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- [发明专利]二维激光扫描测头-CN201610883445.8有效
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张白;韦海成;潘俊涛
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北方民族大学
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2016-10-10
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2018-10-30
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G01B11/00
- 包括用于发射第一激光束的第一激光源，用于将第一激光束反射至测球的激光反射平面，并将测球的激光反射平面反射的激光束透射至一第一光电探测器的分光镜，以及根据第一光电探测器所接收到的激光束的位置变化值，得到测杆的位移变化值的处理系统，用于测量测球二维位移变化的测量组件，所述测量组件包括测杆和所述测球。本发明实施例提供的二维激光扫描测头，不仅可以测量支撑座的直接位移变化，还可以测量测杆的变形量，因此与传统的二维测头相比，本发明实施例提供的二维激光扫描测头的测量精度更高，且结构简单，易于批量生产，成本低
- 二维激光扫描
- [发明专利]一种调制器性能的测量方法和装置-CN200810247341.3有效
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宋健;韩冰;潘长勇;符剑;王劲涛
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清华大学
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2008-12-30
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2009-06-03
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H04L25/03
- 本发明公开了一种调制器性能的测量方法，包括：采集调制器的输出信号；对所述输出信号进行预处理，得到待测信号；对所述待测信号进行迭代处理，实现同步参数的估计与校正，并输出测量的同步参数；对所述待测信号进行迭代信道估计与均衡，并输出测量的信道冲激响应和信噪比参数。本发明还公开了一种调制器性能的测量装置。本发明仅利用接收的1至2帧数据进行迭代同步、信道估计与信道均衡，充分体现调制器的短时性能；同时，由于检测数据量较少，可以实现数据采集设备与评估设备的分离，即远程测量；另一方面，基于迭代的同步和信道估计算法以及数据辅助和指导的同步和信道估计算法保证了测量结果的准确性和精确性
- 一种调制器性能测量方法装置
- [发明专利]用于在印刷时确定感脂极限的测量区-CN200810129540.4有效
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M·古特弗莱施;A·豪克
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海德堡印刷机械股份公司
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2008-06-30
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2008-12-31
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B41F33/00
- 本发明涉及用于在印刷时、尤其是在平版胶印时确定感脂极限的测量区，其中，测量区(A)设置在印版(1)、尤其是胶印版上，该印版在其表面上具有引导油墨的印刷区域(C，D)及引导润湿剂的非印刷区域(B)，其特征在于：测量区的区域中的引导润湿剂的特性通过在测量区的区域中尤其是在使用两亲分子的情况下设置纳米覆盖层(15)或者设置未被加网的显微涂层(18)、尤其是聚合物涂层被相对于印版的表面的非印刷区域中的引导润湿剂的特性降低纳米覆盖层或显微涂层有利地通过测量区的区域内部的对于无起脏的印刷来说提高的润湿剂需要量来导致感脂极限、即起脏起始点移动。因此，根据本发明的测量区可有利地在润湿剂输入的调节中使用。
- 用于印刷确定极限测量
- [发明专利]芯片压降的测量装置及方法-CN201510100234.8有效
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张译夫;杨梁
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龙芯中科技术有限公司
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2015-03-06
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2019-02-15
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G01R19/10
- 本发明提供一种芯片压降的测量装置及方法。本发明提供的芯片压降的测量装置包括：设置在芯片中的压控振荡器、反相器延迟链和数据处理模块；压控振荡器用于产生时钟信号，在芯片压降发生变化时，该压控振荡器产生的时钟信号的频率随芯片压降的变化而变化；反相器延迟链与压控振荡器连接，用于测量压控振荡器在芯片处于不同工作状态时产生的时钟信号的频率；数据处理模块与反相器延迟链连接，用于根据反相器延迟链测量得到的所述压控振荡器在在芯片处于不同工作状态时产生的时钟信号的频率，获取芯片压降的变化量本发明以解决现有技术在测量芯片压降时，由于输入的时钟信号的时间窗口是不确定的，从而导致芯片压降的测量结果不准确的问题。
- 芯片测量装置方法
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