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[发明专利]防叠料IC测试设备及其测试方法-CN201911124364.X有效
发明人：魏强;郑朝生;周祥 -专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日： 2019-11-15 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种防叠料IC测试设备，其包括机架、升降压取装置、测试座、主控制器和防叠料检测装置，测试座具有容置芯片的测试槽，测试座位于升降压取装置的下方，防叠料检测装置检测测试槽内芯片存放情况及检测升降压取装置之位置，主控制器分别与升降压取装置和防叠料检测装置电性连接，主控制器控制升降压取装置于测试槽上载入或载出芯片，防叠料检测装置检测到测试槽中存放有芯片且检测到升降压取装置离开芯片取放位置时处于断路状态，主控制器根据该断路状态控制防叠料IC测试设备停机，本发明的防叠料IC测试设备有效避免了出现芯片堆叠而引起的芯片未测便流出的风险。另，本发明还公开了一种防叠料IC测试设备的测试方法。
防叠料 ic 测试设备及其方法

[发明专利]测量通道选择方法及装置-CN201911174097.7有效
发明人：方凌兰 -专利权人：威创集团股份有限公司
申请日： 2019-11-26 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G01R13/00 文献下载
摘要：该方法包括:当检测到触发器发送触发信号时，确定触发信号对应的目标测试通道，并启动计数器对触发信号进行计数；启动计时器进行计时，并在计时器的计时时间达到预设的计数时间时，获取计数器中当前的计数值；判断计数值是否为测试数值；若计数值为测试数值，则开启目标测试通道，并设置目标测试通道对应的目标波形曲线的测试参数，该测试参数用于测试该目标波形曲线。应用该方法，通过触发器的触发信号实现对目标波形曲线设置测试参数的过程，无需技术人员在经过点击菜单栏后从菜单栏中选择需要设置测试参数的测试通道，节约设置测试参数的时间，提高技术人员的工作效率。
测量通道选择方法装置

[发明专利]一种潜水泵流量测试装置-CN201911119352.8有效
发明人：王子新 -专利权人：徐州三源实业有限公司
申请日： 2019-11-15 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G01F11/28 文献下载
摘要：本发明涉及潜水泵的技术领域，特别是涉及一种潜水泵流量测试装置，其能够方便的对潜水泵的流量进行测试，便于对潜水泵进行了解，从而便于对潜水泵进行合理的使用，包括测试箱、水位计、计时器、控制箱、测试管、两组固定板、转动齿轮、传动杆、传动齿轮、蜗轮、蜗杆、连接杆和把手，测试箱的内部设置有测试腔，测试箱的顶部左侧连通设置有进水口，进水口的顶部连通设置有进水管，测试箱的右侧连通设置有出水口，出水口的右侧连通设置有出水管，水位计安装在测试箱内部的顶部右侧，计时器安装在测试箱的顶部右侧，控制箱的左侧固定在测试箱的右侧，控制箱的内部设置有控制腔，控制箱的左侧底部和右侧底部分别连通设置有两组测试口。
一种潜水泵流量测试装置

[发明专利]一种镜头测试数据处理方法、装置、设备及存储介质-CN202110456759.0有效
发明人：尹重建;张军;谢锦阳;邬金林 -专利权人：立臻科技（昆山）有限公司
申请日： 2021-04-27 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种镜头测试数据处理方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：从镜头的候选频率测试数据中获取目标频率测试数据；根据目标频率测试数据确定最高调制传递函数点；根据最高调制传递函数点和目标频率测试数据确定最高调制传递函数点预设范围内的目标调制传递函数点，以根据最高调制传递函数点和目标调制传递函数点构建镜头的目标频率调制传递函数曲线通过运行本发明实施例所提供的技术方案，可以解决一台测试设备仅能实现一种频率下解像能力的测试，若需要进行多种频率下解像能力的测试，需要购买多部测试设备，大大增加了镜头测试的成本和设备调试时间的问题，实现提高镜头测试数据处理的效率和降低镜头测试的成本的效果
一种镜头测试数据处理方法装置设备存储介质

[发明专利]一种IGBTKGD芯片的测试治具-CN202110748516.4有效
发明人：殷岚勇;徐亮;李亚鹏 -专利权人：苏州韬盛电子科技有限公司
申请日： 2021-07-02 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种IGBTKGD芯片的测试治具。本发明具有IGBTKGD芯片测试的效果，旋紧盖板设置在测试箱上，测试箱内设置有加热棒与温度感应电偶，加热棒上套有绝缘保护套，绝缘保护套为氮化铝材料，绝缘保护套安装在测试箱底板上，测试箱体内设置有调整垫圈，调整垫圈设置在调整垫圈安装板内，调整垫圈安装板下方设置有塑料绝缘块，塑料绝缘块下方设置有测试箱底板，测试箱底板下表面设置有上铜块，上铜块内设置有上铜块探针，测试箱体两端设置有卡扣，卡扣与测试箱体之间设置卡扣弹簧，测试箱下端设置有测量机座，测量机座内设置有下铜块探针组，测量机座两侧设置有进气口与出气口，进出气体为氮气，测试箱底板下表面设置有分流探针组。
一种 igbtkgd 芯片测试

