专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电子显微-CN201080005312.1有效
  • 星野吉延;川俣茂 - 株式会社日立高新技术
  • 2010-01-19 - 2011-12-21 - H01J37/22
  • 本发明的电子显微具有:具有反射电子检测元件(9)的反射电子检测器;具有偏置电极(11)和试样台(12)的低真空二次电子检测器;以及切换所述各检测器的检测信号的信号切换器(14)。CPU(19)根据所述各检测器的切换来调出存储在观察条件存储器(20)中的观察条件,并设定电子显微的状态以形成所调出的观察条件。由此,在具有多个检测器的电子显微中,能够提供容易选择检测器以及容易设定针对检测器的最佳的观察条件的电子显微
  • 电子显微镜
  • [发明专利]电子显微中测量和控制像差-CN201880026685.3有效
  • R·M·特朗普 - 国际商业机器公司
  • 2018-05-10 - 2021-11-26 - H01J37/05
  • 公开了一种电子显微系统和测量电子显微系统的像差的方法。光圈在所述电子显微的衍射平面处过滤电子束以穿过具有选定能量和动量的电子。在所述电子显微的像平面中的检测器处测量所述通过的电子的图像的位移。所述电子显微的像差系数由所述测量的位移和所述通过的电子的所述能量和动量中的至少一个确定。所述测量出的像差可用于改变所述电子显微或所述电子显微的光学元件的参数,从而控制所述电子显微的整体像差。
  • 电子显微镜测量控制

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