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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]分析物量测器-CN201520201854.6有效
  • 徐振腾;黄锡文 - 华广生技股份有限公司
  • 2015-04-07 - 2015-08-19 - G01K1/02
  • 一种分析物量测器，包含：一个本体、一个感测单元、一个设置于该本体的药物承装器及一个警示单元。该感测单元包括一个设置于该本体的温度感测模组，该温度感测模组用于侦测环境温度，在环境温度不在一个设定温度范围内时，该警示单元输出一个警示信号。通过设置该温度感测模组侦测环境温度，并在环境温度不在该设定温度范围内时，通过该警示单元输出一个警示信号，可以对储放的胰岛素的温度进行监控，避免患者使用到因过高或过低温而失效的胰岛素，降低病情受到延误的风险
  • 分析物量测器
  • [发明专利]曲面量测路径规划方法、曲面量测方法及曲面量测系统-CN202210379163.X在审
  • 黄进昌;邱明哲;朱建兴 - 盟立自动化股份有限公司
  • 2022-04-12 - 2023-03-28 - G01B7/00
  • 本发明公开一种非接触式曲面量测路径规划方法、非接触式曲面量测方法及非接触式曲面量测系统。非接触式曲面量测系统能执行非接触式曲面量测方法，以对待测物的曲面进行量测。非接触式曲面量测方法包含：输入及规划步骤：输入待测物的三维图档，并执行非接触式曲面量测路径规划方法，以取得规划路径；设置步骤：将待测物设置于载台；移动步骤：使雷射传感器依据规划路径，对待测物的曲面进行量测通过非接触式曲面量测路径规划方法，所产生的规划路径，可以让雷射传感器以相对较少的活动量，完成对待测物的曲面的量测。
  • 曲面路径规划方法系统
  • [发明专利]量测装置及其量测方法-CN201110322575.1无效
  • 孙庆成;余业纬;陈彦霖;陈玮鑫 - 中央大学
  • 2011-10-21 - 2013-04-24 - G01J1/00
  • 一种量测装置用以量测一待测物，并包括至少一个屏幕、至少一个量测单元以及至少一个保持单元。屏幕是部分透光，且具有相对的一第一表面及一第二表面，待测物邻设于屏幕的第一表面。量测单元与待测物对应设置，并邻设于屏幕的第二表面。保持单元保持屏幕、待测物及量测单元的相对距离，量测单元撷取屏幕的第二表面的影像，以计算待测物的光场分布。本发明的量测装置可快速量测一待测物的光场分布，并具有成本低及准确度高的优点。
  • 装置及其方法
  • [发明专利]血液分析物量测方法-CN201811509256.X有效
  • 林孟仪;陈柏翰;张沛宸 - 合世生医科技股份有限公司
  • 2018-12-11 - 2022-03-08 - G01N27/26
  • 一种血液分析物量测方法，由血液分析物量测装置对血液样本施加第一电压信号以产生血液分析物初始量测值，再由所述血液分析物量测装置对所述血液样本施加第二电压信号，所述第二电压信号为具有N个周期且振幅大小交替变化的脉波，其中，N大于等于2，且所述血液分析物量测装置于所述第二电压信号的第(N‑M)个周期中对所述血液样本进行量测，以产生相关于所述血液样本的校正用量测值，其中，M为0或正整数，且(N‑M)大于等于2，然后所述血液分析物量测装置根据所述校正用量测值对所述血液分析物初始量测值进行校正而产生血液分析物校正后准确值
  • 血液分析物量测方法
  • [发明专利]表面量测系统-CN201711136676.3有效
  • 邱奕昌;蔡政廷;潘世耀;杨兰昇;郭修玮;锺绍恩 - 致茂电子(苏州)有限公司
  • 2017-11-16 - 2021-04-09 - G01B11/24
  • 一种表面量测系统，用以量测具低反射的表面的待测物。表面量测系统包含结露装置与量测装置。结露装置用以形成一液体层于待测物的表面上。结露装置包含腔体、控温气体源与增湿气体源。腔体用以容纳待测物。控温气体源连接至腔体，用以提供控温气体至腔体中以控制待测物的温度。增湿气体源连接至腔体，用以提供水气至腔体中以形成液体层于待测物的表面上。量测装置包含平台、光源与影像撷取装置。平台用以放置具有液体层的待测物。光源用以提供光束以照射平台上的待测物。影像撷取装置用以侦测自平台上的待测物散射的光束。通过在表面上形成液体层，可增加光束照射于表面上的散射量。因此影像具有高信噪比，表面能够被精准量测与提升量测速度。
  • 表面系统
  • [发明专利]气密性测试方法及系统-CN202310653394.X在审
  • 魏海兵 - 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2023-06-02 - 2023-09-01 - G01M3/26
