本图像对应的类别标签对缺陷检测模型中的编码器和分类器进行训练,以及使用样本图像对缺陷检测模型中的编码器和领域自适应模块进行训练,以及使用样本图像和样本图像对应的分割标签对缺陷检测模型中的编码器和解码器进行训练,通过联合训练的方式获得缺陷检测模型,缺陷检测模型用于对图像进行缺陷检测
  • 缺陷检测模型训练方法装置电子设备存储介质

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