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[发明专利]固态硬盘的测试模式切换方法-CN202310514187.6在审
发明人：吴之鉴;宋魏杰;赖鼐;龚晖 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2023-05-08 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本申请公开了一种固态硬盘的测试模式切换方法，包括：当接收到表征当前测试模式已经结束的测试模式切换指令，获取固态硬盘的当前测试模式和历史测试模式，并根据当前测试模式和历史测试模式确定候选测试模式；获取当前测试模式的第一测试结果；根据第一测试结果和候选测试模式确定目标测试参数；调用测试软件，根据目标测试参数设置测试软件以候选测试模式对固态硬盘进行测试。基于本申请提供的方法，在自动确定候选测试模式后，根据第一测试结果和候选测试模式自适应确定目标测试参数，以实现固态硬盘的测试模式自动切换，相较于相关技术中采用人工设置测试参数并切换测试模式的方式，能够有效提高固态硬盘测试的可靠性
固态硬盘测试模式切换方法

[发明专利]半导体存储器的测试模式信号产生器及其产生方法-CN200910175904.7有效
发明人：金起业 -专利权人：海力士半导体有限公司
申请日： 2009-09-18 - 公布日： 2010-03-24 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：本发明公开一种用于半导体存储设备的测试模式信号产生器，包括响应于测试模式寄存器设置信号接收输入的测试进入模式设置地址的测试模式进入控制单元。该测试模式进入控制单元依据该测试进入模式设置地址，输出多个测试进入模式信号和一个测试模式设置信号。锁存单元，响应于该测试模式设置信号锁存测试地址解码信号，及通过使得各测试进入模式信号控制锁存的测试地址解码信号来输出多个测试模式信号。对于每一测试进入模式产生测试模式信号，因此测试模式的数目增加，而不会使用于支持测试模式的地址数目增加。
半导体存储器测试模式信号产生器及其产生方法

[发明专利]测试工装及测试系统-CN201610394403.8有效
发明人：黄耀雄;杨华生;吴学伟;李开旭 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2016-06-03 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试工装及测试系统。其中，该工装包括：主控板接口，用于在主板测试模式下与测试对象的主控板连接；电机接口，用于在电机测试模式下与测试对象的电机连接，其中，电机测试模式为用于测试电机是否故障的模式；工装本体，用于在电机测试模式下，模拟主控板，为电机提供对应的电压；模式选择开关，用于选择主板测试模式选择端口或电机测试模式选择端口，其中，当选择主板测试模式选择端口时，当前测试模式为主板测试模式，当选择电机测试模式选择端口时，当前测试模式为电机测试模式本发明解决了相关技术中测试工装由于采用整体测试技术造成的无法确定故障的具体位置是电机还是主控板的技术问题。
测试工装系统

[实用新型]测试工装及测试系统-CN201620542250.2有效
发明人：黄耀雄;杨华生;吴学伟;李开旭 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2016-06-03 - 公布日： 2016-11-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试工装及测试系统。其中，该工装包括：主控板接口，用于在主板测试模式下与测试对象的主控板连接；电机接口，用于在电机测试模式下与测试对象的电机连接，其中，电机测试模式为用于测试电机是否故障的模式；工装本体，用于在电机测试模式下，模拟主控板，为电机提供对应的电压；模式选择开关，用于选择主板测试模式选择端口或电机测试模式选择端口，其中，当选择主板测试模式选择端口时，当前测试模式为主板测试模式，当选择电机测试模式选择端口时，当前测试模式为电机测试模式本实用新型解决了相关技术中测试工装由于采用整体测试技术造成的无法确定故障的具体位置是电机还是主控板的技术问题。
测试工装系统

[发明专利]芯片测试方法、装置、设备及存储介质-CN202211153975.9在审
发明人：丁赛赛;仰蕾;熊世英;封芳;许崇 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-09-21 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本公开提供一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：分别按照多个测试模式中的各个测试模式对多个芯片进行测试，获得各个测试模式对应的测试参数，测试参数包括测试时间信息和失效芯片信息，测试时间信息包括测试时长，失效芯片信息包括测试得到的失效芯片的数量；对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标；基于各个测试模式的敏感度指标从多个测试模式中确定目标测试模式；对目标测试模式进行测试时长减少操作，获得更新的目标测试模式，以按照多个测试模式对多个芯片进行测试。该方法实现了在不影响测试效果的前提下缩短芯片系统级测试的时间。
芯片测试方法装置设备存储介质