  • 气密性测试方法包括多个步骤：通过至少一待测物的气孔对至少一待测物进行负压作业，使至少一待测物的内部减压至预设气压以与至少一待测物的外部具有气压差，其中，气压差对应于防水测试等级定义的水深深度；在至少一待测物的内部减压至预设气压后，量测至少一待测物的内部的量测气压；依据量测气压与预设气压，计算出估测泄露量；以及比较估测泄露量与预设标准泄露量以取得气密性测试的结果。
  • 气密性测试方法系统
  • [实用新型]测量工具-CN200420074102.X无效
  • 郭嘉宏;潘隆智 - 明基电通股份有限公司
  • 2004-09-06 - 2005-09-21 - G01B5/004
  • 一种测量工具，用以测量待测物的尺寸。该测量工具包括基座、定位区域、施压装置以及量测装置。基座用以承载待测物。定位区域形成于基座上，用以定位待测物。施压装置用以提供预定压力。该预定压力沿第一方向施加于待测物。量测装置用以沿第二方向对待测物进行量测，第二方向与第一方向基本上垂直。其中，当待测物定位于定位区域后，预定压力施加于待测物，使量测装置得以精准地测量待测物的尺寸。
  • 测量工具
  • [发明专利]穿隧电阻量测系统及其量测装置结构-CN200810171932.7无效
  • 陈丰璋;王思圣;陈彦友;林绅运;吴启斌 - 中兴电工机械股份有限公司
  • 2008-10-24 - 2010-06-09 - G01R31/36
  • 本发明是有关于一种穿隧电阻量测系统及其量测装置结构。该穿隧电阻量测系统系包括：控制装置；量测装置；电源供应模块；以及电压/电流量测模块，该量测装置包括：座体；第一夹具；第二夹具；升降控制单元；以及压力感测单元。第一及第二夹具是设置于座体上，并藉由升降控制单元改变第一夹具的位置，进而施加压力于第一及第二夹具间的待测物，而压力感测单元则用以量测待测物所承受的压力。该电源供应模块是提供电流至待测物，并利用电压/电流量测模块量测流经待测物的电流及其电压，进而藉由控制装置计算待测物在不同条件下的穿隧电阻。
  • 电阻系统及其装置结构
  • [发明专利]量测装置、量测补偿系统、量测方法及量测补偿方法-CN202110769250.1在审
  • 李想 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2021-07-07 - 2023-01-13 - G01B11/14
  • 本发明涉及一种量测装置、量测补偿系统、量测方法及量测补偿方法，量测装置包括治具晶圆，治具晶圆包括：晶圆；测距传感器，设置于晶圆的正面，用于在治具晶圆置于反应腔室的晶圆吸盘上后量测治具晶圆与位于反应腔室顶部的上电极之间的距离；水平传感器，设置于晶圆的正面，水平传感器用于在治具晶圆置于晶圆吸盘上后量测晶圆吸盘的水平状况；数据传送装置，与测距传感器及水平传感器相连接，用于传送测距传感器量测的数据及水平传感器量测的数据。本申请中的量测装置避免了人工测量产生的误差，准确性较高；无需打开反应腔室即可实时地获取晶圆吸盘的水平状况，能够提升反应腔室工作的安全性和可靠性。
  • 装置补偿系统方法
  • [发明专利]信号量测装置与信号量测方法-CN201710550441.2有效
  • 刘正彬;赵令煌;卢志诚;胡国柱 - 致茂电子（苏州）有限公司
  • 2017-06-30 - 2020-12-18 - G01R21/133
  • 本发明公开了一种信号量测装置，具有侦测电路、第一量测电路、第二量测电路以及控制电路。侦测电路用以电性连接待测物，以产生待测物的侦测信号。第一量测电路电性连接侦测电路，并依据侦测信号、第一量测范围与第二量测范围其中之一产生第一量测信号，其中第二量测范围大于第一量测范围。第二量测电路电性连接侦测电路，并依据侦测信号与补偿量测范围产生第二量测信号，其中补偿量测范围大于第二量测范围。控制电路电性连接第一量测电路与第二量测电路，并依据第二量测信号控制第一量测电路切换第一量测范围与第二量测范围其中之一。
  • 信号量装置方法
  • [发明专利]量测待测物散射参数的方法-CN201110188745.1无效
  • 文圣友 - 纬创资通股份有限公司
  • 2011-07-06 - 2012-12-26 - G01R27/28
  • 本发明提供一种量测待测物散射参数的方法，可以在不需要使用转接校正器进行全双端口校正的情况下量测两端具有不同接头规格的待测物散射参数。本发明利用两次的单端口校正程序，建立两个误差模型，其中第一个误差模型包括网络分析仪的连接端口与接线的特性，第二个误差模型则还包括待测物的特性。所以，自第二个误差模型中移除第一个误差模型的参数后便可得到待测物的特性。
  • 量测待测物散射参数方法
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