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[发明专利]用于多装置以太网供电的现场验证的装置-CN201910361389.5在审
发明人： J.P.希特尔 -专利权人：弗兰克公司
申请日： 2019-04-30 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： G01R21/00 文献下载
摘要：本发明公开了功率测试装置，所述功率测试装置包括具有引脚的通信端口，所述引脚接收来自被测装置的信号。第一测试电路系统耦合至第一组所述引脚对，并且第二测试电路系统耦合至第二组所述引脚对。交换机耦合至所述第一测试电路系统和/或所述第二测试电路系统。当所述交换机处于第一状态时，所述第一测试电路系统和所述第二测试电路系统彼此电隔离。当所述交换机处于第二状态时，所述第一测试电路系统和所述第二测试电路系统不彼此电隔离。处理器耦合至所述第一测试电路系统、所述第二测试电路系统和所述交换机。存储器存储使得所述处理器控制所述第一测试电路系统、所述第二测试电路系统和所述交换机的操作的指令。
测试电路系统交换机引脚耦合功率测试装置以太网供电电隔离多装置状态时验证处理器控制处理器耦合存储器存储被测装置通信端口指令

[发明专利]无线通信单元诊断-CN201811207983.0在审
发明人：安东尼·凯斯拉斯;莉斯贝思·戈麦 -专利权人：恩智浦有限公司
申请日： 2018-10-16 - 公布日： 2019-04-26 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：提供了一种无线通信单元和在测试模式下对这种单元的操作的实施例，其中所述无线通信单元包括：经由开关耦合到天线的发射路径电路系统和接收路径电路系统；操作所述发射路径电路系统和所述接收路径电路系统以便：闭合所述开关以将所述发射路径电路系统连接到所述天线，其中所述接收路径电路系统保持未连接；激活所述发射路径电路系统以通过所述天线发射RF测试信号，其中所述RF测试信号作为泄漏信号跨所述开关耦合；在所述RF测试信号发射时同时激活所述接收路径电路系统，其中所述接收路径电路系统经由定向耦合器向RF到DC转换器提供所述泄漏信号，并且所述RF到DC转换器被配置成生成指示是否已经在所述接收路径电路系统中检测到误差的误差信号。
电路系统接收路径发射路径无线通信单元开关耦合泄漏信号天线激活定向耦合器闭合测试模式天线发射误差信号信号发射未连接诊断检测配置

[发明专利]一种数字电路系统的测试方法-CN201610972232.2有效
发明人：刘杰;帅涛;赵广东;陈鹏飞;张喆;黄奕 -专利权人：上海航天测控通信研究所;中国科学院上海天文台
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：本发明提供一种数字电路系统的测试方法，通过加电前的电源接口阻抗测试，加电后的电压正确性测试、锁相环模块时钟测试、DDS准确度与同源稳定度测试、AD/DA通路性能测试，依次对数字电路系统中协作的模块进行测试，可以保证数字电路系统中主要模块的功能及性能得到全面的测试，可以有效地评估数字电路系统的相应指标，能够最快速度得到测试结果，可靠性高。
数字电路系统测试加电锁相环模块稳定度测试电路系统电源接口评估数字时钟测试性能测试阻抗测试准确度有效地同源协作保证

[发明专利]用于集成电路测试的低功率且面积优化的扫描单元-CN201110415674.4无效
发明人： R·C·泰库玛拉;P·库玛;P·克里施纳莫斯;P·迈德哈尼 -专利权人： LSI公司
申请日： 2011-12-13 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明涉及用于集成电路测试的低功率且面积优化的扫描单元。一种集成电路包括扫描测试电路系统以及使用该扫描测试电路系统来进行测试的附加电路系统。扫描测试电路系统包括具有多个扫描单元的至少一条扫描链，该扫描链被配置成在扫描移位操作模式中作为串行移位寄存器来操作，以及在功能操作模式中捕获来自附加电路系统的至少一部分的功能数据。至少扫描链的扫描单元中的给定的扫描单元包括配置成在扫描移位操作模式中禁用扫描单元的功能数据输出以及在功能操作模式中禁用扫描单元的扫描输出的输出控制电路系统。
用于集成电路测试功率面积优化扫描单元

[发明专利]功率转换器电路测试-CN202280005218.9在审
发明人： G·B·卡尔;V·P·特拉姆巴迪亚;K·A·王 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2022-07-06 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：一个示例包括具有测试输入(106)和测试输出(108)的自动测试设备(ATE)电路系统(104)。测试输入(106)可以耦合到功率转换器集成电路(IC)(102)的数字输出。测试输出(108)可以耦合到功率转换器IC(102)的电压输出。ATE电路系统(104)还包括电平移位器(116)、缓冲器(118)、上拉电路系统(122)和滤波器(120)。电平移位器(116)具有移位器输入和移位器输出，其中移位器输入耦合到测试输入。缓冲器(118)具有耦合到移位器输出的缓冲器输入。上拉电路系统(122)耦合到缓冲器输入，并且上拉电路系统被配置为供应足以启用功率转换器IC中的电路系统的操作的电压。滤波器(120)具有耦合到缓冲器输出的输入和耦合到测试输出的滤波器输出。
功率转换器电路测试