[发明专利]半导体器件-CN02120065.3有效
发明人：山崎雅文;铃木孝章;中村俊和;江渡聪;三代俊哉;佐藤绫子;米田隆之;川村典子 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2002-05-22 - 公布日： 2003-03-26 - 主分类号： H01L27/00 文献下载
摘要：在第一测试模式下逻辑芯片的模式发生器运行以便为存储芯片产生内部测试模式。模式选择器在第一测试模式下选择从模式发生器输出的内部测试模式，在第二测试模式下选择通过测试终端提供的外部测试模式，并把所选择的测试模式输出到存储芯片。根据模式选择信号，使用在逻辑芯片中产生的内部测试模式(第一测试模式)或者从外部提供的外部测试模式(第二测试模式)，安装在封装中的存储芯片得到测试。
半导体器件

[发明专利]一种EtherCAT通讯测试方法和装置-CN202210606074.4有效
发明人：张春林;王远洋 -专利权人：深圳市杰美康机电有限公司
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： H04L43/04 文献下载
摘要：本申请公开提供了一种ETHERCAT通讯测试方法及装置，其中，该方法包括：确定当前测试模式，当前测试模式属于同步模式、轮廓模式和回零模式中的任一种；判断当前测试模式和上一测试模式的类型是否相同；若当前测试模式和上一测试模式类型不同，且当前测试模式和上一测试模式不是回零模式，则进行归零处理，使实际位置值和目标位置值相同；按照当前测试模式的预设测试内容进行测试，解决了现有技术中通过多次或者多个从站进行EtherCAT通讯测试过程繁琐的问题
一种 ethercat 通讯测试方法装置

[发明专利]测试模式信号发生装置-CN200910260969.1有效
发明人：尹泰植 -专利权人：海力士半导体有限公司
申请日： 2009-12-18 - 公布日： 2011-03-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：公开了测试模式信号发生装置的各个实施例。该装置包括第一测试模式信号发生单元和第二测试模式信号发生单元。第一测试模式信号发生单元被配置成当第一模式转换信号被使能时，接收测试地址信号以生成第一测试模式信号。第一测试模式信号发生单元还被配置成当测试地址信号对应于第一预定组合时，使能第二模式转换信号。第二测试模式信号发生单元被配置成当第二模式转换信号被使能时，接收测试地址信号以生成第二测试模式信号。第二测试模式信号发生单元还被配置成当测试地址信号对应于第二预定组合时，使能第一模式转换信号。
测试模式信号发生装置

[发明专利]一种测试方法和装置-CN201610570095.X有效
发明人：卢春 -专利权人：深圳市中兴微电子技术有限公司
申请日： 2016-07-18 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种测试方法和装置，测试装置预先下载预设逻辑和预设程序，与测试板建立连接，所述方法包括：设置ISI测试模式，所述ISI测试模式包括：SPI测试模式和TDM测试模式；确定是否进行所述SPI测试模式；当确定进行所述SPI测试模式时，测试SPI数据读写是否正确；当确定不进行所述SPI测试模式，或者当测试所述SPI数据读写正确时，进行所述TDM测试模式，测试TDM数据读写是否正确；当测试所述TDM数据读写错误时，确定所述测试装置的测试问题。
一种测试方法装置

[发明专利]半导体器件-CN200610142094.1有效
发明人：山崎雅文;铃木孝章;中村俊和;江渡聪;三代俊哉;佐藤绫子;米田隆之;川村典子 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2002-05-22 - 公布日： 2007-03-14 - 主分类号： G11C29/36 文献下载
摘要：在第一测试方式下逻辑芯片的模式发生器运行以便为存储芯片产生内部测试模式。模式选择器在第一测试方式下选择从模式发生器输出的内部测试模式，在第二测试方式下选择通过测试终端提供的外部测试模式，并把所选择的测试模式输出到存储芯片。根据方式选择信号，使用在逻辑芯片中产生的内部测试模式(第一测试模式)或者从外部提供的外部测试模式(第二测试模式)，安装在封装中的存储芯片得到测试。
半导体器件

