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[发明专利]测试装置及测试方法-CN200810304206.8无效
发明人：王仲培 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2008-08-26 - 公布日： 2010-03-03 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明提供一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置包括承载基板与电阻计，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点，所述多个收容孔用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。本发明还提供一种利用该测试装置的测试方法。
测试装置方法

[发明专利]晶圆测试系统及晶圆测试方法-CN202010999829.2有效
发明人：朱本强 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2020-09-22 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种晶圆测试系统及测试方法，该系统包括：依次连接的探针卡、ARM处理器及主控单元，探针卡具有至少两个接点；ARM处理器监控每个接点的测试状态信息，并将其传输至主控单元；同时接收主控单元的启停命令，以控制每个接点的开启、暂停或结束；主控单元根据测试状态信息获得启停命令；启停命令包括：控制已完成前一测试项的接点暂停，直至所有接点完成该前一测试项的测试，所有接点开启进行当前测试项；控制已完成当前测试项的接点暂停，直至所有接点完成当前测试项的测试，所有接点开启进行下一测试项；控制所有接点结束测试。通过不同接点间测试项的同步完成，保证不同接点在同一时间处于同一测试项，增强晶圆测试的精度，提高测试良率。
测试系统方法

[发明专利]测试座接口电路板-CN01140346.2有效
发明人：施光华;施正吾;曾文峰 -专利权人：旺宏电子股份有限公司
申请日： 2001-12-17 - 公布日： 2003-07-02 - 主分类号： H05K1/00 文献下载
摘要：一种测试座接口电路板。其适用于测试集成电路。此测试座接口电路板具有第一区信号线接点、第一区测试点、第二区信号线接点、以及第二区测试点。其中第一区信号线接点具有第一组信号线接点与第二组信号线接点。第一区测试点连接至第一区信号线接点。第二区信号线接点具有第三组信号线接点与第四组信号线接点。而第二区测试点连接至该第二区信号线接点。其中第一组信号线接点与第二组信号线接点左右对称，第三信号线接点与第四信号线接点左右对称。
测试接口电路板

[实用新型]一种一体控制的单一万用表电压电流基准采样电路-CN201721560417.9有效
发明人：刘桂利;邓振东;曹志文;朱立湘;尹志明;林军 -专利权人：惠州市蓝微电子有限公司
申请日： 2017-11-21 - 公布日： 2018-05-18 - 主分类号： G01R31/36 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种一体控制的单一万用表电压电流基准采样电路，包括主控板电路、若干测试板电路和电压及电流基准采样电路，主控板电路包括共用线路、电压测试线路和电流测试线路；各测试板电路包括输入端正极连接点、输入端负极连接点、输出端正极连接点、输出端负极连接点、采样点正极连接点和采样点负极连接点，输入端正极连接点和输出端正极连接点与电压测试线路相连接，输入端负极连接点、输出端负极连接点和采样点负极连接点与共用线路相连接，采样点正极连接点与电流测试线路相连接，主控板电路和测试板电路之间连接有继电器。本实用新型用于电池保护板电量管理时的电流和电压基准的测试。
一种一体控制单一万用表电压电流基准采样电路

[发明专利]堆叠式晶片的测试装置-CN201310088184.7有效
发明人：陈建名;吕孟恭 -专利权人：致茂电子（苏州）有限公司
申请日： 2013-03-19 - 公布日： 2013-07-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种堆叠式晶片的测试装置，用以测试一堆叠式晶片的一底部晶片，该底部晶片的上表面具有多个焊接点用以电性连接该堆叠式晶片的一顶部晶片的多个相对焊接点。该测试装置包含一测试头以及多个测试接点。该测试头内部具有该顶部晶片。该些测试接点设置于该测试头的下表面，电性连接于该测试头内部的顶部晶片的该些相对焊接点，其中，当该测试头的下表面接触该底部晶片的上表面时，该些测试接点电性连接该些焊接点，以对该底部晶片进行测试。
堆叠晶片测试装置