[发明专利]涉及自测试电压调节电路的设备和方法-CN201910514657.2在审
发明人：简-彼得·斯考特 -专利权人：恩智浦有限公司
申请日： 2019-06-13 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： G01R1/28 文献下载
摘要：一种设备实施例包括：电压调节器电路，其提供调节电压供应信号；逻辑状态电路系统；测试控制电路系统；以及供应信号监测电路。逻辑状态电路系统包括逻辑模块，逻辑模块在应用控制自测试模式之间被重新配置，在应用控制自测试模式下，数据被移位通过逻辑模块并同时由调节电压供应信号供电。测试控制电路系统通过致使数据的预定集移位通过逻辑模块来操作控制自测试模式，并通过对电压调节器电路加压而致使逻辑状态电路系统对电压调节器电路加载。供应信号监测电路监测调节电压供应信号的质量参数并提供调节电压供应信号的特性的指示，特性影响电压调节器电路与有缺陷的电路系统相关联的可能性。
电压调节器电路电压供应信号电路系统逻辑模块自测试模式逻辑状态测试控制电路供应信号监测电路应用控制移位特性影响质量参数重新配置加载加压关联供电监测

[发明专利]内部导线延迟的测量-CN202110495549.2在审
发明人：佐藤敏行 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2021-05-07 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G11C29/02 文献下载
摘要：半导体装置包含测试电路系统，所述测试电路系统用于在存储器存取操作期间测量内部信号导线传播延迟；和电路系统，所述电路系统被配置成存储延迟信息，所述延迟信息用于基于所述测量的内部信号传播电路延迟来配置内部延迟所述半导体装置包含测试电路，所述测试电路被配置成基于直接从命令解码器接收到测试命令信号与接收到通过存储体逻辑电路路由的所述测试命令信号的时间之间的时间来测量所述命令解码器和所述存储体逻辑电路之间的信号传播延迟
内部导线延迟测量

[发明专利]用于测试集成电路的方法和装置-CN201811285056.0在审
发明人：吴嘉洛;M·雅各布斯;V·C·K·吴;M·C·刘 -专利权人：马维尔国际贸易有限公司
申请日： 2018-10-31 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开描述了用于测试集成电路的方法和装置。在一些方面中，片上系统(SoC)的测试引擎从多芯片模块的外部测试端口接收测试触发。多芯片模块包括SoC和集成电路系统。响应于接收到测试触发，测试引擎启动与集成电路系统相关联的测试的执行。测试引擎还生成与测试相关联的测试数据，并在MCM的外部测试端口处提供测试数据。以这种方式，可以在多芯片模块内执行内部测试。在其他方面中，SoC和集成电路系统未被封装在一起。测试引擎可以从SoC的测试端口接收测试触发并启动测试的执行。以这种方式，SoC可以充当用于集成电路系统的测试仪器。
集成电路系统测试引擎多芯片模块测试端口触发测试测试集成电路方法和装置测试数据接收测试关联测试仪器内部测试片上系统外部封装响应

[发明专利]一种电路系统及其应用-CN202210057610.X在审
发明人：王天星;胡锡江;章子毅 -专利权人：浙江亿联康医疗科技有限公司
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01N27/416 文献下载
摘要：本发明涉及一种电路系统及运用该电路系统的测试装置。电路系统包括电路及连接于电路上的电化学传感器，所述电路包括基准电压电路、恒电位电路和微信号测量电路，并在对应电路上设置通断开关。本发明所述电路系统及其测试装置能显著降低了检测噪音，提高检测低限能力，促进电化学传感器在临床样本检测上的应用。
一种电路系统及其应用

[发明专利]目标测试不通过注入-CN202111196433.5有效
发明人： B·T·佩哈;B·T·格劳利克;N·K·科皮克 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请案是针对目标测试不通过注入。存储器装置可包含被配置成测试存储器阵列的一或多个存储器单元的自测试电路系统。所述自测试电路系统可被配置成基于来自所述存储器装置的模式寄存器的指示而存储在所述存储器阵列的测试期间未通过的一或多个地址。所述自测试电路系统可被配置成不通过所述所存储的一或多个地址而不考虑所述一或多个存储器地址处的所述测试的结果。举例来说，当所存取的地址在测试期间匹配存储的地址时，所述自测试电路系统可产生所述所存取的地址未通过所述自测试程序的一或多个测试的指示。基于所述自测试电路系统不通过所述所存储的地址，可验证所述存储器阵列的测试。
目标测试不通过注入

