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- [实用新型]一种IR油墨镜片透光率测试仪-CN202121387595.2有效
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周赞军
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深圳市海正和科技有限公司
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2021-06-22
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2022-01-04
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G01M11/02
- 本实用新型公开了一种IR油墨镜片透光率测试仪，包括：机体，所述机体用于承载各机构和部件的安装；测试机构，所述测试机构用于对IR油墨镜片进行透光率测试，所述测试机构通过两根立柱与机体上表面固定安装；定位组件，所述定位组件用于对待测试的IR油墨镜片进行定位的工作，所述定位组件包括夹持部件和驱动部件，所述夹持部件用于将IR油墨镜片的左右侧壁进行抵压夹持，所述驱动部件用于控制夹持部件解除对IR油墨镜片的抵压夹持只需要通过驱动部件控制夹持部件与屏幕的左右侧壁接触并贴紧，此时对屏幕进行测试工作即可，测试过后再通过驱动部件控制夹持部件离开屏幕的左右侧壁，将屏幕取出即可，方便快捷。
- 一种ir油墨镜片透光率测试仪
- [实用新型]ADAS高温老化试验装置-CN202120576690.0有效
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吴云飞
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上海智驾汽车科技有限公司
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2021-03-22
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2022-01-18
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G01R31/00
- 本实用新型公开了ADAS高温老化试验装置，包括高温老化测试箱，所述高温老化测试箱的一侧安装有测试控制电脑，所述高温老化测试箱的内部设置有多组滑轨，多组所述滑轨上均接触安装有放置板，所述放置板上放置有产品载具本实用新型的有益效果在产品载具内通过隔板间隔出多个放置位，多个测试产品放置在隔板内部，模块化的产品载具可适用多种规格测试产品，测试产品连接对应的子线束，多个子线束上带有编号，快速筛选出不良品，模块化集成线束进行便于线路集中管理，避免线路杂乱，子线束、模块化集成线束和测试产品模块化连接，安装连接便捷，降低员工劳动强度。
- adas高温老化试验装置
- [实用新型]一种芯片测试用空焊测试装置-CN202122091088.0有效
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陈荣峰
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厦门新晟义集成电路有限公司
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2021-09-01
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2022-01-18
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种芯片测试用空焊测试装置，属于空焊测试技术领域，其技术方案要点包括测试装置主体，所述测试装置主体的顶部活动连接有振动板，所述振动板的顶部活动连接有若干存放盒，所述振动板的顶部活动连接有盖板，所述盖板靠近存放盒的一侧与存放盒接触，所述存放盒的内腔设置有分层机构；所述分层机构包括分层板、两个导向板和两个导向槽，解决了现有的芯片测试用空焊测试装置顶部放置面积大，和芯片大小不成正比，单个芯片进行空焊检测，时间成本大大增加，且芯片之间振动碰撞容易造成表面磨损和损坏的情况，缺少一种对芯片进行分离存放的装置，无法达到同时多个芯片进行检测的效果，测试效率低的问题。
- 一种芯片测试用空焊装置
- [实用新型]一种新型网络测试仪-CN202122299783.6有效
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钟运华
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钟运华
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2021-09-18
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2022-01-11
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H04L43/50
- 本实用新型涉及网络测试仪技术领域，且公开了一种新型网络测试仪；本新型网络测试仪，包括固定机构和测试机构，所述测试机构位于所述固定机构顶部；所述测试机构包括机体，所述机体顶部开设有开口，所述开口内腔设置有盖板所述盖板顶部开设有观察口，所述盖板底部设置有齿轮，所述盖板底部设置有对称分布的门，所述盖板底部设置有限位条，所述限位条位于两个方框内腔，所述盖板顶部设置有转舵，所述转舵贯穿所述盖板与所述齿轮连接，本实用新型测试机构在使用时，设置有观察口，可通过观察口观察机体内情况，通过固定机构固定，便于取用，不需要从工具箱或工具袋内四处寻找测试机构，节约时间。
- 一种新型网络测试仪
- [实用新型]一种USB槽电源测量装置、系统-CN202122068648.0有效
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李荣兴
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苏州浪潮智能科技有限公司
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2021-08-30
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2022-01-11
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G01R31/40
- 本实用新型提供一种USB槽电源测量装置、系统，所述装置包括转接板和测试工具，所述的转接板上设置有用于与待测的USB槽插接的USB插头；所述的转接板上还设置有短路测试开关和信号输出端；USB插头通过短路测试开关与信号输出端连接；信号输出端通过线缆与测试工具连接。为了避免量测时需要查看原理图的相对位置开机箱跳线,操作繁琐,通过本装置直接插入USB槽,本装置设计的短路测试开关来进行高强度的电流短路压力测试,模拟USB在硬件损毁情况下所造成的电源短路不会让主板瞬间关机设计短路测试开关减少在极大短路电流下产生的火花,增加测试时的安全性。
- 一种usb电源测量装置系统
- [实用新型]智能测试系统-CN202122206797.9有效
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姜文君;李海清
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北京海林自控科技股份有限公司
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2021-09-13
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2022-01-11
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G05B23/02
- 本申请的实施例提供了一种智能测试系统。所述系统，包括：第一选择继电器组、连接于第一选择继电器组的第二选择继电器组、与第二选择继电器组连接的测试设备、分别与第一选择继电器组、第二选择继电器组以及测试设备连接的上位机以及与上位机连接的路由器，通过确定第一选择继电器组中继电器的通断来选择相应测试通道，通过确定第二选择继电器组中继电器的通断来选择测试模式，上位机控制第一选择继电器组和第二选择继电器组中继电器的通断。本申请能够解决现有测试直接数字控制器的方式费人力、耗时长且准确性较低的问题，达到降低测试操作的时长和耗费的人力且提高测试准确性的效果。
- 智能测试系统
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