[发明专利]一种骨架高压测试设备-CN202110746814.X有效
发明人：罗时帅;钱根;柳洪哲;朱文兵;钱曙光;汪炉生;陶磊;蒋朝伟;赵读伟;金元元 -专利权人：荣旗工业科技（苏州）股份有限公司
申请日： 2021-07-02 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：一种骨架高压测试设备，包括：定位载具，包括载具主体和抵紧组件，载具主体具有容置骨架的容置腔；以及测试机构，包括多组测试组件，测试组件包括可产生电压的测试头和驱动测试头靠近或远离骨架的驱动件，多个测试头朝向骨架的各测试面本发明能够自动对骨架的多个测试面进行测试，减少了人工劳动量，有效提高测试效率；定位载具通过推块配合磁性件的方式压紧骨架，结构简单，定位精确，骨架取放方便，进一步提高测试效率。
一种骨架高压测试设备

[发明专利]电池保护电路、电池组件、测试系统及电子装置-CN202011105770.4有效
发明人：宋利军;徐丹蓉 -专利权人：西安稳先半导体科技有限责任公司
申请日： 2020-10-15 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： H02J7/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种电池保护电路，包括：电源供电端、电源接地端、过放电压保护单元、控制单元、第一电阻、第一开关单元、第一测试焊点和第二测试焊点，还包括第一测试焊点、第二测试焊点电接地，第一测试焊点和第二测试焊点用于与测试单元电连接，当第一测试焊点和第二测试焊点与测试单元电连接时导通而导致电源供电端接收到的电压信号低于预设阈值电压，以使电池保护电路进入休眠模式，在休眠模式时所述第一开关单元断开以使电池停止向系统电路供电。本申请还提供一种电池组件、一种测试子系统、一种测试系统以及一种电子装置。本申请的优点为：可降低电池在运输存储过程中电流消耗，提升电池的电量保持时间，提升用户的体验。
电池保护电路组件测试系统电子装置

[发明专利]一种深海静力触探探头标定装置和方法-CN202010987440.6有效
发明人：夏林琪;罗侗利;吴华斌;李涛;祝汉柱 -专利权人：磐索地勘科技（广州）有限公司
申请日： 2020-09-18 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： E02D1/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种深海静力触探探头标定装置和方法，所述装置包括若干用于模拟深海环境对静力触探探头进行标定的标定机构、若干用于向标定机构提供压力的液压泵组、用于测试标定机构内的压力的液压阀组和控制器，所述标定机构包括用于模拟深海环境的水压测试舱、用于标定静力触探探头锥尖参量的锥尖测试组件和用于标定静力触探探头侧壁参量的侧壁测试组件，所述锥尖测试组件通过侧壁测试组件与水压测试舱连接，所述锥尖测试组件、侧壁测试组件和水压测试舱均通过液压阀组与液压泵组连接在本发明中，液压泵组通过液压阀组向水压测试舱中注入液体，使得水压测试舱中产生足够大的水压，以模拟深海环境。
一种深海静力探头标定装置方法

[发明专利]面向同步测试或类同步测试的探针转接件及插座匹配方法-CN202011365958.2有效
发明人：金永斌;贺涛;丁宁;朱伟 -专利权人：法特迪精密科技（苏州）有限公司
申请日： 2020-11-29 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明面向同步测试或类同步测试的探针转接件及插座匹配方法属于半导体测试技术领域；该方法包括插入待测试芯片，调整弯曲结构方向，插入转接探针，测试第一组转接探针，测试第二组转接探针，测试第三组转接探针，测试第四组转接探针，再调整弯曲结构方向和拔出探针转接件九个步骤；本发明方法不仅能够降低转接探针与插座的对准难度，不容易损坏转接探针，实现了拆装过程可逆，有利于进行重复性测试，而且还能够解决大电流下转接探针之间放电而造成短路的问题，更重要的是，同发明专利《一种探针及插座结构》及《一种探针及插座匹配方法》相比，能够实现对相同芯片进行同步或类同步测试，或对不同芯片进行类同步测试，节约重复性测试时间。
面向同步测试类同探针转接插座匹配方法

[发明专利]疲劳机、设备上下电测试系统及上下电测试方法-CN202111139710.9有效
发明人：施世磊 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2021-09-28 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及电子设备测试技术领域，公开了一种疲劳机、设备上下电测试系统及上下电测试方法。其中，该疲劳机包括：可控单元、开关单元、测试控制单元。可控单元与待测设备的电源装置连接，测试控制单元的第一使能端与可控单元连接，测试控制单元的输入端与所述待测设备连接，测试控制单元的控制端与开关单元的动端连接。测试控制单元基于动端与不动端的连接方式确定对应的性能测试，并基于其接收待测设备的状态信号控制可控单元与电源装置之间的通/断，以进行待测设备的上下电性能测试。通过实施本发明，实现了疲劳机对待测设备进行上下电性能测试的智能化，克服了机械开关失效率高、故障率高的问题，提高了疲劳机的使用寿命以及测试效率。
疲劳设备上下测试系统方法