[发明专利]一种使片上系统进入测试模式的装置及方法-CN200810217042.5有效
发明人：肖伟;王惠刚 -专利权人：炬力集成电路设计有限公司
申请日： 2008-10-22 - 公布日： 2009-03-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明适用于集成电路领域，提供了一种使片上系统进入测试模式的装置及方法，所述测试装置包括：接测试模式选择信号发生单元，用于产生一测试模式选择信号；以及测试模式信号解析单元，用于对所述测试模式选择信号发生单元产生的测试模式选择信号进行解析，并根据解析结果控制待测SoC进入相应的测试模式，其内置于待测SoC中。本发明中，在测试模式下可以通过一个复用的或独立的输入引脚接收测试模式选择信号，根据该测试模式选择信号的电平变化次数或占空比来达到设定测试模式的目的，从而实现了使用较少的pin来控制SoC的测试模式，大大减少了测试模式下的pin成本，通用性、可操作性强，简单易用，提高了测试效率。
一种使片上系统进入测试模式装置方法

[发明专利]微控制器功能的测试方法-CN96107181.8无效
发明人：方议谅;余国成 -专利权人：合泰半导体股份有限公司
申请日： 1996-07-12 - 公布日： 1998-01-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种微控制器功能的测试方法,主要由测试模式切换寄存器读取由外界输入的指令以选择要测试的模式,测试步骤判断是否进行测试运作,若否则待测元件正常执行所要执行的程序动作,若是则进入外部模式阶段;于外部模式读取由所述测试单元输入的外部指令,以选择执行外部模式的测试,或选择各种测试模式的测试;若选择外部模式的测试,则待测元件将测试单元输入的外部指令解码及执行指令,并将结果送回测试单元;待各项测试步骤完毕后,测试单元输入一外部指令将测试模式切换至所述读应用程序模式,并执行测试;结束测试。
控制器功能测试方法

[发明专利]一种CAN总线控制器并行测试方法-CN202010574190.3有效
发明人：杨超;唐金慧;李文周;张金凤;吴迪;金荣康 -专利权人：北京振兴计量测试研究所
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种CAN总线控制器并行测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有CAN总线控制器测试无法实现真实工作状态考量、调试和编写测试PATTERN繁琐、难度大的问题。方法包括以下步骤：获取当前的测试模式；若测试模式属于CAN总线系统测试模式，则接通第一通道，并利用测试机台对所述CAN总线控制器进行相应工作模式下的测试；若测试模式属于单片CAN总线控制器测试模式，则接通第二通道，并利用测试机台对所述CAN总线控制器进行相应工作模式下的测试；CAN总线系统测试模式包括报文收发测试、报文滤波测试、总线仲裁测试中的至少一种测试模式；单片CAN总线控制器测试模式包括发送错误测试、接收错误测试、节点关闭测试中的至少一种测试模式。
一种 can 总线控制器并行测试方法

[发明专利]测试模式设置电路和包括其的半导体器件-CN201610437200.2有效
发明人：李相昊;金京兑;朴宰范 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2016-06-17 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G11C29/10 文献下载
摘要：一种测试模式设置电路可以包括：第一测试模式信号发生单元，其通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，其通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及当第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。
测试模式设置电路包括半导体器件

[发明专利]一种进入测试模式的方法、装置及移动终端-CN201410485714.6在审
发明人：甄文先;陈启安 -专利权人：广东欧珀移动通信有限公司
申请日： 2014-09-22 - 公布日： 2015-01-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明适用于测试技术领域，提供了一种进入测试模式的方法、装置及移动终端，所述方法包括：开机时，检测预先设置的分区中是否写有标志位；如果是，则读取所述标志位的值，并根据预先设置的标志位的值与测试模式的对应关系，得到与所述标志位匹配的测试模式；调用与所述测试模式对应的测试模式脚本，由所述测试模式脚本启动与所述测试模式相关的程序，进入所述测试模式进行测试。本发明，不需要用户手工操作，可以大大降低进入测试模式的误操作。并且，相比现有技术，进入需要的测试模式时，启动的程序少之又少，可以更加快速地进入需要的测试模式，提升厂线效率。
一种进入测试模式方法装置移动终端

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