[发明专利]一种模拟铁路信号继电器整机接点电阻测试方法-CN202111163889.1在审
发明人：王霖峰;丁文彦;韩玺;彭正荣;周飞;李慕尧;凌德鹏;韩笑;孙刚刚 -专利权人：西安铁路信号有限责任公司;通号（西安）轨道交通工业集团有限公司
申请日： 2021-09-30 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种继电器接点电阻测试方法，特别是一种模拟铁路信号继电器整机接点电阻测试方法，它不用组装调试继电器整机就可以模拟整机接点压力和接点电流测试依据四线制测试接点电阻，将有问题的接点通过这种测试方法提前发现，使继电器接点电阻风险问题前移，避免因组装调试后才发现接点电阻不合格，引起批量整机拆装工时和接点单元的浪费，从而大大节约生产成本。
一种模拟铁路信号继电器整机接点电阻测试方法

[实用新型]一种模拟铁路信号继电器整机接点电阻测试装置-CN202122400453.1有效
发明人：王霖峰;丁文彦;韩玺;彭正荣;周飞;李慕尧;凌德鹏;韩笑;孙刚刚 -专利权人：西安铁路信号有限责任公司;通号（西安）轨道交通工业集团有限公司
申请日： 2021-09-30 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种继电器接点电阻测试装置，特别是关于一种模拟铁路信号继电器整机接点电阻测试装置，它不用组装调试继电器整机就可以模拟整机接点压力和接点电流测试依据四线制测试接点电阻，将有问题的接点通过这种测试方法提前发现，使继电器接点电阻风险问题前移，避免因组装调试后才发现接点电阻不合格，引起批量整机拆装工时和接点单元的浪费，从而大大节约生产成本。
一种模拟铁路信号继电器整机接点电阻测试装置

[发明专利]一种芯片测试板及芯片测试的方法-CN201610948971.8有效
发明人：刘浩东;时小山;刘宗文 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2016-10-26 - 公布日： 2019-02-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种芯片测试板，用于避免对待测试芯片结构的破坏并降低成本。本发明实施例的芯片测试板包括：基板和位于基板内部的传输线；基板顶面设置有第一连接点，第一连接点用于连接待测试芯片，基板底面设置有第二连接点，第二连接点用于连接测试顶针，传输线与第一连接点和第二连接点分别连接，传输线在基板中弯折；其中传输线通过第二连接点从测试顶针接收测试所需的激励，以及通过第一连接点向待测试芯片传输激励，或者传输线通过第一连接点从待测试芯片接收目标输出结果，以及通过第二连接点向测试顶针传输目标输出结果，该目标输出结果是根据待测试芯片接收的激励得到。本发明实施例还提供一种芯片测试系统和芯片测试的方法。
连接点传输线待测试芯片芯片测试板测试顶针测试芯片输出结果芯片测试基板芯片测试系统顶针传输目标基板底面基板顶面基板内部接收测试接收目标连接测试目标输出弯折传输

[发明专利]天线测试治具与天线测试系统-CN202011287730.6在审
发明人：曾士齐;刘祐成 -专利权人：环旭电子股份有限公司
申请日： 2020-11-17 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开一种天线测试治具与天线测试系统。天线测试治具包括电路基板、同轴接头、一个信号接点及两个接地接点。同轴接头耦接于电路基板。信号接点设置在电路基板，且信号接点电性连接同轴接头。两个接地接点设置在电路基板。信号接点位于两个接地接点之间。信号接点与两个接地接点是沿着电路基板的边缘呈线性排列。天线测试系统包括测试装置、第一天线组件、第一同轴缆线、第二天线组件、天线测试治具、第二同轴缆线、探针组件以及第三同轴缆线。
天线测试系统

[实用新型]用于应急智能转换柜的测试单元-CN201020619731.1有效
发明人：杨潇 -专利权人：湖州九州信义科技有限公司
申请日： 2010-11-23 - 公布日： 2011-06-15 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于应急智能转换柜的测试单元，其特征在于包括测试板、电源板以及母板，测试板包括主备测试开关、主机接点指示电路、备机接点指示电路，主机接点指示电路与主机用户线连接，备机接点指示电路与备机用户线连接，用户线与主机接点指示电路、备机接点指示电路均连接，主备测试开关与主备转换控制线连接，主机用户线、备机用户线和用户线均与测试板连接，电源板与测试板和母板均连接。本实用新型每个测试单元包括两块测试板。本实用新型结构简洁，方便实用，测试时只要转换主备测试开关，就可显示每对线路在主机和备机的继电器接点通断状态。
用于应急智能转换测试单元