[发明专利]显示面板的测试电路和显示装置-CN202111194931.6有效
发明人：杨维世;许益祯;王立苗;任春晖;唐榕;赵聪聪;郑浩旋 -专利权人：惠科股份有限公司
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种显示面板的测试电路和显示装置，测试电路包括：多条测试走线、多个第一主动开关和保护电路，测试走线包括高电平信号测试线、低电平信号测试线和至少一条测试信号线；第一主动开关控制测试信号线、低电平信号测试线和高电平信号测试线的导通与关断；高电平信号测试线还连接每一个第一主动开关的控制端；保护电路包括控制信号输入端和控制信号输出端，控制信号输入端分别与高电平信号走线、低电平信号走线连接，控制信号输出端与每一个第一主动开关的控制端连接；保护电路在显示面板正常工作时本申请通过上述方案，以解决改善测试走线短路的问题。
显示面板测试电路显示装置

[发明专利]一种电子产品老化自动测试平台及其测试方法-CN202111344271.5有效
发明人：孙伟;王红 -专利权人：枣庄智博智能科技有限公司
申请日： 2021-11-15 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种电子产品老化自动测试平台及其测试方法，包括测试箱体，测试箱体的内部设有至少两个测试腔，每个测试腔的内部均安装有测试板，每个的顶部均盖设有箱门，测试箱体的顶部位于箱门的两侧开设有凹槽，凹槽的内部滑动安装有母板，母板的顶部固定连接有滑座，箱门两侧固定连接的轴杆嵌入至滑座中并与之限位活动配合连接，每个测试腔的内壁上均固定连接有两个固定板，固定板的顶端沿竖直方向固定连接有第二气缸，第二气缸的顶端安装有用于支撑箱门的磁性滚轮，测试箱体的顶部位于两个测试腔之间固定安装有安装座，安装座的两端转动安装有与箱门下端面滚动连接的滚轮。本发明的电子产品老化自动测试平台可实现箱门的自动化开启和关闭。
一种电子产品老化自动测试平台及其方法

[发明专利]测试场景的处理方法、装置及计算机程序产品-CN202111441263.2有效
发明人：胡太群 -专利权人：腾讯科技（深圳）有限公司
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G05D1/02 文献下载
摘要：本申请实施例公开一种测试场景的处理方法、装置及计算机程序产品，可应用于自动驾驶领域；方法包括：在仿真系统中运行目标子测试场景，以使目标子测试场景中的主车开始行驶，目标子测试场景是通过调整基础测试场景的场景参数的参数值生成的；在目标子测试场景的运行过程中，确定主车在行驶过程中与目标子测试场景中的M个交通参与者发生碰撞所需的目标时空距离，并获取决策规划算法的边界时空距离；若根据目标时空距离和边界时空距离，确定目标子测试场景满足边界场景条件，则将目标子测试场景确定为安全边界测试场景。本申请实施例可以实现快速有效地生成安全边界测试场景，并降低安全边界测试场景的生成复杂度和生成成本。
测试场景处理方法装置计算机程序产品

[发明专利]一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统-CN201810503034.0有效
发明人：刘政林;王志强;李四林 -专利权人：置富科技（深圳）股份有限公司
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明涉及一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统，该方法包括将测试芯片与测试系统连接，以块为单位选择该测试芯片所要测试的块，并根据闪存芯片的封装不同，选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息，并将测试数据实时保存；利用寿命预测算法，根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命；对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据；根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据，单独或者组合判断筛选闪存芯片通过本发明，针对不同类型的闪存芯片，采用相应测试图形(pattern)进行测试，实现对不同封装、不同型号的闪存芯片的测试；且通过对闪存芯片存储块进行分级，根据存储块的分级实现对闪存芯片的分级，获得更准确
一种不同封装闪存芯片在线测试分类方法系统

[发明专利]回声消除功能的测试方法、装置及存储介质-CN202010229964.9有效
发明人：周萍;王展;胡小鹏 -专利权人：苏州科达科技股份有限公司
申请日： 2020-03-27 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： H04N21/442 文献下载
摘要：本申请涉及一种回声消除功能的测试方法、装置及存储介质，属于计算机技术领域，该方法包括：在当前时间到达第一播放时间时播放第一测试音频，以使第一待测终端将采集到的第一测试音频发送至第二待测终端；接收第二待测终端在第二播放时间发送的第二测试音频，并将第二测试音频发送至第一测试终端；接收并播放第一待测终端发送的第二测试音频；在当前时间达到预设采集时间时采集第一待测终端输出的音频信息；根据采集到的音频信息测试第二待测终端的回声消除功能；可以解决人工测试终端的回声消除功能的效率较低的问题；由于待测终端能够自动测试其它待测终端的回声消除功能，无需人工参与测试过程，因此，可以提高回声消除功能的测试效率。
回声消除功能测试方法装置存储介质