[发明专利]差错恢复封装组件-CN201410363788.2有效
发明人： M·D·赫顿 -专利权人：阿尔特拉公司
申请日： 2014-07-28 - 公布日： 2017-08-15 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：封装组件可以包括插入件和安装在插入件上的集成电路芯片。芯片的至少一个可以是抗辐射集成电路芯片，而其余芯片可以是非抗辐射芯片。如果期望，插入件可以是抗辐射插入件，而集成电路芯片可以是非抗辐射芯片。抗辐射芯片或抗辐射插入件可以包括用于对封装组件的非抗辐射电路系统进行测试的监测电路系统。测试结果可以存储在监测电路系统上的数据库或者被发送到外部装置，如服务器。监测电路系统可用于重新配置故障电路或可以控制插入件中的多路复用电路系统以在功能上替换故障电路。如果期望，监测电路系统可以基于测试结果调节非抗辐射电路的功耗。
差错恢复封装组件

[发明专利]测试方法与测试系统-CN201910222797.2在审
发明人：陈志通;叶懿德;郑嘉贤;吴倚彰;阎怀玉 -专利权人：瑞昱半导体股份有限公司
申请日： 2019-03-22 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：一种测试方法，其由至少一处理器执行并包含下列操作：转换关联于一扫描测试的一第一资料为一程式，其中该程式用以观察一电路系统中的一未测试部分，且该未测试部分未能在该扫描测试中被检验；根据一网表档与复数个测试式样一起执行复数个电路模拟以及该程式，以评等该些测试式样以产生一第二资料，其中该网表档对应该电路系统；根据该第二资料自该些测试式样选择出至少一候选测试式样；以及根据该网表档与该至少一候选测试式样对该电路系统执行至少一故障模拟，以测试该电路系统
测试方法系统

[发明专利]用于使用高速输入/输出接口进行测试的集成电路-CN201280029780.1有效
发明人： B·阿斯兰;M·莱斯尼;G·A·威利;G·希普意 -专利权人：高通股份有限公司
申请日： 2012-06-14 - 公布日： 2014-03-05 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：描述了被配置成用于进行测试的集成电路。该集成电路包括高速输入/输出接口。该集成电路还包括耦合到高速输入/输出接口的测试控制器。该集成电路还包括耦合到测试控制器的测试电路系统。测试控制器基于来自高速输入/输出接口的控制器协议测试信息来控制测试电路系统。
用于使用高速输入输出接口进行测试集成电路

[发明专利]用于执行或者有助于示波器、抖动和/或误比特率测试器操作的集成电路上的电路系统-CN201180046719.3有效
发明人：李鹏;岛内正司;S·舒马拉耶夫;丁玮琦;S·纳拉扬;D·T·L·周;潘明德 -专利权人：阿尔特拉公司
申请日： 2011-08-02 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： G01R31/303 文献下载
摘要：一种集成电路(“IC”)可以包括用于在测试串行数据信号时使用的电路系统。IC可以包括用于发射具有可选抖动、可选噪声和/或可控地可变驱动强度的串行数据信号的电路系统。IC也可以包括用于接收串行数据信号并且在这样的信号中执行误比特率(“BER”)分析的电路系统。IC可以提供指示它的操作的结果的输出信号。IC可以在各种模式中进行操作以执行或者至少模拟示波器、误比特率测试器等的功能以用于关于抖动容差、噪声容差等测试信号和电路系统。
用于执行或者有助于示波器抖动比特率测试操作集成电路电路系统

[发明专利]麦克风MEMS振膜及其自测试-CN202180091921.1在审
发明人： M·马泰;S·里瓦 -专利权人：应美盛股份有限公司
申请日： 2021-12-13 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H04R29/00 文献下载
摘要：一种设备，该设备包括微机电系统(MEMS)元件，该MEMS元件被配置成用于感测声信号。该设备还包括电路系统，该电路系统被配置成用于启用麦克风元件以感测声信号。该电路系统进一步被配置成用于禁用麦克风元件以防止麦克风元件感测声信号。应当领会的是，该电路系统进一步被配置成用于当麦克风元件被禁用时将测试信号施加到MEMS元件。麦克风元件响应于测试信号而将信号输出到电路系统。电路系统响应于具有第一值的输出信号而确定MEMS元件的振膜是非正常操作的，并且电路系统响应于具有第二值的输出信号而确定MEMS元件的振膜是正常操作的。
麦克风 mems 及其测试

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