[发明专利]用于半导体器件测试的测试装置-CN201210206597.6无效
发明人：叶守银;刘远华;余琨;王锦;陈燕 -专利权人：上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2012-06-21 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于半导体器件测试的测试装置，所述半导体器件的下表面设有多个连接点，所述用于半导体器件测试的测试装置包括：一上表面设有多个连接点的测试板，一用于夹持所述待测半导体器件的测试夹具以及一位于所述待测半导体器件与所述测试板之间并连接所述待测半导体器件的连接点与所述测试板的连接点的导电栅格，通过导电栅格增大了所述待测半导体器件的连接点与所述测试板的连接点的接触率，从而提高测试准确性。
用于半导体器件测试装置

[发明专利]测试用电路板及其操作方法-CN201710800963.3在审
发明人：曾胜煜 -专利权人：新加坡商美亚国际电子有限公司
申请日： 2017-09-07 - 公布日： 2019-03-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试用电路板及其操作方法，用于将测试机台的测试接点集中设于电路板本体的外围区域，并对应该测试接点周围设置多个第二电性转接点，以及对应探针周围设置多个第一电性转接点，并使该第一电性转接点及第二电性转接点通过电路板本体的线路连接，以供电性检测时，仅需将测试接点电性连接至周围的第二电性转接点，即可使测试信号传送至待测装置，避免悉知公板结构利用跳线方式所造成信号传递品质不良问题。
电性转接测试接点电路板电路板本体测试信号传送测试不良问题测试机台待测装置电性连接跳线方式外围区域线路连接信号传递供电性公板探针检测

[发明专利]发光二极管晶圆以及发光二极管晶圆检测装置与方法-CN201911392345.5在审
发明人：廖建硕;张德富;卢俊安 -专利权人：台湾爱司帝科技股份有限公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：发光二极管晶圆包括一晶圆基底以及设置在晶圆基底上的多个发光二极管芯片、多个测试用正极线路层、多个测试用负极线路层、多个测试用正极接点以及多个测试用负极接点。每一发光二极管芯片的一正极接点与一负极接点分别电性连接于相对应的测试用正极线路层与相对应的测试用负极线路层。多个测试用正极接点分别电性连接于多个测试用正极线路层，多个测试用负极接点分别电性连接于多个测试用负极线路层。借此，让电流由多个测试用正极接点输入后，再从多个测试用负极接点输出，以便于激发每一发光二极管芯片产生一光源。
发光二极管以及检测装置方法

[实用新型]板级天线状态检测电路-CN201721196872.5有效
发明人：牛晓光 -专利权人：歌尔科技有限公司
申请日： 2017-09-18 - 公布日： 2018-06-01 - 主分类号： G01R31/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种板级天线状态检测电路包括电路板、通过焊接点与电路板连接的板级天线、测试电路和与测试电路相连的提示装置，焊接点包括第一焊接点和与第一焊接点相连的第二焊接点；其中，在第一焊接点上设置有第一测试点，在第二焊接点上设置有第二测试点，第一测试点与电源相连，第二测试点与板级天线的发射极相连；测试电路与电源相连，用于测试第一测试点与第二测试点的连接状态；提示装置用于在第一测试点与第二测试点的连接状态为导通状态时给出提示通过本实用新型能够准确检测焊接点的焊接状态，避免焊接不良问题，进而提高蓝牙设备的品质。
测试点焊接点测试电路板级天线状态检测电路本实用新型连接状态提示装置天线电源电路板电路板连接导通状态焊接不良焊接状态蓝牙设备准确检测发射极种板提示测试

[发明专利]薄膜开关电路的测试系统-CN201410245904.0有效
发明人：张倍铭 -专利权人：致伸科技股份有限公司
申请日： 2014-06-04 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本发明关于一种薄膜开关电路的测试系统，其包括一测试模块以及一连接元件。连接元件可连接薄膜开关电路以及测试模块。测试模块用以测试该薄膜开关电路中对应于多个按键接点的多个接点电阻值。测试模块包括控制单元以及多个固定电阻。该控制单元具有一预设电阻值，用以辨识按键接点，或根据该接点电阻值与该预设电阻值而判断相应该按键接点是否通过测试。当按键接点被触压时，该按键接点与相对应的该固定电阻形成一等效电路，且该控制单元由该等效电路中获得该接点电阻值，而判断该按键接点是否通过测试。本发明具有不需以人力测量薄膜开关电路且符合成本效应的优点。
按键接点薄膜开关电路测试模块接点电阻测试系统等效电路固定电阻连接元件测试电阻预设测量薄膜成本效应开关电路可连接辨识触压

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